Otras técnicas LA-ICPMS SHRIMP (SIMS, iones secundarios) 100 um ID-TIMS.

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Otras técnicas • LA-ICPMS • SHRIMP (SIMS, iones secundarios) 100 um ID-TIMS

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Otras técnicas• LA-ICPMS• SHRIMP (SIMS, iones secundarios)

100 um

ID-TIMS

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SIMS (microsonda iónica y SHRIMP)• Técnica que usa electrones secundarios emitidos por la muestra pulida y montada, una vez golpeada por un haz de iones primarios. El detector es un espectrómetro de masa de tipo “double focussing” (electroestático y magnético).

•Microsonda iónica: Cameca (e.g., UCLA)

•SHRIMP: Australia, Canberra, también Stanford

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• Problema de SIMS: interferencia de iones cuales HfO2

+ misma masa que los isótopos de Pb (interferencia isobárica)

• Se requiere de un radio de curvatura muy largo para dar resolución espacial elevada y permitir la separación de los isóbaros en el espectrómetro

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Ejemplo: análisis de zircones muy antiguos, en Australia

Y estos?

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Zircones reversamente discordantes• Fenómeno relativamente común: se debe a

pérdidas de U o ganancia de Pb• Ganancia de Pb puede ocurrir, si Pb

radiogénico extraño al zircón entra en la red cristalina (e.g, en los agujeros causados por daño por radiación)

• Pérdida U: Posiblemente, más que pérdida de U, la discordancia inversa se debe a migración de Pb radiogénico en los dominios de Zr, y la variación improvisa de la relación U/Pb

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Fechamiento por 207Pb/206Pb (Kober)

• Conocido como método de evaporación

• Se enrolla un zircón en un sistema de doble filamento

• Se calienta por pasos, similarmente a cuanto se hace por Ar• El zircón evapora, y el Pb se deposita en el filamento central. De allí se ioniza y se mide la relación 207/206• Luego se procede a otro paso de evaporación – ionización a T mayor

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• Se obtienen resultados con seudo-plateaux, y pérdida de Pb a las T de evaporación más bajas.

• Claramente no se pueden medir rel. De U ya que éste se ioniza a T más elevada.

• Los plateaux se interpretan como representantes de edad concordantes.

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LA-ICPMS• Combinación de un láser con una ICP-MS

• Permite el micromuestreo de un área en el cristal, la nebulización con He y Ar al ICP

• Se fecha una zona de aprox 30-40 um en un zircón, por unos 15-20 um de profundidad.

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sample holder

Fused silica glass

Ar

Ar

to ICP-MS

“squid”

cylinder

“boxsmother”

Ar+

Sample+He

He He

Ar

Ar+

Sample+He

Cellbypass

5-10 ml5-10 ml

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Esquema de ICP-MS cuadrupolo

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• Se colectan las relaciones isotópicas, aprox. Por unos 180 segundos

Edad TIMS (2 sigma): 1065±0.7 Ma

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Tipo de edades obtenidas por LA• Si los cristales son jóvenes, sólo edades

206/238;

• Si los cristales son más viejos que ~ 800 Ma, 206/238 y 207/235 posible checar la concordancia;

• Para estadística (estudios de procedencia) 60 edades concordantes

(aprox 100 análisis).

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Pros y consID-TIMS SHRIMP LA-ICPMS

Costo eq USD 800 K ~ 4 millones 400-1 mill.

Lo tenemos? Sí No ~ sí

Tiempo analísis 1 muestra

10 días 1 día 3-4 horas

Vol. Analiz. 1 grano (o parte de)

15x2 um 40x20 um

Precisión 2 < 0.5 % 1-5% 2-10%

Costo aprox 1 muestra

1,200 USD

(6-7 pts)

1,700 USD

(1 día uso)

800-1,500 USD