Estadisticas de Innovación en Español

5/11/2018 Estadisticas de Innovaci n en Espa ol - slidepdf.com

http://slidepdf.com/reader/full/estadisticas-de-innovacion-en-espanol 1/179



Manual de estadísticas

de patentes de la OCDE



ORGANIZACIÓN PARA LA COOPERACIÓNY EL DESARROLLO ECONÓMICOS

L OCDE é, 0 , q z. L OCDE - z , , q - . L Oz q - , , .

L OCDE A, A, A, Bé,C, C, D, Eñ, E U Aé, F, F-, G, H, I, I, I, J, L, Mé, N,N Z, P B, P, P, R U, R Ch, R- E, S, Sz Tq. L C C E- OCDE.

L OCDE Oz. É -, , -, ,

.

P OCDE é é :OECD Patent Statistics Manual (OCDE 009)

Manuel de l’OCDE sur les statistiques des brevets (OCDE 009)

© 009 Oz C D E (OCDE), P.

© 009 O Eñ P M (OEPM) ñ.P OCDE, P.

I : © R Hh/Sk/G IT: OEPM, Eh A Péz-Iz

L h ñ - O Eñ P M. L OCDE z - h q .

N , ñ , -, ,

é, q, , , z .



manual de estadísticas de patentes de la ocde © oepm 3

Prólogo

El presente manual ha sido elaborado por la Secretaría de la OCDE conjuntamentecon el grupo de trabajo de Expertos Nacionales en Indicadores de Ciencia y Tecnología(NESTI) con el fn de acilitar a los usuarios y productores de estadísticas de patentesdirectrices básicas para la compilación y el análisis de este tipo de datos.

La importancia que el organismo concede al uso de estadísticas sobre patentes

se remonta a fnales de los años 70. La OCDE publicó una primera edición de estemanual en 1994. En la conerencia “Blue Sky”, desarrollada en 1996 por esta organi-zación sobre “Nuevos indicadores de ciencia y tecnología para una economía basadaen el conocimiento”, los expertos identifcaron las patentes como una vía prometedora

para mejorar el conocimiento cuantitativo de las actividades de ciencia y tecnología(C&T), en un contexto económico y de políticas cambiantes que evoluciona con granrapidez. Desde entonces, el trabajo estadístico en materia de patentes ha avanzadomucho, tanto en la OCDE como en los países miembros y en el entorno académico, yel presente manual hace eco de estos avances.

Este trabajo muestra cuándo conviene usar las estadísticas de patentes y cuán-

do no, y cómo se deben contabilizar éstas para obtener la máxima inormación sobrelas actividades de C&T, reduciendo al mínimo las “intererencias” y sesgos. Los datosde patentes orecen una visión prounda de los procesos y resultados de las inventi-vas (por ejemplo, la localización de las labores inventivas, las redes de creación, lastecnologías emergentes, etc.). Combinados con otros tipos de datos, orecen un apoyo

para el análisis de otras dimensiones de la innovación que resultan de interés en laelaboración de políticas, tales como el papel que juega la propiedad intelectual en elcrecimiento económico, en la capacidad empresarial y el seguimiento de los vínculosen el interior del sistema de C&T. Sin embargo, los indicadores basados en patentesadolecen de diversas debilidades y, por tanto, es necesario diseñarlos e interpretarloscon atención; de ahí la necesidad del presente manual.

El Manual de Patentes orma parte de la amilia de los manuales Frascati de laOCDE, que abordan la medición de las actividades científcas y técnicas, junto con elManual Frascati (de I+D), el Manual de Oslo (sobre innovación) y el Manual Canbe-rra (de recursos humanos para S&T), de los cuales los dos últimos han sido publica-dos conjuntamente con Eurostat. Estas publicaciones son el resultado del trabajo dela OCDE y de su grupo de expertos nacionales para conceptualizar las actividades deS&T y desarrollar métodos estadísticos de medición de sus aspectos más pertinentes,siguiendo líneas acordadas a escala internacional.

Aw Wk

D C,T I,OCDE

F G

P NESTI,

W Zk

A P NESTI

prólogo



manual de estadísticas de patentes de la ocde © oepm4

Agradecimientos. La redacción del Manual de Estadísticas de Patentes de la OCDEha sido responsabilidad de Pluvia Zúñiga y Dominique Guellec (OCDE), con contri-buciones de Hélène Dernis, Mosahid Khan, Teruo Okazaki y Colin Webb (OCDE). Unaversión preliminar ue objeto de revisión por parte de organismos nacionales e inter-nacionales implicados en la concesión de patentes (la Ofcina Europea de Patentes, laOfcina Japonesa de Patentes, la Ofcina de Patentes y Marcas de Estados Unidos yla Organización Mundial de la Propiedad Intelectual); por parte de grandes usuarios

de datos de patentes (Eurostat, la Fundación Nacional para la Ciencia de EstadosUnidos y el NISTEP japonés); y por parte de un grupo de expertos internacionales eneste campo, entre los que se incluyen el Proesor Akira Goto (Fair Trade Commission,

Japón), el Proesor Stuart Graham (Georgia Tech, Estados Unidos), Françoise Laville(Observatoire des sciences et techniques, Francia), Catalina Martínez (CSIC-ConsejoSuperior de Investigaciones Científcas, España), el Proesor Ulrich Schmoch (FhG-ISI,Alemania) y el Proesor Jun Suzuki (Institute or Future Technology, Japón). La traduc-ción al español ha sido revisada por Esther Arias (OEPM), Pluvia Zúñiga y CatalinaMartínez.

prólogo




Prólogo ..................................................................................................................

Agradecimientos .................................................................................................

Capítulo 1. Objetivos y contenido del manual.................................................. 1

R ............................................................................................................. 18

Capítulo 2. Las patentes como indicadores estadísticosde ciencia y tecnología .................................................................... 19

I .................................................................................... 0.. F ........................................ 0

V ..................... 1F ...................................... E ......... 7D é ............................................. 7D ........................................ 8

H .................................................................... 8L ................................................................ 9B ............................................................. T ..................................................................

N ..................................................................................................................... 7

R............................................................................................................ 8

Anexo 2.A.1 ............................................................................................................ 41

Capítulo 3. Sistemas y procedimientos de patentes ........................................ 7I ..................................................................................... 8E .......... 9Az ...................................................................................... E ..................................................... P ........................................ 6USPTO ................................................................................................ 8JPO ...................................................................................................... 60OEP ..................................................................................................... 61S ....................................... 6E .................................................................. 6E T C M P ...................... 6

.1.........

..1....

....6.

.7..8.

.1...

..1.

...

....1.......

....1....

Índice

índice




N ..................................................................................................................... 66

R............................................................................................................ 68

Capítulo 4. Criterios básicos para recopilar indicadoresbasados en patentes ......................................................................... 69

I ..................................................................................... 70L h ..................................................................... 71P ............................................................................. 7S PCT ................................................................................. 7R PCT ..................... 7R PCT ............................ 78Az ................................ 78F ........................................................................ 8

I z ................ 8N ..................................................................................................................... 86

R............................................................................................................ 87

Anexo 4.A1............................................................................................................. 89

Capítulo 5. Clasicación de patentes según dierentes criterios ................... 9

I ..................................................................................... 96C ....................................................................... 96E C I P ................. 98

L ..................................... 100L z ..................................... 10C ................................................................ 10C ....................................................................... 106S ................................................................... 109P ..................................................................... 111P ............................................... 11

N ..................................................................................................................... 11

R............................................................................................................ 116

Capítulo 6. El uso y análisis de las citas en las patentes................................ 119

I ..................................................................................... 10¿Qé ? ........................................................................... 10U ............................ 11P ............. 1I .......................................................... 16A ................................................... 16I ................................................ 18I ..................................................... 10L (NPL)............................................................. 1

O ( q OEP PCT) ....................................... 16

.1.......

..1.......

..

.6.

.1...

..1.

.............6..7.

6.1.6..6..6..6..

6..1.6...6...

6.6.

6.7.

índice




N ..................................................................................................................... 17

R............................................................................................................ 19

Capítulo 7. Indicadores de la internacionalización de la ciencia y la tecnología.................................................................................... 11

I ..................................................................................... 1I ....................................................................................... 1T z ................................... 1C . ........... 1V z CT .......... 16E ............................... 18

N ............................................................................................................ 10

R............................................................................................................ 10

Capítulo 8. Indicadores del valor de una patente ............................................ 11I ..................................................................................... 1C ............................................................................... 1I ..................................................... 1E .......................................... 1R ................................................................... 16Tñ .................................................. 19O ............................................................................. 16E ........................................................ 16E é .......................................................... 16E ...................................... 16O .......................................................................... 16

N ..................................................................................................................... 16

R............................................................................................................ 166

Glosario ................................................................................................................. 169

Lista de cuadros

U .......................................................................... 17

C ..................................................... 0

P A ADPIC........................

M z ................................................ 80

Mé z ......... ............................................................... 81

O ............................ 90

O () ...... 91E q. E (Hh y otros, 006) ........................ 1

7.1.7..

7..1.7...7...

7..

8.1.8..8..

8..1.8...8...

8..8..1.8...8...8...

1.1.

.1.

..

.1.

..

.A1.1.

.A1.1.6.1.

índice




D ................... 18

R .................... 160

U ( ):

................................ 161Lista de tablas

D .......................................................... 7

D ( OEP ) , 000 .................................................................... 9

C OEP ....................... 9

C CIP () ..... 98E / z ................... 110

F (USPTO OEP) ....................................................... 1

F é USPTO OEP( ) .......................................... 1

F

USPTO OEP ...................... 1C OEP PCT ................................... 16

P .................................................... 17

P (h 000) ......................................................... 18

Lista de grácos

P OEP......... 1M JPO .................................................................

P USPTO ......................................................................

P PCT .....................................

P ñ .........

C PCT ......................................... 6

C , 00 ...................................... 7

.A.1..A..

.A..

.A..

.A..

.1.

.1.

7.1.

8.1.

8..

.1.

.A1.1.

.A1..

.1...

6.1.

6.

6..

6..

8.1.

8..

índice




P PCT OEP ..................................................... 77

C PCT, 00 ........................ 79

C -PCTq , 00-00 ................................ 79

T , 00 ........................ 8

E , ....... 8

F PIB, 00............. 86

F h 00 ................................................................... 86

T é ,

PCT, 1987-00 ...................................................................... 97

C é , 000-00 ......................................... 101

P é é , 000-00 .................................... 101

Í z OEP, 000-00 ...................................... 10

P I+D ,

PCT 00-00 ........................................................................... 106P TIC E, E U J ....................................................................................... 108

P NPL , q PCT 1990-00, CIP ...................................................................... 1

P NPL – 1990-00, ......................................... 1

P NPL –TIC 1990-00,

............................................................ 1L z . S PCT, 1990-00...... 1

T .S PCT 1991-00 ....................................................... 16

T . S PCT, 1991-00 ................................... 17

C PCT z .......................................................................... 10

..

..

..

..

.6.

.7.

.8.

.1.

..

..

..

..

.6.

6.1.

6..

6..

7.1.

7..

7..

7..

índice




Siglas

ADPIC: A Oz M C(OMC) A Dh P I R C (TRIPS)

AFA: A F A D (B )

ARIPO: A R I P Oz(Oz P I RA)

BEA: B E A (O AE, E U)

CAFC/TACF: C A h F C (T A C F, E U)

CIIU: C I I U

CIP: C I P

CIP: C--P (C P)

CIPO: C I P O(O C P I)

CNAE: C A E A U E

CPE/EPC: C P E (E P

C)DPMA: Dh P- Mk (O A

P M)

ECLA: E C S (CE P)

EPLA: E P L A (A M L R P E)

FhG-ISI: Fh I S I

Rh (I Fh I I S)

siglas




GATT: G A T T (AG A A C)IBI/ISR I Bq I (ISh R)

IBI/ISR: I Bq I(I Sh R)

IIP: I I P (I P I, J)

INID: I h h (I NéIN A M D B)

INPI: I N P I (F)IPRP: I

(E P)

ISA/ABI: I Sh A (A Bq I)

NAICS: Nh A I C S (S C A E E U)

NBER: N B E Rh (ON I E, E U)

NISTEP: N I S Th P(I N P M C T, J)

NSF: N S F (F N C, E U)

NT: N T

NUTS: N U TE (U E)

OCDE: Oz C DE

OEP/EPO: O E P (E P O)

OEPM: O Eñ P M

OMC: Oz M C

OMPI/WIPO: Oz M P I(W I P Oz)

siglas




OST: O S Thq(O C Té, F)

PATSAT: B D G E P

(OEP)PCT: P C T (T C

M P)

PyMEs: Pqñ

SIC: S I C (C E C I, E U)

SIPO: S I P O (O E P I, Ch)

STAN: S A ( OCDE)

TIC: T I C

UE: U E

USPC: U S P C S (S C P E U)

USPTO: U S P Tk O (OE P M)

WOISA/ OE PCT: W h I hh ( q )

siglas



13

Capítulo 1

Objetivos y contenido del manual



1. objetivos y contenido del manual


L q z (CT) - , .

J , (I+D) ,

, ., . L CT, z (I+D, ,) h , - . D q é é q . E “F” OCDE, q Manual de Frascati I+D, Manual de Oslo sobre innovación, el Manual de la Balanza de Pagos

Tecnológica (TBP) y el Manual de Canberra h - .

