Metro Clase10 Mediciones Interferométricas

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MEDICIONES INTERFEROMÉTRICAS Aplicaciones Control de bloques patrón: longitud, paralelismo, planedad Comprobación de patrones de presión Mediciones de alta precisión para pequeñas deformaciones Control de planedad de superficies y palpadores Mediciones dimensionales de muy alta precisión Accesorios o Instrumentos de medición: Cristal plano paralelo, interferómetros, rugosímetro. Basadas en el fenómeno de interferencia luminosa Conociendo la longitud de onda de la luz (λ) empleada, pueden medirse pequeñas distancias analizando las interferencias producidas λ (= radiaciones de la luz blanca): 0,4 a 0,7 μm Tales radiaciones resultan apropiadas para mediciones dimensionales de muy alta precisión

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Fabricacion, mar del plata

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  • MEDICIONES INTERFEROMTRICAS

    Aplicaciones

    Control de bloques patrn: longitud, paralelismo, planedad Comprobacin de patrones de presin Mediciones de alta precisin para pequeas deformaciones Control de planedad de superficies y palpadores Mediciones dimensionales de muy alta precisin Accesorios o Instrumentos de medicin: Cristal plano paralelo,

    interfermetros, rugosmetro.

    Basadas en el fenmeno de interferencia luminosaConociendo la longitud de onda de la luz () empleada, pueden medirse pequeas distancias

    analizando las interferencias producidas

    (= radiaciones de la luz blanca): 0,4 a 0,7 m

    Tales radiaciones resultan apropiadas para mediciones dimensionales de muy alta precisin

  • LA LUZ

    La luz es una radiacin que se propaga en forma de ondas Longitud de onda : camino de 1 perodo de vibracin La propagacin de ondas de igual procedencia (= ), segn un camino

    comn, durante un cierto tiempo origina un tren de ondas La luz se propaga en lnea recta Luz blanca: compuesta por radiaciones de colores y . Espectro desde

    el rojo ( 0,7 m) al violeta ( 0,4m) Radiaciones estables para condiciones particulares de t, p, y H ambiente

  • Interferencia Luminosa Un tren de ondas formado por 2 ondas de igual procedencia (= , de camino

    comn) con amplitudes a1 y a2

    Concordancia de fase: incremento de luz

    a = a1 + a2 si a1= a2 la luminosidad ser el doble

    Desfasaje /2 (Oposicin de fase): menor intensidad

    a = a1 - a2

    Para a1= a2 (oscuridad total) interferencia luminosa

    Caso general: desfasajes cualesquiera, y infinitas alternativas

  • Desdoblado del Tren de ondas

    Diferencia de caminos recorridos

    Reagrupamiento

    Obtencin de interferencias (uso del cristal plano-paralelo)

    En fase Oposicin

    Con las variaciones de h, vara el camino recorrido (2h)

    Zonas A y C: hA= /2 y hC= camino recorrido y 2 , respectivamente: En fase

    Zona B: hB= camino recorrido 1 : En oposicin

    En fase: imagen luminosa

    En oposicin: imagen oscura

    M-M: cara inferior del cristal

    Distancia MM a superficie observada del orden de los micrones (h): Cua de aire

  • Otro modo de anlisis1. 2 rayos incidentes: Q y P

    En O, se percibir una concordancia o una oposicin de fase (dependiendo de h)

    Si: eba = n . , habr concordancia de fase y aumento de luz.Si: eba = n . = (n ) , habr oposicin de fase y oscuridad.

    Con incidencia normal a C: eba = 2h - Si h = / 4, eba = /2 y habr sombra en a.