L h z CT. D ñ z Jk Shk, q z - . P, é - . E 198, OCDE CT -

. Y , CT h . C é é, Z Gh 1990 - q h , q h . P é, OCDE Ma-nual de Patentes 199. Y, , z h - . S, h

z . O é q q z h - , O E P





ñ 006 B D G P OEP (PATSTAT),q z .

L q , , -. P q ,h , - z. L - -. L , q , z q, , -

( , -, .). E , . J q ñ - , .L ( , é q ) - . G q , é z

( , z , - qñ, ñ q , .). Té q , h ( ).

O - . É - q

, , é z . E I. Y q é - q , h z. L z .N h q h - , 18 . P ,

- , .





L é , z . N , q ñ . A,

- . Té q , q é h q -z. P q , , -ñ, qñ. O qé é é , .

L . E - q ñ h , - . L , é (q ), ( ) , status h -

(-, , , .). A, - ( , , , é).

C , h q z . P , h q - , , , -

. P : i) , ii) ( ) . N , q q h z . E -, , h z q . E q : a) q - CT, b) q

, .





E OCDE 199 ( : ) q z

. E - , ñ , q . Té - q h . D 199, h , . E , , OCDE G T E P . L

O E P (OEP), O J P (JPO), O E P M (USPTO, é), Oz M P- I (OMPI), E F N CE (NSF, é).

C 1.1. Una muestra de las estadísticasmás recuentes sobre patentes

I. Publicaciones de CyTE U(006): Indicadores de Ciencia e Ingeniería (NSF-N SF).

P / .P .

J (00): Indicadores de Ciencia y Tecnología (I N P C T-NISTEP).

N q .

E (007): Statistics in Focus, , E.

P OEP USPTO .F .

OCDE (): Compendio de Estadísticas de Patentes.F , TIC, .T z , z .

F (006): OST-O S Thq, Indicadores deCiencias y de Tecnologías 2006.F (006): Patentes, estadísticas de Finlandia.





II. Ocinas de patentes y organismos relacionadosE OMPI (006): Inorme de Indicadores Estadísticos PCT.

S PCT ( , , é).

S PCT ( ).Inorme Estadístico de la Trilateral (A): OEP, JPO USPTO.

A q: , , .A q: , .

O E P: Inorme Anual.O J P: Inorme Anual.O P M: Inormes estadísticos de patentes.O P M: Inorme anual e inormes estadísti-cos de patentes.

H , , , - CT - (é 1.1). A , z z é . Eh é- q h .

E : C , , q q . E C , E, J, E U - ( T C M P). E C q : h , , vs. I . E C q : é, , , - é ñ -. E C 6 : . E C 7 z CT. E C 8 , ,ñ , é, é.

Reerencia

Gh, Z. (1990), “E : U -”, Journal o Economic Literatur, 8, 1661-1707.



19

Capítulo 2

Las patentes como indicadores estadísticosde ciencia y tecnología



2. las patentes como indicadores estadísticos de ciencia y tecnología

20 manual de estadísticas de patentes de la ocde © oepm

2.1. Introducción

L - , q qé ,qé h, qé h (, , ), qé -

, . E . S (CT).

2.2. Fundamentos jurídicos de las patentes

L q -. U q (A-

8 A OMC A Dh PI R C [ADPIC]):

“I. U h :

a) , q -, , : , , , ;

b) ,

q , , z : , , - , , - h .

II. L h ”.

L h - ( q , q ),

“”. L q h , z,




21manual de estadísticas de patentes de la ocde © oepm

, z , q 0 ñ h q . E h

. L é z (spin-o ). P , , (, ).

L h , -z 0 ñ h , q .1 L h q

h . P , q h E U J, q ( q q ). S - . Aq , , z, ( , , , sotware ¿ “ ” ?).

2.3. Vías administrativas para conseguir la protección

L . P , q , q q -. E “” q , é .

• Vía nacional. C ( , , z -) , (q ). L q ( q ) solicitud prioritaria, q echa de prioridad. E, z “q ”

, , : , (“





”) . P , 18 ( echa de pu-blicación). E ; h ñ,

.

• Vía internacional. A 188, q hz- C P (17 - 009), q 1 h C, h, h -. C , h - PCT (T C M

P), 1978 q Oz M- P I (OMPI). E PCT (h é h ), (é C- ). L , , q h - (h , , .). A q z - q z .

• Vías regionales. L - ( , E, ARIPO,OAPI). P , OEP (O E P) 009, q z q - . L OEP “ ” q z q h h. L

. E , .

L q AD-PIC/TRIPS (A Dh P I C), q q Oz M C (OMC) q 199. Sq OMC, ADPIC/TRIPS h , - , z 0 ñ, ,é.





U z q h , - . Ph , q . E , é

h -, (inringement) h . D , , E.

E - -. E é . E G .A.1 .A. OMPI, OEP, JPO, USPTO OEPM . E q

:• E , , é.

• E ; ( q ).

• L é ; , , , , z qé q .

• U q q .

• U q - CIP.

• U h: , , , é.

• U q - .

2.4. Fundamento económico de las patentes

L - é z . A -, q q q .

L z (Sh, 00, G Ph, 007). P





é , - q , . A q h ,

é z I+D, . A, q , . A, h - , ( -) . L h q q ( , ), - h , .

L z q q no excluible y no rival. “N -” q q q h ( , h - ). U “ ” q ( , ). L h , q z , “ ”, q é h z.

S , ( ) é , , é é (B , 00). O ,6 z , q ( z, , - z). D h (L , 1987; Ch , 000). P -

, E C M S (199), q z (lead time) , h q 0%. A, q % % . E E NISTEP (G N, 1997) , q , 1%, q - ( %) ( 8%). E OEPz 006, q





0% q , ( 70%). L q , %.

L q h . P- ex ante, ex post. A , - q , q q h , q q . É : ( ), h

( , - ).7 L h . E , - ( q q ) - h q : , q h .

E ñ ( , ,

q q ). E , q q , q ,q . E q q q q . E , , , (q -) é (é

). E q , q sotware, q . E , h q . E , ( patent pools- q - ), - ( patent clearing house models), q z ( é , h, .). N , -





z h é , é -.8

D - , -

ñ , z, é . Aq h z , :

• L q “ ”, q - .

• L h .

• E - , , .

• D q - , (, patent pools, , é).

D z ñ 80, h - q h q . C , - z I+D, h z . L h h ñ. E -, 80, h

h h . E E U, F C I A, - z 198, T A C F(CAFC, é) z ( T ), 1980 LBh-D - z , z.

E E, O E P ( 1977) z h . E J, h ñ 90





z h é. L AD-PIC/TRIPS 199 z z h . C ,

90 h é 000, . P , OEP 6% ñ - 199-00, q USPTO - 7% (OCDE, 007).9

C , h h, - q h ( ) h h é ( , , ). E -

h , z z .

2.5. El contenido inormativo de los documentos de patentes

U , . E , , , q .A , - :

• D é .• D .• H .

L q -

q h , q q - z . P , .

2.5.1. Descripción técnica de la invención

• T ( ).

• L “”. D -

q . L h ( ).





P h .

• L é q ( ). É .L CI P (CIP). E , ( , USPC USPTO) ( ECLA OEP; ECLA , 100.000 CIP).

• E é. C é . Dh , , q q q h -

. L ( ) .

• R . S - q , q q .

• R . I , - , , , é, - , é.

2.5.2. Desarrollo y titularidad de la invención• L . L

, .E E U, .

• L ( E U) . L ( -) . E , . N -

, é q ( , ).10

2.5.3. Historia de la solicitud•N , , ( ) . E

.P z .

• N . E

, . P -, , é.





• Fh . E h q q . E h .

• Fh /. E h q z - q -.

• Fh . N ( , ) 18 h . H -, é .11

• L . E q - C P E- T C M P, q q .

• Fh . I q h - (, ) , q h -.

• Fh . H h h . E , hñ é.

• Fh . U h - . E “I ” - q é ( ) , ,é.1

2.6. Las patentes como indicadores estadísticosde la actividad inventiva

D , q . L - é . P , , ñ , q q -

. L h - q h -





. E z 198 8 I+D, K H (198) q

. E 1.00 ñ ,H C (00) q q - .A , R Ph P (008) h I+D.

L é (, ,

, .) ( - ); é h . A, z. P , , - h -z , , CT .

S é , - , z -

q h . A contrario sensu, ( ) q . E qh q, h , q - q q z . S PATVAL (G M,00), 0% h z é q z :

18,7% , 17,% “ ” q .

L é I+D ( ) ( q ). P I+D, . E , I+D é z . E h I+D ( ).





L h . S :

• L q -

( , ).• M h (q ) -

. L , é I+D.

• T : é, - q , ( ), (), q , . L q -

. C ñ q . L é , , q .

• L . S q , , . E h (

) q -, q OCDE xix.

• L z - . E - h q z ,q (h q , .). A , qz ( , ), q

h .

N , , é :

• N . E q, , q .L q h é- q -. E , z é, ( ), q q ( , P, 1988).





• L h é. P , ( , ),

, - z -. C “ ” é q . L ñ é : qñ (PME), - q q , ( h h PME ).

• D h q q ( , Pk Shk,1986; Hh y otros, 1999). Mh - (, , ), - q . A , , q - . C h, ñ. E é, q -é I+D (q é, z é).

• L . P , z hé- ( é ).

• L q h - ñ h z

. L q h z 80 , , q. L h h sotware é, q . O , , , z .

• L , q . P ,





, q h .

L

q - . P , , q ( , - , é C ). D , q , , .

E q , , I+D .E ( ) . P , , é I+D . A- h , I+D ( ); h q

é, , q h ( C M; Ch , 000), q é (G y otros, 00).

2.7. Bases de datos de patentes

S h hh . L q (

.) h q , q é. E é, h , - : ñ( , h z z ñ), , () ( ), é.

L - , é . P q -





q . P , q .

S é, q h é . L q q .

A z : Ah D C P NBER, J, T H, U C W R; B D M E P OEP (é OEP PATSTAT), G T E P ; IIP (I I- P), q JPO ( S Hk).

2.8. Temas de investigación

L

é ( , , é), (, , ñ, , - é); q ( , é) q . A h q z :

• Rendimiento tecnológico. L z - ñ ( z),

. E , , - . A - z ( , ) q . C , , z z ( ñ), é .

• Tecnologías emergentes. L - h , ,





( ). S é z h q - . L q

ñ q , ( , - ) (cluster), . L - . L , q z ( -, q é ).

• Diusión del conocimiento y dinámicas del cambio técnico. D q

h hh é , . L , h - é . L ( - ) z ( , ñ ), / , ( , - ).

• Geograía de la invención. P q , q ( , q ). E , ,

, q (, PME, , .), -, z ,é.

• Creatividad y redes sociales. L h ( , , z, ) z (qé qé, é).1

• El valor económico de las invenciones. E -

. L





. L q h q ; - . C

, , , é.

• Rendimiento y movilidad de los investigadores.G q , . E - , q . S , - (

), , qé qé, é ( é ), . (T y otros, 006).

• El papel de las universidades en el desarrollo tecnológico. E - q h , q , . Té é q (N y otros, 1997). E z , z

é .• Globalización de las actividades de I+D. L -

-. A é , ( - ), .

• Estrategias de las compañías en materia de patentes. L h

é .R , - ( , q h ,.). E , q - .

• Evaluación de la eectividad del sistema de patentes. L - é q . ¿E qé

qé ? ¿E qé - q





(q, .)? ¿Qé - ?

•

Previsiones de solicitudes de patentes. L h - é . E - .

• Seguimiento del uncionamiento interno del sistema de patentes. N q é h , , ñ , , . N,

, q é q - . E h , . P , h q ( h q) q é - . E (é Inorme Estadístico Trilateral q OEP, JPO USPTO OMPI).

Notas

1. D z ( , ) - z z-.

. S - é (q E U “- ”) , q

, q h z q . E , “ ”, , , - . P é ( , z ñ) ( q ). N .

. E z - h . U . L , q q E PCT. L , é , q





h PCT. L .

. N , E z - P E .

. C OMPI, INID (“ h h ” ([ -é ]) - . E z , z .

6. N , ADPIC/TRIPS (é 9).

7. E , , q z, , é.

8. C - h q -h , , (-),

(-), h , z- , é.

9. P , JPO - 1991-00 (OCDE, 007).

10. L q . E é, q , q z h.

11. E , q h h (é C ,S ..).

1. E , é “” , , “” q z - .

1. S , é , q - qé q .





Reerencias

B, K., J. E, R. Fh U. Shh (006), “M P: E E- G”, Research Policy, V. , 6-67.

Ch, W.M., R.R. N J.P. Wh (00), “Lk I: Th I P- Rh I R&D”, Management Science, 8, . 1, , 1-.

Ch, W. M., R.R. N, J.P. Wh (000), “P Th I A:A C Wh U.S. M F P ( N)”,D T NBER . W7.

D R, G. B. Ph (008), “A P Ih h R&D PRh”, D T ULB.

G, A., D. Hh B. V (00), “Th V P”, .

G, P. M. M (00), Eh Aw W Kw A I-

(B N Ak): E h PV-EU S. D T LEM, E E S A.

G, A. A. N (1997), “Th O A R I: C S R J h US”, I- NISTEP . 8, N I S Th P, z.

G, D. B. Ph (007), The Economics o the European Patent System,O U P.

H, J. M. C (00), “M I P. I h - ?” Research Policy, , 16-179.

Hh, D., F. N, F. M. Sh K. V (1999). “C Fq hV P I”, Review o Economics and Statistics, 81 (), 11-1.

K, R.T. W.E. H (198), “Th M P R&DP E: A L A”, IEEE Transactions o EngineeringManagement, 9, -8.

L, R.C., A.K. Kk, R.R. N S.G. W (1987), “A h R I Rh D”, Brookings Papers on Economic Activit,. , 78-80.

N, F., H, K. O, D. (1997). “Th k w USh ”, Research Policy, 17-0.

OECD (007). OECD Compendium o Patent Statistics, 007, P.

P, K. (1988), “U A P S”, A.F.J. R (.), Hybooko Quantitative Studies o Science y Technology, P C E,Á.

Shk, M. Pk, A. (1986), “E h h E h -190 ”. The Economic Journal, 96 (8),. 10-1076.

Sh, S. (00), Innovation and Incentives, MIT P.

T M., G. Sh R. M (006), “Th ‘N G’: H I-’ P D E Rh”, D T NBER179, N B E Rh, I.





ANEXO .A.1

G .A.1. Primera página de una solicitud de patente de la OEP





G .A.. Muestra de la primera página de unasolicitud de patente de la JPO

(S , )





G .A.. Primera página de una solicitud de patentede la USPTO publicada





G .A.. Primera página de una solicitud PCT





G .A.. Primera página de una solicitud de patente española

I O Eñ P M (OEPM) ñ “OECD P S M” q

é OCDE



47

Capítulo 3

Sistemas y procedimientos de patentes



3. sistemas y procedimientos de patentes


3.1. Introducción

P , - ( ) q - . E q

é , - q .

L - q ( ). E - . E

h é.T q h z- h , .

E - : O E P (OEP), O J P (JPO), O P E U (USPTO) T C- P (PCT). Cz -

, , . P , .

E , q q é , , h , . C , - , , é , q q -

. E , - , ( ,





, ) q é . E - .

3.2. El procedimiento undamental de concesión de patentes

E - q :

• En primer luga, q ( , q é , ) -

é . E q - h . L , q h . E , q h .1

• En segundo lugar, ( ) q h .S q q

. G, é z ; é - q .E é ( ) é q q . E , - h ( h , ). E , é,

h 18 h - ( USPTO).

• En tercer luga, (q , -, ) “ ” “ ” é q . E h ( - ) , . L - q h z q : -





, , (q ) (é .1).

• En cuarto lugar, z ,

z 0 ñ h .

E - (h ). L () q . U , q q é h q - q . L - ( ,

OEP; USPTO [ é ]; JPO) -. É .

C .1. Criterios de patentabilidad

• Objeto. P q , - q z “-”. L . L é, z . E sotware E U, é é . L

J E (q “sotware ”).

• Novedad. P , q - . E q h h - q é

h h. L : é , q q .

• No-obviedad/actividad inventiva. A q , - . E é

q . P , é -

q q ,





, -, . L “ ” - A, R U

C P E (CPE), q “ ” - E U. E q é q h q z q q h . EE, é .

• Aplicación industrial: E q é . E é“” ; -, . S é é q é h é - h . L q - q. E EU h q “”; , é , , q . L -

z é“” “ ” .

L q ( ) . P , USPTO h E U. S - () q J, q JPO, , PCT Oz M P I-

(OMPI). L .

L ( ) . E - , ( ) .N , . E - q

. Aq, , E U .





E q , h h . L q

( ) - .

3.2.1. Armonización internacional de las legislacionesen materia de patentes

A ñ h hz h ( )q . E

( ) ( , C P PCT), .

D ñ 90 z , A A Dh P I C (ADPIC) Oz M C (OMC)(é C .).

C .. Principales disposiciones del Acuerdo ADPIC

L ADPIC 7: “L - h - , q z q h ”. A - , ADPIC

, q z - E q . E, ADPIC z h h , é, z -; , ; ñ ; ñ ; , ; ; - ,

. L OMC:





• Tratamiento nacional (artículo 3): T M - E M q q , - , , C- P (1967), C B (1971), C R T P I C- I.

• Tratamiento de la nación más avorecida (artículo 4): C , q , , q M q - M.

E ADPIC OMCq - z. S R U AG A A C (GATT) 199. I - OMC: C P P P I C B P O L A, q ñ 80.

A E M , . A - A ADPIC : 0 ñ ; ( -, q ); - 18 h .D é 000 h OMPI , z , h z h .

3.2.2. El coste de presentación de solicitudes de patentes y la duración del procedimiento

L . E - :

•Tasas administrativas: , , , , - ( E).





• Costes del procedimiento: - ( ) . E ( PI) -

z ( ).

• Costes de traducción q -: é z q h , . C- , .

• Costes de mantenimiento, q - z z 0 ñ, , , h q

q . L h .

Té h , , h é - h ( , ) - ,. C , q - q h . H ( , -

, , q , q , ). L ( , q ) q CPE é . E é ( ), q . A -

é , - q z . A, ñ q ( , q ).

U z 00 (OEP/R B, 00). E ( OEP ) 00 0.0 EUR (I M OEP R B),

q E-PCT ( PCT OMPI OEP)





6.700 EUR. L , ( ),

(h ). U ñ ( OEP) .100 EUR q ; 10.0 EUR USPTO; .60 EUR q JPO. E E . S -, : .70 EUR OEP, .00 USPTO 1.70 JPO.

L é h . E 00 006, ( - ) OEP 8% h . E JPO, 1,8 , q USPTO - . E 00 006, USPTO 0,6 1, (InormeEstadístico Trilateral, 006). E . P ,

z ; - ( , , -) disto .

E q . L , é , :

• E , h h 18 h , q h .6 C - .

• E q , é ( ), q - .

•L q , q (PCT),





(, ). Té , q q q .

• L ( q ) - (q ) - ( ). E hh q .

3.3. Procedimientos nacionales y regionales

C , - . L “ ” ( q - q , .) , . L OEP, q /. E .1 q - . M h .

L é . P , OEP ( q ),7 q JPO USPTO -. T , (OEP: ; JPO: ;USPTO: ). S - q h , (OEP: ; JPO:

z ; USPTO: ). E z , , .E z . E, , . E , q h q h . L q h

q z .





T .1. Dierencias entre las tres ocinas de patentesmás grandes del mundo

EPO JPO USPTO

La concesión de patentesse basa en Prioridad de presentación Prioridad depresentación Prioridad de lainvención

Duración de la patente 20 años

Idioma de la solicitud Inglés, francés o alemánaa Japonésb Inglésc

Área cubierta Miembros del CPE y paísesde “ampliación”d

Japón EstadosUnidos

Petición de examen Sí, en 6 meses Si, en 3 añose No

Publicación de la solicitud 18 meses después de lafecha de prioridad

18 meses des-pués de la fecha

de prioridad

18 mesesdespués de

la fecha deprioridadf

¿Hay objetos excluidos de la pa-tentabilidad o que no se conside-ren invenciones?

Síg Síh Síi

Sistema de oposición Sí j Sí Sík

a) S q CPE. N , ,

1 é h , OEP (é, é ).

b) S é , -, é. D é é 1 h .

c) S q é, q - z .

d) L CPE ( ). E q OEP, z q h -, q

é h .

e) Pz : ñ 001 ñ 001.

) U q - , .

g) L q : , é- , é, q, , é , é ; . O : , é-

q é h é q q h .





h) L q : , é- , , , é , h é , é q- h .

i) L q : é “”, , -.

j) E , q OEP - . L z: q , q é , q h -.

k) P : z

é q q q -

. E é q q .

3.3.1. USPTO

E E U, C C - q “ é …” L

C h - T C E U O P M E U (UPSTO).

L USPTO - , :

• E E U primero en inventar “ ” ( ). E q q h USPTO q q z ,

h ( é).

• E U q periodo de gracia - . L ( , é)q h h , q h ñ , .

• D 199 h 0 ñ (h q E U

ADPIC h é), 17 ñ - . D , , 7 11,





ñ 8 ( ).

• U USPTO

( , z q q - , , - OEP). E q q , q, q q . N , z USPTO PCT, q .

• H h , E U - . E h , h

18 , q h q h ( q q q - USPTO).

• A , ( ) q é. A OEP, , q

, , “Duty o Disclosure, Candor, and Good Faith” q USPTO q é q - q q . S q , . C , h é , USPTO 00, - .E qé USPTO q ( .)

• D 8 199, USPTO q EU. S q q -. U h é. E h -

h é h q h z .9





• L , , z -, z . E q

z -; , . L “ ” (CIP, é) , q - .

• S () q , - é . U q - q . L -

, q h. S , ñ . S - q q , ñ h h .

3.3.2. JPO

L h ñ 80 . L :

• L JPO prioridad de presentación, , , q .

• J é plazo de gracia. C h h h - é C, h

h C, q h .

• L JPO D O - 18 h .10 S , - ñ h q . E 001, z ñ (ñ 001 ñ). S z, qh .





• E z q z JPO , q h h ñ . E

é - ( ) 00, “ ”. E é norma deuna única reivindicación q J h 197. L q unidad de invención ( PCT). E , q - q . A , JPO -

q . U , , JPO .S , q h , h 80.

• E JPO, ñ ñ h . E q q é 1 -

00 1 006. L - é.N q .

• L JPO . A é h , q - q . E 00, ( z é ) ( 1 00). C : i) q ;ii)

, iii) é T S Tk.

3.3.3. OEP

E C C P E, q C P E (CPE),

197 1977. C CPE, O E P (OEP)11





z . P - (é,é ), h CPE.1

• L q OEP h q ( ) CPE1 q h é. U z OEP, , , (“q”) q - E CPE. E z , q . P ,

q - .

• U : i) OEP (, ), ii) ( 1 ), iii) - PCT. L “”, q “-PCT”. E C .1 q

OEP. D é 000, OEP h OEP, q é PCT (-PCT). E ñ 006, PCT q - 6% OEP ( 6% USPTO % JPO)(Inorme Estadístico Trilateral, 006).1 E é PCT - : 006, % OEP PCT, 11% USPTO ,1%

JPO (ibid.).• E ,

z “ ” “ ” . E , OEP 009 ( q -) é , q h, , -. E ,

qñ. C “ ”. E , ,





, q - q ñ00 PCT (é S ..). E h q h h PCT EP

(-PCT) q - . C , -h , , OEP PCT. A, q q h , é OEP q h .

O OEP :

• A q USPTO, é . L é (q -q) . E q q. S OEP, q q .

• U z q, -, .

• L OEP z . É . P q , q q q q ( -) , . E hh q (Hh Rz, 00).

3.4. Solicitudes internacionales de patentes

3.4.1. El principio de prioridad

E - 188 ( C P P P- I, 17 009). Dh h z h 1 -

(q ) h . C -





, q , q h ( ).1

L h , q 1 h h . E , q , “h ” q h , - h 1 “h ” “h ”. S z h , - . L h

, -. P z, , h h .

3.4.2. El Tratado de Cooperación en Materia de Patentes

E T C M P 1970 1978. L OMPI. E 009 h 11 E - PCT. É PCT h ( PCT)

( ) q .16 T ( - ) é , , q () - .

E é , PCT , , h0 é q . A, - ( ) . E , PCT .

L PCT z -, ( ) OMPI.E h 1 , h (G .1).E E -

PCT. U PCT E ( E desig-nados q q ).17





T OMPI, A- Bq I (Internacional Search Authority ISA/ABI), q OMPI (q , , OEP, JPO, USPTO OEPM). L ISA/ABI inorme de búsqueda

internacional (Internacional Search Report ISR/IBI) q z q . S q q . E ISR/IBI - é q . E ISR/IBI ISA/ABI , q z, 16 h ( , ). A ISR/IBI, 00 (written opinión

o the ISA, WOISA/OE PCT). L WOISA/OE PCT q z q. L ISR/IBI z 18 h ( ).

U z ISR/IBI WOISA/OE PCT, é (internacional preliminaryexam, IPE) q - (international preliminary report on patentability (IPRP)). E IPRP - .

L IPE h ( h ISR/IBI, -). S , WOISA/OE PCT IPRP.18 P , 0 h , z z ( , q q

12 meses

Aplicación Internacional (AI)

18 meses

Publicación de AI e ISR

30 meses

22 meses

Solicitud para examen

internacional preliminar

16 meses

Reporte de registro

internacional y escribir

una opinión sobre patentabilidad

30 meses

Capítulo I (continuación)

Capítulo IICapítulo I

Fase InternacionalFase regional

nacional

Entrada a fase

nacional

(incluyendo regional)

Presentaciones nacionales

G .1. Calendario del procedimiento PCT





.19 C h h, é .

E PCT, q

. E -PCT, OEP 6 h ( ). L .0 E é é “z” .

Notas

1. E , q , . E JPO, z ,8 00, ,8 OEP , USPTO(Inorme Estadístico Trilatera, 006).

. E q h USPTO JPO.

. Mh é z -

z -z.

. E , ñ CPE, , ñ USPTO. P , . A OEP ñ , q . U z q OEP - CPE q . E JPO, q ñ é ñ

.

. E OEP, h OEP, - .

6. L - h , h - .

7. E q é . E q





ñ . E , , - .

8. L 8 199 q é h h, z - 17 ñ h 0 ñ h , h z .

9. D q z é, USPTO q q , .

10. D ñ 000, JPO q -

ñ h .A h , - .

11. L OEP U E. P h , q U ñ 70. E C C PE C ( 007 COM, 16 ) E, C “ q E”. E z P C h -

U, - , A L A E L P(EPLA, E P L A).

1. C h 009, 6 . A, OEP “ ” , q - q .

1. S q q

, E , q .

1. C , OEP PCTq II. E OEP, q z .

1. A, q , “” . P ,

, q h - .