    2. Debajo de C hay una serie de planos brillante paralelos (M1, M2, .......) a una distancia /4

    Sombra en a para los planos: M1 pues: h1 = /4, y eba = / 2 M3 pues: h3 = 3 /4, y eba = (1+ ) M5 pues: h5 = 5 /4, y eba = (2+ )

    Luz intensa en a, para los planos: M2 pues: h2 = / 2 y eba = M4 pues : h4 = 2 / 2 y eba = 2 M6 pues : h6 = 3 / 2 y eba = 3

    cristal

    objeto

  • 3. Debajo de C se coloca un plano brillante inclinado respecto a C, formando una cua de aireEl plano corta las superficies de nivel (M1, M2, ...) equiespaciadas entre s /4

    Al observar por encima del cristal:

    En las zonas m, n y p aparecern bandas de sombra, y en las zonas intermedias bandas de luz.

    Si el plano inclinado en el ngulo es de planedad perfecta, las bandas sern equidistantes, paralelas y rectilneas.

    Para mayor inclinacin , las bandas se acercarn entre s, conservando su disposicin

    IMPORTANTE: El desnivel entre dos bandas oscuras, equivale a /2 de la luz utilizada.

    Con luz blanca, = 0,6m (marron), la distancia entre bandas oscuras corresponde a un desnivel de 0,3 m

  • Requisitos del cristal y de la luz El cristal puede tener fallas de planedad, pero no se tienen en cuenta por ser generalmente menores a 0,1 m y normalmente a 0,05 m. Por lo tanto, las irregularidades o diferencias de nivel, son atribuibles exclusivamente al plano que se verifica. Si el plano degenera en una superficie curva, las franjas no guardan equidistancia y su forma irregular, revela los defectos de la superficie. Materiales: cuarzo fundido o vidrio ptico, de mxima transparencia y pulido especular. Se obtiene buena definicin de las bandas y mayor contraste entre las claras y las oscuras, con luz monocromtica.

    Longitudes de onda (Ansgstrom:0,0001m)Colores de Espectro Helio Criptonio Cadmio

    Rojo 0,66781 0,645632 0,643850

    Amarillo 0,58756 0,587094

    Verde 0,501570 0,508584

    Azul 0,471316 0,479993

    Violeta 0,1447150 0,450237 0,468Luz monocromtica: Un tubo lleno de un cierto gas (He, etc.) alimentado con una tensin, emite radiacin de una cierta longitud de onda

  • Requisitos para obtener bandas de interferencia

    Superficies muy pulimentadas (error de planedad < 2 m) Las franjas deben estar separadas entre s por lo menos 3 mm y se debe disponer, como mnimo, de 3 franjas.

    Excesiva cantidad de franjas, aparecern muy juntas dificultando su apreciacin.

    Ejemplo: La diferencia de altura entre los bloques R y S h=0,01mm, generar 30 franjas en el ancho de 10mm (no distinguibles)

    cristal

    R S

    Plano de apoyo

    h

    10 mm

    Luz de helio =0,589 m

    R: bloque de referencia

    S: bloque bajo control

  • Interpretacin de la medicinEl cambio del medio de propagacin aire a placa produce retraso de

    la 1ra. banda oscura se produce a /2 (no a /4) Desnivel h = n x 0,3m

    n: N de bandas oscuras

    A: convexidad de magnitud: x 0,3m = 0,08 m

    B: concavidad de magnitud: x 0,3m = 0,08 m

    C y D: idem A y B en direc. transversal

    E y G: Sup. planas (bandas rectas). G: menor inclinacin

    F: Inclinacin a la izq. De magnitud /2= 0,5 m

    Irregularidad no unif.

    Esfera

  • Aplicacin de mediciones con cristal de interferencia y ayuda de bloques patrn.

    Ejemplo: Control de un calibre macho cilndrico

    H: medida del bloque patrn

    BH= desnivel (4 franjas 0,3 m c/u)

    D y d: posibles dimensiones del calibre ( > o < h)

    L LL

    MrmolDd

    E

    CB

    AF

    GH

    Cristal

    h

    d D

    D > h BH = 4 x 0,3 = 1,2 m. y D = h + 2,4 m (suponiendo luz blanca).

    d < h EC = BH. Pero la diferencia sera negativa y de slo 1,2 m.

    d = h - 1,2 m

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