16. E z é “ PCT” “ -” .

17. H 00, q .L ( q , ).

18. E IPRP ; , .

19. S , q q 0 . P , - 1 h . L

é z ( 0[] 0[]).

0. E ( , CIP E U), h ( ) ( ) ( , h ñ -é ), z .

Reerencias

Hh, D. M. Rz (00), “D O A EPO PG: Th C Bh Ph”, Documentos de Debatede CEPR . 6.

Inorme Estadístico Trilateral (2006), 006.

OEP-R B (00). “S h E”, - R B Mk Rh OEP.



69

Capítulo 4

Criterios básicos para recopilar indicadores basados en patentes



4. criterios básicos para recopilar indicadores basados en patentes


4.1. Introducción

P , . E q - h . L - q

h h - z .

L q . C , ñ A , A (

) q A. E , , q , q , . D , E , ( ) q .

L q

h , - (PCT, ). P , , , é.

C , - . P , q C - q A (

). C , - - , h (





q ). P , ( ).

4.2. La echa de reerencia

E h ñ q q é h q , (D- y otros., 001; Hz Shh, 00).

• L echa de prioridad ( h q , q , ) , , -h . E - . E é z primera presentación, q solicitud posterior .1

• L echa de solicitud q . H 1 h 0 PCT. P ,

(é h ) , ( h h 1 h ) PCT ( 1 PCT h 0 ).

• L echa de publicación ( 18 h , USPTO, q q ) q

- .

• L echa de concesión q z h . L - ñ USPTO ñ OEP, h z ñ.

A , h / - . L

( , ) -é é .L , q





h ( ) : A A é , q -

ñ ( ñ ). C , -z ñ q ñ . E .

E echa de concesión : i) q ( q q ),ii) q q ( ñ ), iii) q z ñ ( ) . E h z , q .E , , z . A, q h - ñ 90, h , q z ( q “ ”).

U h prioridad. E .O - ( ) . H q q h - , q q .

Por tanto, para conseguir refejar la capacidad inventiva, se recomien-da el uso de la echa de prioridad en la recopilación de estadísticas de pa-tentes. E q , ,

(h -), (h ), é . N , h .

E C .A.1 h - . E é OEP OCDE 000 7.19 h , 1.10 h . D - , , 16.

é h , 1.10 h . L





h q ( ) 9% 000 OCDE. P , 8%.L OEP

q h . E , ñ 000 h , A OCDE, E U. E é z h , E U ( 6%), A ( 0,6%) J ( 0,%). E é , E- U ( ,8% ,7%, h , ).

4.3. País de reerencia

U -, ( z -). A, :

• Los recuentos de patentes con arreglo al país de residencia del soli-citante “” ( , q ). L -

, .

• Los recuentos de patentes con arreglo al país de residencia del inventor z . L q - ( q é).

• Los recuentos de patentes con arreglo a la ocina de prioridad ( q , - ) , ( ), - ( , ñ ). P , h E U, C .

Se recomienda el uso del país de residencia del inventor para recopi-lar estadísticas de patentes con el objetivo de refejar la actividad inventi-

va. E z ñ, .





U h q h q . A z -

, q - z, . E z é z . E , ( z), .

E C .A1. - . R OCDE OEP

. L qñ Bé, R Ch,H Mé ( - 1 7%). P , H, Sz F q .E z ( ). U L, - q q .

Patentes con múltiples inventores de distintos países. E ñ, h - , q z CT. E , q . E ( ) ( ). L ( CIP), .

E , , q

, z , q ( , z ).

4.4. Solicitudes PCT

4.4.1. Recuento de solicitudes PCT en ase internacional

L é . E “ ” , q, ,





q . E .1 USPTO, OEP JPO. L - q

, q : A B A B . E q , , q z - : PCT ( S .).

G .1.Cuotas nacionales en el total de patentes tomadasen las tres ocinas principales, 2005

0 5 10 15 20 25

Estados Unidos

USPTO,1 2005

Japón //53.2

18,4

13,4

5,3

4,4

4,3

2,2

2,0

1,8

0,8

0,80,8

0,7

0,6

0,6

0,5

0,5

0,4

0,4

Unión Europea

AlemaniaCorea

0,3

Taiwán

Reino UnidoCanadá

FranciaHolanda

IsraelItalia

AustraliaSuiza

SueciaChina

Finlandia

IndiaBélgica Austia

OEP,2 2005

Unión Europea

Estados UnidosJapón Alemania

FranciaCorea

ItaliaReino Unido

HolandaSuiza

SueciaCanadá Austria

ChinaFinlandia

BélgicaEspaña

Israel AustriaDinamarca

0 5 10 15 20 25 30

//42.3

2617,917,8

6,54,0

4,0

3,7

2,72,3

1,9

1,71,2

1,1

1,01,0

0,9

0,90,8

0,7





1. S USPTO. L - h .

. S OEP, -D -PCT .L h , . L 00 00 .

. S JPO. L h , . L ñ001 00 JPO.

Fuentes: I USPTO; Base de datos de patentes de la OCDE,

007; B IIP 00 JPO.

JPO,3 2005

0 42 6 8 10%

//71.3

9,26,4

2,6

1,61,4

0,7

0,7

0,4

0,40,30,3

0,20,2

0,20,1

0,1

0,10,10,1

JapónEstados UnidosUnión Europea

Alemania

CoreaHolanda

SuizaFrancia

TaiwánSuiza

SueciaItalia

LuxemburgoBélgicaCanadá

Finlandia Australia

DinamarcaIrlanda

Israel

E T C M P (PCT) ñ Oz M P I. C q PCT . H 00; é. A, PCT “ ” h q . O PCT q

z E . E . PCT ( OEP). E h z . D é 000, , J C (q z PCT ). A, PCT (B, R, Ch, I, .). D q 1990, q h 000 - .





G .. Patentes solicitadas con arreglo al procedimiento PCT*con designaciones OEP

N ,

N: L h , - .

* S PCT, , OEP.

Fuente: B OCDE.

L PCT : -, , q h , - z . E , - PCT q . C , q PCT , , q (é C ). D , PCT , q é “ ”, , q , . A, h PCT q é q - . D hh, PCT - . E q q . Té q,

, PCT q .

JapónEstados UnidosUnión Europea

50.000 Estados

Unidos

Japón

Reino

Unido

40.000

30.000

20.000

10.000

0

20041990 1992 1994 1996 1998 2000 2002

125.000 25

20%

15%

10%

5%

0%

100.000

75.000

50.000

25.000

0

20041990 1992 1994 1996 1998 2000 2002

Total mundial

Tasa anual de

crecimiento

%





4.4.2. Recuentos de solicitudes PCT en ase nacional

E PCT . ¿D , q , - , ? ¿O q PCT q , q h ? E PCT é h . ¿D z PCT (q 00 ) q q PCT ?

E , hh (é . .). P , 10.000 ñ ( ), PCT ( 100.000 ñ) , q - PCT . L q PCT

(OCDE, 00).S , PCT

q OEP q -. L PCT h 1 h ( , h q ) . P , q q q 1 h é.

4.4.3. Actualización de las solicitudes de patentes

U PCT - (z) é q -. E h (é .1). U z -PCT é PCT - OEP, q PCT - q (Shh,

1999). P z - (é C .; D, 007).





G .. Cuotas nacionales en el total de solicitudes presentadaspor países según el procedimiento PCT,* 2004

G . . Cuotas nacionales en el total de solicitudes euro-PCTque pasan a la ase regional,** 2002-2004

3,2

0

10

20

30

40

50

%

33,5 32,4

17,012,2

4,54,4

2,4 2,0 1,9 1,81,7

1,6 1 ,4 1,2 1,1 0,9 0,8 0 ,8 0,7 0,7 0,5 0,4 0,3 0,3 0,3

E s t a d

o s U n i d

o s

U n i ó n

E u r o

p e a J a p ó n

A l e m a

n i a

F r a n c i a

R e i n o

U n i d

o C o

r e a

H o l a n

d a I t a l i a

C a n a d á

S u e c i a

A u s t r a l i a

S u i z a

F i n l a n

d i a I s r

a e l

E s p a ñ a

D i n a m a

r c a

A u s t r i a

B é l g i c a I n d

i a

F e d e

r a c i ó n

R u s a

N o r u e

g a

S i n g a p u r

S u d á f r i c

a

N u e v a Z

e l a n d a

C h i n a

1995

0

20

40

60

80

100

%

H o l a

n d a

B é l g i c a

S u i z a

U n i ó n E u

r o p e a

J a p ó

n

A l e m a

n i a

F r a n

c i a

R e i n o U n i d

o

I r l a n d a

T o t a l m

u n d i a l

H u n

g r í a

C o r e a I t a

l i a

C a n

a d á

T u r q

u í a

R e p ú b l i c a

C h e c a

S u e c i a

A u s t r a l i a

F i n l a n

d i a I s r

a e l

E s p a ñ

a

D i n a m a

r c a I n d i a B r

a s i l

F e d e

r a c i ó n R u s a

N o

r u e g a

E s t a d o s U

n i d o s

S i n

g a p u r

T a i w

a n

M

é x i c o

S u d á f r i c

a

N u e v a Z

e l a n d

a

P o l o

n i a C h i n a

N: L h , .

* S PCT, , OEP.

** E q h 0 PCT 00-00.

Fuente: B OCDE.

L é - . P é - q (é .1). P é q - h , , q . L , , q - ñ, C P

.





Té - q - . A, q -

é q , (PIB), (I+D), I+D . L (ARIMA, é). L z - é , , é q z

.L q

z. L OEP JPO z . N, - q q z ñ . S - z . S é z

, é ,q é z .

L , q , - z .

C .1. Metodologías de actualizaciónS h é z -

. C é ( , USPTO, OEP, .) , é- : , , , . D- h z , q - (OEP, PCT, , , .). D , h z :





• Análisis de tendencias, q - ; - (ARIMA) (Dh Ph, 00).

• Modelos de transerencia, q - () — (q -, , q h hh ); PCT (Shh, 1999; D, 007).

• Modelos econométricos, q - ( , H

, 198) I+D, , PIB, -, ñ, ( ), - (, , -, .); , . (Dh Ph P, 00).

C .. Métodos de actualización basados en ratiosde transerencia

U z ñ . P, z OEP , , E-PCT q h OEP ñ t-2 (Shh, 1999; D, 007). Dé, ñ -PCT OEP OEP ñ t-2. U -PCT h t-1, t-1, z 1. S z éé , t-1 ñ {t-1, t-2} -PCT (EPCT_TR) ñ t:

1

1_

-

-≈

t

t

PCT

EPCTTREPCT

o( )

( )21

21_

--

--

+

+≈

tt

ttt

PCTPCT

EPCTEPCTTREPCT





D EPCTt -PCT ñ t, PCTt PCT q OEP ñ t. S

-PCT ñ t - E-PCT ñ t-1 ñ . P ñ , PCT t t-1. E é h ñt-2 qñ é (D, 007). L - h qñq (Kh D, 00). P , q h .

4.5. Familias de patentes

L éq . E ( -) q . Té q

é q , ; .

L - q .E , q é q -

.

E , é q . U amilia de patentes triádica ( G y otros, 1996). S - OCDE (D y otros, 001), OEP

JPO, USPTO, q . L UPTO ( -) hh q E U h 001, q -. O q z Inorme Estadístico





Trilateral, q z , . E é h C P.

E é , -, q q , h . E , - , q q q . A de acto -

, ( é ), h q é q - .

A la hora de contar amilias de patentes triádicas para refejar la ca-pacidad inventiva, se recomienda el uso de la primera echa de prioridad(la primera solicitud de la patente en todo el mundo), el país de residenciadel inventor y los recuentos raccionados.

U

equivalentes de patentes, q éq . E q ( ) ñ . S C P, h z , q - q . L q q h q

é .U OCDE

. E USPTO, q - , . P , h h ñ h q . E “-z” (é ..), , -z - (D, 007). C C

., é h ñ t-3, ñ t-2.





G .. Total de amilias de patentes triádicas,* 2005

N: L h , -

.L B D M E P OEP, PATSTAT ( 007).

* T OEP, USPTO JPO. L 1998 -.

Fuente: B OCDE.

Alemania; 12,2%

Francia; 4,7%

Reino Unido; 3,1%

Holanda; 2,4%

Suecia; 1,2%

Otros países; 10,6%

Otros países11,9%

Otros países0,5%

Estados Unidos31,0%

Corea; 5,0%Canadá; 1,5%

Suiza; 1,6%

China; 0,6%

Austria; 0,8%

Israel; 0,7%

Unión

Europea; 28,4%

Japón

28,8%

Países Europeos; 4,0%

%

A , - PCT . L - q q. L PCT é

( 18 ), q - é ( q ).

E (é .A1.1. .A). L q q. P , qñ , “” q , q - h qñ. S , , q ,

.

Té . L - , , - , , -, , USPTO( , é .6):

• Solicitud divisional. É , .





G .6. Ejemplos de amilias de patentes, reducidas y amplias

• Continuaciones. É - . E USPTO, (CIP, é) - q , .

4.6. Indicadores de patentes normalizados a nivel de país

L -, z : ñ , - (PIB) I+D. L z , I+D q ñ z . L é -

z .L PIB q OCDE

z “ ” ( .7 .8). O I+D . E I+D. P I+D , H y otros (1986) q - I+D -. C I+D, é , .

DE

Solicitud

DE

Publicaciónde solicitud

DE

Publicaciónpatente

concedida

Familia de

patentes

estrechamente

relacionadas

Miembro

extendido

“Continuación in PART”

JP

Publicación

de solicitud

US

Publicación

patente

concedida

JP

Solicitud

US

Solicitud

Revisada

US

Solicitud

prioritaria





G .7. Familias de patentes triádicas* respecto al PIB** 2005

G .8. Familias de patentes triádicas* por millón de habitantes 2005

N: L h , - . L B D E M P OEP.

* T h OEP, USPTO JPO. L 00 . S / 0 00.

** P I B (PIB) 000, q.

Fuente: B OCDE.

Notas

1. E E U, h - ( “ ”).

. E PCT, q é - h q . E -PCT, - OEP - 6 ( ).

1995

J a p ó n S u

i z a C o

r e a

A l e m a

n i a

H o l a n

d a

S u e c i a

I s r a e l

F i n l a n

d i a

O E C D

t o t a l

E s t a d

o s U n i d

o s

F r a n c i a

D i n a m

a r c a

U n i ó n

E u r o p

e a

A u s t r i a

B é l g i

c a

R e i n o

U n i d

o

L u x e m b

u r g o

C a n a d á

S i n g a p u

r

N u e v a Z

e l a n d a

A u s t r a l i a

N o r u e

g a I t a

l i a

I r l a n d

a

H u n g r í a

T a i w á

n

E s p a ñ a

S u d á f r i c

a C h i n a

T u r q u

í a I n d

i a B r

a s i l

F e d e

r a c i ó n

R u s a

M é x i c

o

5

4

3

2

1

0

J a p ó n S u i z a A l e

m a n i a H o

l a n d a S u e c i a C o r e a I s r a e l

E s t a d

o s U n i d o s

L u x e m b

u r g o F i n

l a n d i a

O E C O

t o t a l

D i n a m

a r c a F r a

n c i a A u

s t r i a

U n i ó n

E u r o p e a B é

l g i c a

R e i n o

U n i d o C a n a d á N o

r u e g a S i n

g a p u r A u

s t r a l i a

N u e v a Z

e l a n d a I r l a

n d a I t a l i a T a

i w á n E s

p a ñ a H u

n g r í a S u

d á f r i c a T u

r q u í a

F e d e

r a c i o n

R u s a C h i n a B r a s i l M é x i c o I n d i a

125

100

75

50

25

0

1995





. L q ñ - USPTO q h 001 , . N , , ñ -

.. P ,

( ), z . E , q qé ( , , .) q .

. A

-, q ; -é 18 , . T , .

Reerencias

Dh, C. B. Ph (00), “I F Mh PCT A WIPO”, U Hh IIR, IIR.

D, H., D. G B. Ph (001), “U P C C- C Th O”, STI Review . 7, D C, T I, OCDE, P.

D, H. (007), “Nw P I”, D T C,T I OCDE 007/, D C, T I, OCDE, P, www.oecd.org/sti/working-papers

G, H., G. Mü U. Shh (1996), “A D T P D D Hh-h E P”, OCDE (.), Innovación,Patentes y Estrategias Tecnológicas, OCDE, P, 71-8.

H, B.H., Z. Gh J.A H (1986), “P R&D: I Th A L?”, - NBER 1, N B E Rh, I.

H, J., B.H. H Z. Gh (198), “E M C D wh A h P-R&D Rh”, Econometrica, E S-, . (), 909-98.

Hz, S. U. Shh (00), “O h Bk B. A h h h ” W. Gäz, H.M U. Shh (.) (00): Handbook o Quantitative Science and Technolo-gy Research: The Use o Publication and Patent Statistics in Studies on R&D Systems,

Kw A Ph, Dh/B/L, 1-.





Kh, M. H. D (00), “I P C-O T D EPO P- S I h T EPO I”, D T C, T I OCDE 00/, D C-, T I, OCDE, P, www.oecd.org/sti/working-papers

OCDE (00), “C P S 00”, OCDE, P.

OCDE (007), “C P S 007”, OCDE, P.

Shh, U. (1999), “I I P A P I-”, Rh E, . 8, . , 119-11.





ANEXO .A1





C .A1.1. Otras deniciones de amilias de patentes

E -

, C P. Aq , :

Documento D1 Prioridad P1

Documento D2 Prioridad P1 Prioridad P2


Documento D4 Prioridad P2 Prioridad

P3

Documento D5 Prioridad

P3

Denición 1: T q é . É q INPADOC. E , D1 D - P1.

Familia P1






Denición 2: T q . É

q @ q. C (hit list). E , D1, D D P1, - D, D D P D D P.





C .A1.1. Otras deniciones de amiliasde patentes (continuación)

Familia P1 Familia P2 Familia P3






C .A1.1. Otras deniciones de amilias de patentes (continua-

ción)

Denición 3: T q - . É q @ “V -” q (h ). E , D1 P1, D D P1-P, D P-P -

D P.

Documento D1 Prioridad P1 Familia P1

Documento D2 Prioridad P1 Prioridad P2 Familia P1-P2



Documento D5 Prioridad P3 Familia P3

N: q, q - z q . D- . LD 1 INPADOC. L D - @. L D q @.

Fuente: O E P.





T .A1.1. Dierencias en el recuento de patentes(solicitudes a la OEP y concesiones) según la reerencia

seleccionada, 2000

Número de patentes Proporciones en la OCDEReferencia Concesiones Solicitudes Concesiones Solicitudes

Priori-dad

Conce-sión

Prioridad Solici-tud

Priori-dad

Conce-sión

Priori-dad

Solici-tud.

Alemania 9.057 5.585 25.221 24.409 29.02 20.58 17.25 18.16

Australia 103 146 1.850 1.706 0.33 0.54 1.26 1.27

Austria 554 264 1.393 1.257 1.78 0.97 0.95 0.94

Bélgica 404 321 1.490 1 470 1.29 1.18 1.02 1.09

Canadá 394 308 2.609 2.353 1.26 1.13 1.78 1.75

Corea 270 163 2.620 1.985 0.86 0.60 1.79 1.48

Dinamarca 312 199 1.196 1.051 1.00 0.73 0.82 0.78España 305 155 1.058 963 0.98 0.57 0.72 0.72

EstadosUnidos

5.718 7.074 49.389 45.278 18.32 26.07 33.77 33.69

Finlandia 385 272 1.814 1.755 1.23 1.00 1.24 1.31

Francia 2.601 2.170 8.439 8.184 8.33 8.00 5.77 6.09

Grecia 10 8 74 62 0.03 0.03 0.05 0.05

Hungría 41 22 207 177 0.13 0.08 0.14 0.13

Irlanda 52 33 288 322 0.17 0.12 0.20 0.24

Islandia 7 3 43 41 0.02 0.01 0.03 0.03

Italia 1.559 1025 4.493 4.303 5.00 3.78 3.07 3.20Japón 4.989 5.497 24.432 20.909 15.98 20.26 16.71 15.56

Luxemburgo 39 17 102 84 0.12 0.06 0.07 0.06

México 7 6 103 103 0.02 0.02 0.07 0.08

Noruega 139 101 640 565 0.44 0.37 0.44 0.42

NuevaZelanda

30 23 337 275 0.10 0.08 0.23 0.20

PaísesBajos

839 749 3.908 3.474 2.69 2.76 2.67 2.58

Polonia 16 10 121 106 0.05 0.04 0.08 0.08

Portugal 14 5 59 38 0.04 0.02 0.04 0.03Reino Unido 1.653 1.582 7.769 7.320 5.30 5.83 5.31 5.45

RepúblicaCheca

27 7 107 123 0.09 0.03 0.07 0.09

RepúblicaEslovaca

3 3 39 34 0.01 0.01 0.03 0.03

Suecia 666 556 3.269 3.101 2.13 2.05 2.24 2.31

Suiza 1.005 832 3081 2.887 3.22 3.07 2.11 2.15

Turquía 13 3 90 74 0.04 0.01 0.06 0.06

OCDE 31.210 27.139 14.6242 100.00 100.00 100.00 100.00

N: L .

Fuente: B OCDE.





T .A1.. Cuotas nacionales en el total de solicitudes

ante la OEP según diversos criterios de atribución

País de prioridad País inventor País solicitante 1990-2002 2000-2002 1990-2002 2000-2002 1990-2002 2000-2002

Alemania 19.91 19.40 17.93 17.21 17.64 16.79

Australia 0.80 0.63 1.06 1.27 0.99 1.16

Austria 0.73 0.87 1.02 0.99 0.95 0.82

Bélgica 0.16 0.38 0.96 1.00 0.76 0.82

Canadá 0.33 0.20 1.20 1.86 1.12 1.69

Corea 1.59 0.27 0.29 2.22 0.30 2.22

Dinamarca 0.62 0.52 0.71 0.82 0.72 0.78

España 0.52 0.39 0.50 0.80 0.45 0.66

EstadosUnidos

36.13 31.87 31.98 33.14 32.80 33.99

Finlandia 0.89 0.74 0.90 1.20 0.88 1.42

Francia 6.18 8.07 7.70 5.89 7.49 5.70

Grecia 0.05 0.03 0.06 0.06 0.05 0.05

Hungría 0.07 0.09 0.14 0.13 0.12 0.10

Irlanda 0.11 0.08 0.13 0.22 0.13 0.25

Islandia 0.02 0.01 0.01 0.03 0.01 0.03

Italia 2.84 3.52 3.51 3.18 3.26 2.84

Japón 19.56 20.37 18.16 16.69 18.00 16.63

Luxemburgo 0.05 0.05 0.05 0.06 0.10 0.12México 0.01 0.01 0.02 0.09 0.02 0.07

Noruega 0.26 0.22 0.36 0.43 0.37 0.39

NuevaZelanda

0.14 0.07 0.12 0.23 0.11 0.21

PaísesBajos

0.80 1.43 2.32 2.84 2.93 3.44

Polonia 0.05 0.02 0.04 0.10 0.02 0.08

Portugal 0.02 0.01 0.02 0.04 0.01 0.04

Reino

Unido

5.72 6.85 6.32 5.21 5.71 4.34

RepúblicaCheca

0.05 0.04 0.05 0.08 0.04 0.06

RepúblicaEslovaca

0.01 0.00 0.00 0.02 0.00 0.02

Suecia 1.64 1.60 1.85 2.01 1.83 2.28

Suiza 0.73 2.28 2.60 2.12 3.17 2.95

Turquía 0.03 0.00 0.00 0.07 0.00 0.06

OCDE 100.00 100.00 100.00 100.00 100.00 100.00

N: L h .

Fuente: B OCDE.



95

Capítulo 5

Clasifcación de patentes segúndierentes criterios



5. clasificación de patentes según diferentes criterios


5.1. Introducción

Mh - .A , -

. E q h , q z , , , .

E q . H q “” ( z ) , ñ, - (

, , .). E , z, . E é q h .

E z : , , q qh . Té -

ñ . E - .

5.2. Campos tecnológicos

P q , z é.E h , hh . É é , q

z ( , q ),q , é.





P q z q , h

q , z , . E .1 - é z ñ 90. A z , h z q :

• N é ( ), , - , .

• C (z ), ,

( , , h , é).

• Fz z ( ), , ( h) - ( ).

L q é :

(,, ). E z -, , .

1988 1989 1990 1991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002 2003 20041987

0,00

0,20

0,40

0,60

0,80%

G .1. Tendencias en patentes de células de combustible,*proporción de patentes presentadas con arreglo al PCT, 1987-2004

N: L h , .

* L é CIP H01M8/00-8/, h PCT, , OEP.

Fuente: B OCDE.





5.2.1. El sistema de Clasifcación Internacional de Patentes

P q é, - é. E h q é .

A q -, h q . E C I P (CIP) A E 1971, é , - , . A, CIP 100

. E CIP é-, .

S G CIP (8ª , 006), z . P , é - q . U é CIP; C- .1 E é q h . S , -. C 006, h -, q q h . D 007 h 10

T .1. Características principales de los códigos CIP (ejemplo)

Subdivisión Número Símbolo(letra de

código)

Título (etiqueta de código)

Sección 8 G Física

Subsección 20 Instrumentos

Clase 118 G06 Computación, cálculo, conteo

Sublase 616 G06F Tratamiento de datos digitales eléctricos

Grupo prin-cipal

6.871 G06F-9/00 Disposiciones para el control por programa,por ejemplo, unidad de control

Subgrupo 57.324 G06F-9/06 • Que utilizan un programa almacenado

G06F-9/46 •• Disposiciones para la multiprogramación

Fuente: Oz M P I (006), Guía CIP, 8ª .





CIP8, 9% h z CIP8. L

q

q . L 8ª z (é .1 ).

L OEP ECLA (S C E), q CIP (10.000 70.000 CIP). L USPTO z C P E- U (USPC). L USPC 160.000 q E- U

h . T - . É qñ q . E é , USPC - q CIP. L USPC q , .

A CIP, O P J (JPO) , FI ( fle index h) F- (é h). L FI

CIP ECLA. C CIP “ CIP” é “ -h”. L CIP h FI q. E F- é, CIP, q é. C é FI, - “”, F- q - h F-. N

F-. A JPO.

U - CIP O q . E OEP, CIP , , q . E JPO, CIP ( q ) (1). L ; z ( sotware z) z h -





. E , q , - . S z CIP ( , CIP).

5.2.2. La identifcación de campos tecnológicos

L q CIP é -. N , , , q é q q , , TIC (- ), .E h q

: CIP q .E é-

é. E , q q q . L , q . A, :

• B CIP ( é) q z q - .

• B ( , -, é).

• A , , CIP -.

U q - é - .

P , OEP . E , 00 ( NTWG, é). A -

. Dé z , OEP . S z 1 z q Y01N.

L OCDE h ñ é: TIC,, , -, . E : i) é ii) CIP . L





é CIP ( CIP ). P , CIP h -

. E Y01N , q , , h . E .1 é . . C h -, q . E G . ( - CIP ) é .

G .. Cuotas nacionales en eltotal de patentes de célulasde combustible,** 2000-2004

G .. Proporción de técnicasrelacionadas* en patentes de

células de combustible,** 2000-2004

N: L h , .

* L é CIP H01M8/00-8/, h PCT, , OEP.

** S h é CIP é : S (B01D), q (B01J), q é - h é (B60L), h (C01B), , , , (C0B), (C08J), é-

(CB), , (H01B1), é (H01M,,6,10,1), é (H01M8).

Fuente: B OCDE.

2000-2004

Japón

Estados Unidos

Alemania

Canadá

Reino UnidoFrancia

Italia

Holanda

Corea

Australia

Suiza

Dinamarca

Federación Rusa

Otros países

0 %20 40

1995-1999

H01M8

H01M2, 4, 6, 10, 12

C01B3

B01J

C08J

C25B

B01D

H01B1

C04B

B60L

Otros países

0 10 20 30 40 %

9,5

0,2

0,4

0,9

0,9

1,9

1,2

1,6

2,9

8,4

//

72.8





E OST-INPI/FhG-ISI (O S Th, I- N Péé I) I Fh I I S (Fh I S I Rh) h é.

C 0 é, q CIP q . C C, h .

5.2.3. La especialización sectorial de los países

L h z . M , -

z z (S W, 198). E “ z” “ ” (“ h, RTA) (i) (d) :

E - , 1 q ( z) z ( q ) é -z. E

q -1 +1. L RTA , . U RTA 1, q q - .

S z , z h . S , q h ; ,

= ∑∑

∑

id

id

di

id

d

id id

P P

P P

RTA

,,,

,,

/

/





G .. Índice de especialización en patentes de biotecnologíapresentadas ante la OEP*, 2000-2002

N: L , h .

* E 10 OEP 000-00.

Fuente: B OCDE.

, z . E G .

z 10 OEP 199-00

5.3. Clasifcación por sectores

L I+D . S ,é , q qh q q é. L - , STAN OCDE z , :

• L : ( I+D) h (- ) zq ( , P, 198,Uk, 007).

•

L z z- ( , D y otros, 1990, M M, 00).

2,5

2,0

1,5

1,0

0,5

0,0

D i n a m a r c a

N u e v a

Z e l a n d a

A u s t r a l i a

C a n a d á

E s t a d o s U n

i d o s

I s r a e l

C h i n a

I n d i a

F e d e r

a c i ó n R u

s a

G r e c i a

S i n g a p u r

B é l g i c a

R

e i n o

U n i d o

H u n g í a

I r l a n d a

N o r u e g a

P o l o n i a

B r a s i l

E s l o v e n i a

H o l a n d a

U n i ó n

E u r o p e a

T a i w

á n

F r a n c i a

S u e c i a

E s p a ñ a

A u s t r i a

C o r e a

J a p ó n

A l e m

a n i a

S u i z a

S u d á f r i c a

F i n l a n d i a

R e p ú b l i c a

c h e

c a I t a l i a

T u r q u í a

L u x e m b u

r g o

Media del total mundial

1995-1997





• T ( , ).

L h -

:

• A , ad hoc .

• A ().

• E a priori ( ) CIP .

E h z é z q .

D é h é.C Shh (00), , : i) -: , ii) - : ; iii) : iv) .

S -

: i) industrial ( ), ii) uso ( q q ).

C h q. S , -, q , , . L

ñ é : , , , q . S q qñ é z, - . A q - , z .

U - “C Y”, E, P K (1991) -

O C P I (C- I P O, CIPO). E 197 199,





CIPO CIP - (I M, IOM) (S U, SOU) 00.000 .

U “C OTAF”, USPTO S C E P (USPC) C I E (S I C-, SIC), 197. S USPC q , SIC 197. E SIC q - (1 ). L - z , ñ, q

h USPC. S h z N C I (Nh A I C S,NAICS). O Jh- (00), O P C. I , - 11 .

U ñ Shh (00), I Fh I I S (Fh I S I Rh ), O-

C Té, F (O S- Thq, OST) I C P U S (S P Rh U, SPRU). L . S .

P, , NACE ISIC ( ) . E , é 6 CIP ( )

. E , q é - , .00 - (). E z . E , - ( , ).E z E. L z OCDE ANPAT, STAN(q ñ, , I+D, ., 0 , z 1971).





G .. Patentes por sectores e I+D de las empresas,*solicitudes PCT 2002-2004

N: L h .

* S T C M P-

, , O E P - I+D 1999-000 (000), q 00-00 OCDE.

Fuente: B D OCDE.

B , . I+D ( OCDE) . L I+D, é, , , q . P , -

é, é I+D , , .

5.4. Clasifcación regional

D ñ , ñ , q

ñ . A h , :

Alimentación, bebidas,tabaco

Tejidos, vestuario, piel

Ind. madera, papel,

impresión y publicación

Coque, productos refinadosdel petroleo y combustiblenuclear

Productos farmacéuticos

Cauchoy plásticosOtros productos

minerales no metálicos

Prod. metálicos

básicos y

manufacturados

Informática

Maquinaria y aparatoseléctricos

Radio, equipos de TV

comunicaciones

Instrumentos médicos, deprecisión y ópticos

Vehículos a motor,remolques y semiremolques

Química (excl. farmacia)

Maquinaria y equipos

Otros equipos de transporte

1

10

100

“Log patents”

1 10 100 1 000 10 000 100 000

Log R&D





• E .

• L (J , 199, Ah F, 1996).

• L ( ) ( , P U, 000).

• L ( , Bh L, 001).

L q - . E ,q , (ZIP), h - ( )

( , , .). L z ( ) q é .É . C , h q q z. P , USPTO - (ZIP) , ( ) .6 P z h

h q , hh q .

L . L OCDE z - TL ( “ ”, “territorial levels”), q - ( TL 00 , TL .00 , , OE A E (Bureau o Economic Analysis, BEA), , départements ). E U E, NUTS (N U T E, N Ué TSq), C E. L OCDE h (PCT; OEP) TL (é M

y otros, 008).7 E .6 é TIC.





G .6. Patentes TIC por regiones en Europa, Estados Unidos y Japón*

N PCT () PCT () 00

N: L h , - . S 100 PCT 00.S q 60% - . S 100 PCT 00. L TIC C I P (CIP).

Fuente: B OCDE.

C z , . E , -, z . E

(q z ). L z (), . A, ( , TL TL). E E, P L . E , h h . L q z q hh . L

.

Noord-Brandt (Holan.)

lle de France (Fran.)

Oberbayern (Aleman.)

Etela-Suomi (Fin.)

East Anglia (Gran B.)

California (EU)

New York (EU)

Texas (EU)

Massachusetts (EU)Illinois (EU)

Tokio (Jap.)

Kanagawa (Jap.)

Osaka (Jap.)

Saitama (Jap.)

Kyoto (Jap.) 0 5

0 0

1 0 0 0

1 5 0 0

2 0 0 0

2 5 0 0

3 0 0 0

3 5 0 0

4 0 0 0

4 5 0 0

5 0 0 0

Figura (a)

0 2 0 0

4 0 0

6 0 0

8 0 0

1 0 0 0

1 2 0 0

Noord-Brandt (Holan.)

East Anglia (Gran B.)

Lansi-Suomi (Fin.)

Etela-Suomi (Fin.)

Pohjois-Suomi (Fin.)

Massachusetts (EU)

California (EU)

Oregon (EU)

New Hampshire (EU)Washington (EU)

Tokio (Jap.)

Kyoto (Jap.)

Kanagawa (Jap.)

Osaka (Jap.)

Saitama (Jap.)

Figura (b)





5.5. Sectores institucionales

E : , ( , , h). L - ( ) :

• E ( , L Bh-D E U , é Mw y otros,001).

• L

ñ ( , V C, 00).

L , I+D, .

L é ñ q “” (é C .1). Dh

, ( , ) é q - ( , I., L.). S - , q - .

V L y otros (006) h E q (é .). E Manual Frascati OCDE (00),8 : i) , ii) , iii) , iv) -, v) h vi) z .9

S - . L h q q , q - . E , , , q . L , q - , h. P , , . S -

.





L - z. P , h - “”, “z ”

“ ”, q. E q z q , q q . P , ; -é, q -, ñ z .E q q z E OCDE.

T .. Ejemplos de palabras clave/pistas utilizadas para identicar

los sectores del titular de la patenteSector Palabras clave

(1) Persona física “*DIPL.-ING.*”; “*PROF.*’; “*DR.*”; “DECEDE*””DECEASED*”;“*DIPL. ING.*”; “*P.HD*’; ‘*DIPL.-GEOGR.*”; “*ING.*”;‘”*EPOUSE”*

(2) Empresa privada “*SA*”; “*S.R.L.*”; “*HANDESLBOLAGET*”; “*ING.*” ; “*INC*“ ;*LTD*”; “*S.A.R.L.”* “*BVBA*”; “*S.P.R.L. *” ; “*NAAMLOZE VEN-NOTSCHAP*”; “*AKTIEBOLAG*”

(3) Universidad “*UNIVERSI*”; “*UNIV.*”; “*COLLEGE; “*SCHOOL; “*RE-GENTS*”; “*ECOLE*”; “*FACULTE*”; “*SCHULE*”; “*UNIVERIS-

TY; “*UNIVERSITY*”;(4) Hospital “*HOSPITAL*”; “*MEDICAL CENTER*”; “*MEDICAL CENTRE*”;

“*ZIEKENHUIS*”; “*CLINIQUE*”; “*NOSOCOMOIO*”; “* CLINI-CA*”; “*POLICLINICA*”; HOPITAL*”; “*HOPITAUX*”

(5) Organizaciónprivada o pública sinánimo de lucro

“*GOUVERNEMENT*”, “*MINISTRO*”; “*INSTIT*”; *ÏNSTYTUT*”; “*FONDATION*”; “*CHURCH*” ; “*TRUST*”’ “*KENKYUSHO* :;“*STIFTUNG*”

Fuente: V L . (006).

D q -

-. L : q . L q - ( - ). C - ( ) q h 0% (N y otros, 00). O -

; , h 10%.





5.6. Patentes de empresas

L q - h . P , :

• R , é - , é.

• Az ( é - ).

A , I+D, -, z , ., h : ¿qé ?, ¿ I+D ( é )?

E - : , é . P h ; hh q -

h ( , :IBM, I B Mh); h ñ ( , S, S AG); , ( ,S US S), (Cö PSA). N q , h ( , Ph).

L , ,

q h q é z . P , z , q Hw Pk, D Eq C Cq ; , “AC” z “A” ( ).

L z z z. P , USPTO z

q . L OEP z - , q h JPO q





. N , - .L z z (q , ):

• Lz (z “L”, “GH”,.) z .

• C z ( , A E, C E U).

• R - ( ), z ( ,

“Wh Ow Wh”).

L , z- . E é . S z q z. E é -.10 E é , - q

. A : h USPTO OEP, Dw.Té - z ( , M y otros, 006).

L z ( , A,C, .) é, - . P , q ( -), , q -

PCT. L h q , - . P , - . E ,

, é q . N , q q . C , -

. P , ( q)





.

E

NBER USPTO, z C- (www.nber.org/patents), KUL E (M , 006), Th T (007) Th ( ).

5.7. Patentes solicitadas por inventores

U h h

é - h . S - z . P :

• L – , , , . (H, 007).

• L – , , , ( , )

h (K y otros, 00; C y otros, 00).• L (qé -

qé) (Sh, 00; Bh L, 00)

• C é: é (N y otros, 00).

L h z - q ,

“qé qé” . T h h-h q z . E , (- , , .). E , z - , q ( “Jh Sh”). E , - q . E

, ü (“L” “L”).





L h z q h h . P , T, Sh M (006), q

h USPTO, :

• Fase 1: . P q - , é .P “” z ; é z “S”, q q q .11

• Fase 2: . P

“h” , é -. P h “-h” , , ( , , , .), ( , ), , , . S h- ( , , - , , .) . S

, “” q .1

Notas

1. L CIP , , , . L CIP h (A: N- ; B: Té ; T; C:Q, M; D: T, P; E: C ; F: M, I-, C, A, V, G: F; H: E). E z ,

q .. N F- ;

.

. E Y “q ”. S q q é CIP, ñ -qñ q , Y. L q é - OEP : “E é - ñ é 100 , , q

h ñ. E q é , , , , 100.”





. E RTA , é ( , - ).

. O z :

, -, “” ( ñ ) CIP.

6. L q OEP q USPTO PCT (WO): , OEP . E USPTO, z .

7. L B D P R (OCDE) M E P OEP (PATSTAT): OEP, USPTO PCT (P OMPI) - OEP ( w E).

8. D q ( ) F; , “E” . E M F (00) OCDE - : ) , ) , ) , ) ñz ) . L h

.

9. L USPTO z : N (q - h h ) : z - , z -, , , -.

10. D “D E” Lh, q - , M

S J, q z é. O , S N-, , J - .

11. S é , é. E q q q q - q .

1. U z , -

, , A B, B C, q .





Reerencias

Ah, D.B. M.P. F (1996). “R&D S h Gh I- P”, American Economic Review, 86, 60-60.

Bh, S. F. L (001), “Kw S L I S:A C S”, Industrial and Corporate Change, O U P, V.10(), 97-100, .

Bh, S. F. L (00), “M S Nwk: L KwS R”, D T CESPRI 1, C Rh I I, U B, M, I.

C, G. A., A. G L.J. N (00), “L M A I:C D Kw T”, Documento de Trabajo Electrónico deSPRU S 19, U S, SPRU-S Th P R-h.

D, G., K. P L. S (1990), The Economics o Technical Change and InternationalTrade, H/Whh.

E, R.E., J. P S. K (1991), “E P C IU h Y-C C”, F N C.

H, K. (007), “T M I: Th C w I M I P”, Research Policy, 6, 619–66.

J, A.B., M. T R. H (199), “Gh Lz Kw S E P C”, Quarterly Journal o Eco-nomics 108, 77-98.

Jh, D. (00), “Th OCDE Th C (OTC): P I M S U”, D T OCDE C, T I 00/, D C, T I-, OCDE, P. www.OCDE.org/sti/working-papers

K, J., S.J. L G. Mhk (00), “Th I U Rh I- I”, D T NBER 117, .

M, T., B. V L X. S (006), “D P Mh H-z P S: P N Hz”, D T

KUL . MSI 060.M F. F. M (00), “E F A I T-

h Sz: h R Kw Fw h S I A”, Journal o Evolutionary Economics, V. 1, . , 11-.

M Séh , Héè D, C W, Vz Sz, Dq G(008). Th OECD REGPAT D: A P. D T OCDE C, T I, D C, T I, OCDE, P, www.ocde.org/sti/working-papers.

Mw, D.C., B.N. S A.A. Z (001), “L P: I

E, L, h Ch US U P hBh-D A, 1981-199”, Management Science 8(1), 7-89.





N, F., D. Lz, A. V I.V. P (00), “S Th P- G”, H.F. M y otros (.), Handbook o Quantitative Scienceand Technology Research: The Use o Publication and Patent Statistics in Studies on R&DSystems, Kw A Ph, Dh/B/L, 99-1.

N, E.C.M., R.K. B, A.F.J. R, U. Shh, T. Hz, S. Hz R. R-w (00), “M E S Th E. N- Nh”, CWTS, L.

OCDE (00), Frascati Manual: Proposed Standard Practice or Surveys on Research andExperimental Development, OCDE, P.

P, R. S. U (000), “Th E I D: A A- h R D I A E”, Regional Studies,T F J, V. (), , 97-11.

P, K. (198), “S P Th Ch: Tw T

Th, Research Policy 1 (6), -7.Shh, U., F. L, P. P R. Fh (00), “Lk Th A

I S”, DG I CE.

Sh, J. (00). “M F Kw D: E U P- C D”, .

S, L. S. W (198), “Th U F P I C- S Th O I, Scientometrics , , 1–.

Th, G. L. D., S. T, A. G, D. G, B. H. H D. Hh (

008), “H A’ N PD”, D T OCDE C, T I-, D C, T I, OCDE, P, www.OCDE.org/ sti/working-papers

Th, G. L. D. S. T (007), “C Pw I IS wh A Mh Ah. A PATSTAT A ”, D T CESPRI 11, CESPRI, C Rh I I, U’ B, M,I, 007.

T M., G. Sh R. M (006), “Th ‘N G’: H I-’ P D E Rh”, D T NBER179, N B E Rh, I.

Uk, H. (007), R&D, I Gwh: E F MS OEDC C”, Oxord Economic Papers, 9 (), 1-.

V L B., M. D P T. M (006), “D P Mh H-z P S: P S A”, E/D T U.C. L.

V, R. B. C (00), “R&D C w F U-: S E E B M”, International Journalo Industrial Organization, , -6, -79.



119

Capítulo 6

El uso y análisis de las citas en las patentes



. el uso y análisis de las citas en las patentes


6.1. Introducción

E é h . Dq é -, h . E

. E , h - q q , , h .

L h é - , , , . E : é, ( , , , .), , é.

E q CT.E , h hé h z . E .

6.2. ¿Qué son las citas?

L , , q q q - - . P q h é, é . N , é . P , é , q h q . S B

A, q q z B q z B. P





q q - .

E , q é z - q ( q “ q”), q . L é q é.L q é - q q .

E . L , , q , q q . E (Non-Patent Literature o NPL) , , , , é, , é.

6.3. Usos y aplicaciones de los indicadores de citas

E q . E z é q : i) ( , J

y otros, 199); ii) ( , Hh yotros, 00); iii) é ( ,P y otros, 1996).

L (backward citations

) . L - , q h , , , . N -, “ ” , q q q q, q - z ( , J y otros, 000).1

L ( orward citations q ) ,





, . E - . S h q . S h

q ( , ) h ( ). D - , h q q q q é (Lw y otros, 1998) ( , Lw Shk, 1997; Hh y otros, 00).

6.4. Práctica de las ofcinas de patentes en materia de citas

L . D , q q z USPTO, é q - . L q .

L USPTO - é q

(“Duty o Disclosure, Candor, and Good Faith” ) E , q . L - é . H é - USPTO, q - .

E OEP q. E é , . L PCT OEP ( 9%) ñ -

q. S é (q q-), q , é é q h ( , OEP ).

A, q ( ) q q . S OEP, q

.

H q h q - USPTO





(h 006). E, é OEP, hh q - USPTO q OEP (é 6.1).

E JPO, q é; , é q é ( , 00 006). N h q .

T 6.1. Frecuencia de reerencias de patentes y literaturano patente (USPTO y OEP)

Patentes concedidas por la USPTO cuyo año de solicitud está ubicado entre 1991 y 2001

Número totalde patentes (1) 1.299.817 Número total

de referencias 17.757.797

Número de paten-tes que contienenreferencias deotras patentes

1.173.593 Numero dereferencias depatentes

14.738.854 Intensidadtecnológica 12.55

(90%) (83%) Con (1) como denominador

11.33

Número de paten-tes que contienenreferencias deotras patentes

445.466 Número dereferencias deliteratura nopatente

3.018.943 Intensidad deNPR

6.77

(34%) (17%) Con (1) como denominador:

2.2

Patentes concedidas por la OEP cuyo año de solicitud está ubicado entre 1991 y 2001

Número total depatentes (1) 342.704 Número total

de referencias 1.698.218

334.413 1.404.241 Intensidadtecnológica 4.20

Número de paten-tes que contienenreferencias depatentes

(98%)Numero dereferenciasde patentes

(83%) Con (1) como denominador 4.09

Número de paten-tes que contienenreferencias deliteratura nopatente

130.511 Número dereferencias deliteratura nopatente

293.977Intensidad deNPR

2.25

(38%) (17%)r Con (1) como denominador

0.86

Fuente: C y otros (006).

T OEP PCT, (W y otros, 00):

• L q q, - , . U () q q WO





(OMPI).6 C OEP q h - ISA ( q -), OEP z q q “ q ”.7

• E q z PCT OEP “ ”. C , (WO) OEP. P , q q .

H h , : OEP - E U UPSTO. R OEP, h hh q - . T . P , q PCT (WO) q - ( q ): ,0 6,7 ñ q ,7 1 ñ (H-h y otros, 006).

C - (NPL) h q . A h z :

Los documentos de patentes no tienen una relación unívoca con las invenciones. L . U - (Hh y otros, 006).8 U , q ( USPTO, OEP JPO). C C , q- q q . S . U q - ; , ( ) q . C , é , q .





C 6.1. El problema de los equivalentes.

El caso de las citas de patentes europeas (Harho y otros, 2006)

S h z , q - problema de los equivalentes ( q q (- C ).L . E q EP-x WO-a, EP-w US-z. N , - WO-a q EP-y OEP; q US-z q (EP-z y EP-) EP.

E . D , - , . N , qé ( , EP-y, EP-z EP-x) h - (q), ñ. A z , q -EP q EP, -

.D , q -

: Sean X y Z dos ofcinas de patentes distintas. Unareerencia a un documento de patente del sistema X se tomará como válidaa eectos del recuento de citas de una patente del sistema Z, si el documentodel sistema X es un equivalente de la patente del sistema Z . E , -EP - q EP, .E , , , - ( ) q EP q EP.

Referencias de documentos equivalentes

Documentos EP Documentos equivalentes

Informe de búsquedapara la patente EP-x

Documento WO-a Documento EP-y

Documento EP-wDocumento EP-z

Documento US-zDocumento EP-v





E OEP, h “” , . E OEP, ( ) q -

EP. A , Mh B (001) h q 90% z OEP EP (OEP), DE ( DPMA), GB ( O P I RU), WO ( OMPI) US ( USPTO). L EP . E - US, é , h , q USPTO USPTO. E - JPO, 90% q q (Mh B, 001).

6.5. Indicadores basados en citas

6.5.1. Análisis comparativo de las citas

L . N , q hh q 10 100 h “ ” . E ,

q , , q h .

E , - q . S , q . P, , h-h USPTO: i) q ñ h ; ii)

h ; iii) () “” - q . E , q .

C , q “é” q h zq ( q h). E , q h . P q

h ( ), . E , , q h zq





( ). S h , - “” , , h ,

“” é.

L q h (H y otros, 001).

• E , el número de citas que recibe una patente determinada se trun-ca q h h. L q , ü - “”. H h .

• E , las dierencias en las prácticas de examen de patentes éq q - . E NBER USPTO, 1999 q 197 (10,7 ,7).

• E , hecho de que el número de patentes conce-

didas también ha ido creciendo cada vez má .A q , “ ” - é. L q “” , q q q , .

• Y , el número de citas que se hacen (y se reciben) por patente varíaconsiderablemente en unción del campo tecnológico o de la madurez de la tecno-logía. E ,

, q , h , . E “” ; , .9

S é é . E, é , , é -

q q . E é q -





. E , “” , , - .

P 1990 198 , . E , q , q z . D, é q h - . L é q q h q

- . L q, q , q “” q q .

E é, método cuasiestructural, - é.U z , - . S h h é , é q

é (é H y otros, 001, é ).

6.5.2. Indicadores de citas retrospectivas

C . E q - ( , ). E - , . M é,

q , , - ( por ejemplo, T y otros, 1997, N , 1997; S Z, 00).

E acumulatividad tecnológica q . L ( ) , - : q q

z, q “” . R -





( ) h - .

U h q h - q é ( ). S M O (199), q - z .

Retardo de citación. E é h q - h q - h q . E , , ñ ,

q .L , , h , .E h h . L - OEP OCDE q - q ( , h , q h ) h q q (W y otro, 00). D ñ

:• P q

JPO, ( q OEP) 18 h .P , , h q (h ) h . S h q h .

• S q E U, h 000 h - , . S q, 18 - h .10

• L q OMPI q OEP ISA h . S -

, - h q q . S





q q OEP h , h .

Tiempo de ciclo tecnológico (TCT). B , ñ.E z q , antigüedad media ñ . L ñ q z . E , ( ñ); , (

z ñ). L h ñ.

6.5.3. Indicadores de citas posteriores

Citas posteriores por patente. C , h q - q - (T, 1990; Sh y otros, 1999) , q (Lw Shk, 1997; Hh y otros, 00).

E impacto en citas é- (é é - S 6..1). S q q é ( CIP ) h (ñ ).E é - ( ,

, é H y otros, 001).L generalidad de la patente Hh

(T y otros, 1997; H y otros, 001): G=12

∑−ni

i ij s ,

ij

q i q j, 1 .11 U q h , q h -. E impacto geográfco (1- Hh ), , é q

. L , q h . A,





q h , , , .

D :

• L - : , q . A, ( é, , ) q é , permaneciendo el resto de actores constantes(ceteris paribus) , .

• C h H y otros (001), z q -. B, “” q z é h, q ; , qñ q . E ñ .1

A ñ,

(N, 000):• Índice de Impacto Actual (Current Impact Index, CII):

q ñ ñ , -, . U 1.0 ; .0 ; 0. 0,% . E ñ . E CII q .

P , , - é, , . S h q CII .

• Fortaleza tecnológica (Technology Strength, TS): ñ - , . M TS q, q ñ , q . L

ñ z q é .





• Índice de Rendimiento de Citas: q q ( , 10%) ( ) ( ). E é

. P , i q 10% - .

6.6. Literatura no patente (NPL)

L . L “-

” q I+D , , q . E q q - . E h (N y otros, 1997; M, 000; Vk y otros,00). C , . E

- , q , q ( , ñ).

N , - h . C S 6., é

q . E OEP, q - q h - é, h q q z . O q z , q - q (T, 00).

L (Non-Patent Literature, NPL)

, q é -: , (





ADN, , q, .) ( , , .). E 6.

- USPTO OEP, 6. . E q , , q . L , “ -” online .

T 6.. Frecuencia de reerencias a revistas y otras uentes distintasde éstas en la USPTO y en la OEP (en total de literatura no patente)

V ( é, )

Revista No-revista Total literatura no patente

USPTO 2766 (55%) 2242 (45%) 5008

OEP 3218 (64%) 1803 (36%) 5021

Total 5984 4045 10029


T 6.. Frecuencia de aparición de reerencias a uentes distintasde las revistas en la USPTO y la OEP

(V é, )

USPTO OEP Total

Actas de conferencias 381 (17%) 612 (34%) 993

Documentos relacionados con la

industria

560 (25%) 304 (17%) 864

Libros 333 (15%) 186 (10%) 519

Libros de referencias/bases de datos 234 (10%) 600 (33%) 834

Documentos relacionados con patentes 327 (15%) 46 (3%) 373

Informes de Investigación/técnicos 138 (6%) 27 (2%) 165

Periódicos 106 (5%) 10 (0%) 116

No está claro/otros 163 (7%) 18 (1%) 181

Total 2.242 (100%) 1.803 (100%) 4.045






U OEP 0.000 - ( T C P PCT) q, 1 ñ, - CIP NPL (

1%) h , é, q TIC (G 6.1).1

L NPL - ( 6.). P , h - é, q h .

E 1990-00, % h NPL.H ; h , - . R - ( 6.), 18%, hq 10 %. L q TIC - , q q I+D TIC.

U z q h , ñ . C - , . A q , , q - (Shh, 1997; Vk y otros, 00).

U ñ q . U h q ñ (“- ”). L - q h q ( , Nk, 007).





10

0

20

30

40

50

60

70

% Biotecnología, farmacia u otra química orgánica fina ICT Otra Otra

A 0 1 H

C 1 2 N

C 0 7 K

C 1 2 Q

C 0 7 H

C 1 2 P

C 0 7 J

G 0 6 N

C 0 7 B

A 6 1 P

C 0 7 F

A 6 1 K

G 0 6 T

G 1 0 L

C 0 7 D

H 0 3 M

H 0 1 S

G 0 1 N

A 0 1 N

C 0 7 C

H 0 4 L

A 0 1 K

A 2 3 J

G 0 6 F

A 2 3 K

C 1 1 B

C 3 0 B

B 8 1 B

A 2 3 C

C 0 8 B

G 0 1 R

H 0 5 H

H 0 3 H

G 2 1 K

G 0 2 F

H 0 4 J

H 0 4 Q

G 6.1. Proporción de NPL en las citas, en los inormes de búsquedaen solicitudes de patente PCT 1990-00, CIP*

3020151050

India

BélgicaCanadáHungría

Reino UnidoBrasil

Otros OCDE***Italia

FranciaIrlanda

Estados Unidos

Suiza

Alemania Austria

TotalDinamarca

AustraliaHolandaEspaña

RusiaNueva Zelanda

SueciaChina

NoruegaFinlandia

Japón

Sudáfrica

Corea

India

CanadáHungría

Estados Unidos

Nueva ZelandaBélgica

Reino Unido Australia

IrlandaDinamarca

Total

China

FranciaOtros OCDE***

HolandaSuiza

ItaliaRusia

EspañaCorea

DinamarcaJapón

Austria

FinlandiaNoruega

Suecia

Sudáfrica

Brasil

302520151050% %

G 6.. Proporción de NPLen las citas–todas las patentes

1990-00, **

G 6.. Proporción de NPLen las citas–TIC

1990-00, ***

* S q CIP ( 600) NPL (1,7%) 10 1990-00.** S .

*** O OCDE R Ch, G, I, L, Mé, P-, P, R Eq Tq.Fuente: B C P OCDE-OEP





6.7. Otros indicadores basados en las categorías de las citas(inormes de búsqueda de la OEP y PCT)

L q PCT OEP q é (Shh, 199).L OEP - : i) ñ q (h ); ii) , q h q; iii) ñ ; iv) ; v) .T q, q ( h ). Vé 6. - .

T 6.. Categorías de citas en la OEP y el PCT

X Documentos especialmente relevantes tomados de forma aislada (una invenciónque se reivindica no puede considerarse nueva o no puede considerarse que supon-ga actividad inventiva).

Y Especialmente relevante si se combina con otro documento de la misma categoría.

A Documentos que denen el estado general de la técnica.

O Documentos que hacen referencia a divulgaciones no realizadas por escrito.

P Documentos intermedios (publicados entre la fecha de presentación y la fecha deprioridad).

T Documentos relativos a teorías o principios subyacentes a la invención (documentosque se han publicado después de la fecha de presentación y que no entran en con-icto con la solicitud, pero se han citado para entender mejor la invención).

E Documentos de patentes que pudieran entrar en conicto, publicados en la fecha depresentación de la invención subyacente o con posterioridad a ella.

D Documento que ya aparece citado en la solicitud (aportado por el solicitante).

L Documento que se cita por otras razones (por ejemplo, uno que puede planteardudas en cuanto a una reivindicación de prioridad).

Fuente: D OEP E O E P, 00 (176 .).

E z , - q ( X, Y E).L X Y, q é, , .L X . S - X, q , , q , q q . P, z





, q h , , . E - q, q qé ()

é.

L q ( D) - q é é . E - h q q q. L A - é ( é). E hh q

é é q ñ é - .

Notas

1. E q - ( 1.99 USPTO) , q ( -, J y otros, 000).

. L USPTO ( ) , . E z q h .

. P , é Directrices para el examen de la Ofcina Europeade Patentes, q z . Dé , q , , , q .

. S q , q .L z -. E q h , h h h h , q .

. T C y otros (006), - USPTO OEP, é- . L

USPTO q OEP. E , % USPTO , q OEP





8%. Té q OEP ( 6% , % USPTO).

6. R q é OEP, ISA. F, q q q OEP q h . E , . L q - WO 1 ISA ( 009). S ISA A, A, B, C, Ch, C, Eñ, EU, F, J, I N, R, S O E P.

7. P , é Directrices del PCT para la búsqueda internacional y el examen preliminar OMPI; www.wipo.int/pct/en/texts/pd/ispe.pd

8. E OEP, - , , , - q é . L é q z . C q , OMPI, USPTO, DPMA (O A P M) , , .

9. L é . L , é- (H y otros, 001).

10. C L A P I (AIPA), q 9 1999, q q E U USPTO 18 h . E hh , USPTO -

q .

11. S , ( ), q , ( ).

1. L , , H y otros (001).

1. E - , spin-os , - I+D -ñ .





Reerencias

C J., B. V L, A. Vk, K. Dk B. Th (006), “T P A.A A N-P R F wh P D”, Sciento-

metrics, V. 69, . 1 , -0.H B.H., A. J M. T (001), “Th NBER P C D: -

, h h ”, NBER Wk P, . 898.

Hh, D., K. H C. W (006), “E P C-Hw C Hw I Th?”, , .

Hh, D., F.M. Sh K. V (00), “C, F Sz, O hV P Rh, Research Policy, E, (8), 1-16.

J, A.B., M. T R. H (199), “Gh Lz Kw- S E P C”, Quarterly Journal o Economics 108,77-98.

J, A.B., M. T M.S. F (000), “Kw S P C-: E S I”, American Economic Review, AE A, V. 90(), 1-18.

Lw, J.O. (1998), “P P h Shw I: SE P V”, The Review o Economic Studies, V. 6, 671-710.

Lw, J.O., A. Pk J. P (1998), “Hw C P V I- P: U P Rw A D”, The Journal o Indus-trial Economics, V. XLVI, . , , 0-.

Lw, J.O. M. Shk (1997), “S F P L: V, S Owh”, S NBER, NBER, C, MA.

M, F. L. O (199), “Sh P I”, Cambridge Journal o Economics, O U P, V. 19(1), , 7-6.

M, M. (000), “D S Ph Th? P C S L”,Research Policy, V. 9, . , z, 09-.

Mh, J. B. B (001), “P C A-A k h h ”, Scientometrics 1, 181-01.

Nk, S. (007), “A h R&D M F T S S Lk: E h US P”, Journal o Economics and Manage-ment Strategy, V. 16, . 1, , 19-16.

N, F., K. H D. O (1997), “Th I Lk w US Th- P S, Research Policy, 6, 17-0.

P, J.M., T.E. S M.T. H (1996), “Nwk, Kw Nh:C h Ww S I, 198-1991”, American Jo-urnal o Sociology 10 (), , 69–689.





S, B.N. A. Z (00), “P C h E V P-: A P A”, wh B.N. S H. M, W. Gäz U.Shh (.), Handbook o Quantitative Science and Technology Research: The Use o Publication and Patent Statistics in Studies on R&D Systems, Kluwer Academic Publis-

hers, Dh/B/L, 77-98.

Shh, U. (1997), I h R w S Th”, Scientometrics, . 8(1), 10-116.

Shh, U. (199), “T h Kw T S Th R P I”, Scientometrics, V. 6(1), 19-11.

T, R. J. W. (00), S D Th: E I h I”, Research Policy 1, 09-6.

T, M. (1990), “A P Y Q: P C h V I”, RAND Journal o Economics, 1(1), 17-187.

T, M., R. H A. J (1997), “U versus C P:A Ww h B I”, Economics o Innovation and New Tech-nology, . (1), 19-0.

Vk, A., K. Dk M. Lw (00), “S C P: A Gh‘Fw’ A Bh C P P”, Scientometrics 8(),1-6 (00).

W, C., H. D, D. Hh K. H (00), “A E I- P C: A S EPO P D B Bk”, D C, T I OCDE, 00/9, D C, T I OCDE, OCDE, P, www.oecd.org/sti/wor-king-papers



141

Capítulo 7

Indicadores de la internacionalizaciónde la ciencia y la tecnología



. indicadores de la internacionaliación de la ciencia y la tecnología


7.1. Introducción

L z z (OCDE, 007). L z - : q - , q ;

; , . S z q - . E , - (I+D), z I+D ( - , TIC) ( h I+D) q h -

. D h , .

H -z (CT). S I+D , I+D q , - (OCDE, 00). P q z I+D, - . L - ( B D AFA –Activities o Foreign Afliates– OCDE), .

L z -z é q . L - ( ),

, , . L , ,





h z . E - q . Té : q - z

. L C 6 .

7.2. Indicadores

7.2.1. Titularidad transronteriza de invenciones

C , - z. Uz q - ,

z (G Ph, 001):

• Titularidad extranjera de invenciones nacionales. E h - q q ( i, j=1,…. N, j≠i) q (P

i,j),

(Pi). L

é i :

i

ji

N

j

P

P ,1

• Titularidad nacional de invenciones extranjeras. E h - q h z é - (P

i,j), q

(Pij). L

i :

j

i j

N

i P

P

,1

E , z - q ( é ). P , q - . D , q z .1 E , , q





. C I+D . S - q : , , é

, q q q ( é - ).

7.2.2. Cooperación internacional en materia de investigación

O z , q . H q ( i,

j=1,….N, j≠i) (Pi,j) (Pi,). L :

i

ji

N

j

P

P ∑= ,1

D q z -, . L -

( ) ñ ( z ). E , - é .

L z . P , - z. D hh,

q ( é ). N, q z - - . N q q E - .

E 7.1 z OE P (OEP) 1990 00. E

( ), q





. A h , - z , - % 1990 7% 00. L z h ; 0% z ñ 90 z é 000. E , 00 1, 10 OEP z. L 7. 7. -

.

L h - z . Dh - z -, q , (, , .), , q , . L z , ( h

, , ñ), , é.

% Titularidad transfronteriza

1990

0

5

10

15

20

1991 1992 1993 1994 1995 1996 1997 1998 1999 2000 2001 2002

Coinvención Cotitularidad

G 7.1. La globalización cientíca y tecnológica segúnlos indicadores de patentes. Solicitudes PCT, 1990-2002

N: L , h - . S T C M P q O E P. Tz: q . C: - q . C: q - ( ).

Fuente: B D P OCDE





7.2.3. Ventajas de las patentes para la medición de lainternacionalización de la CyT y advertencias oportunas

L q h z z ( ) - ñ, q q . N, h q - , q z (OCDE, 00). E ñ :

• E , , q -

. D q - ( z é ), z.

• U - ex post, q , q h h - . Y , -

1991-1993 2001-2003 Estados Unidos

Federación Rusa

Lexemburgo

México

Hungría

Singapur

República Checa

China

Polonia

Bélgica

Irlanda

0,0 10,0 20,0 30,0 40,0 50,0 60,0 70,0 80,0 90,0 0% 20% 40% 60% 80% 100%

Otros países

Unión Europea Japón

G 7.. Titularidad extranjera de invenciones nacionales.S PCT 1991-00

N: L h z . P O E P (OEP) - .

Fuente: B D P OCDE.





z . E . N - é .

• L ( -) , q (é C ). E , (

, Bé C y otros, 006), , - .

S - . F, q , q ( , é Bk Bz-, 00). A , q

q é h z.

0,0 50,0 100,0 0%% 2 0% 4 0% 6 0% 8 100%0%

Canadá

Finlandia

Austria

Suiza

Bélgica

Holanda

Singapur

Suiza

Irlanda

Luxemburgo

1991-1993 2001-2003 Estados Unidos Otros países

Unión Europea Japón

G 7.. Titularidad nacional sobre invenciones de origen extranjero.S PCT, 1991-00

N: L h z . P OE P (OEP) .

Fuente: B D P OCDE.





E ( é -). C , q q q z-. S q -z .

L OCDE z NT ( ), q - ( 00, .00 , , BEA E U, , “-” , .). E U E, NUTS (N U T E-), C E (q q OCDE E).

7.3. Estrategias de titularidad y de investigación

L z , q - , . L z ( ) (z ). S z :

1. Titularidad exclusivamente nacional de invenciones extranjeras (

A B). E q h z ( ).

C 7.1. Dispersión regional de la actividad de patentes

L q

, q : - . S - , , q h q z ( ,, , , ). L , I+D , z q .





. Titularidad nacional que implica cotitularidad con un único inventor ( A B B ). E oint ven-ture .

. Titularidad nacional con coinvención ( A B A ). E q z -: - .

. Cotitularidad con coinvención ( A B ). E -. P , .

. Titularidad transronteriza o un inventor distinto de los países titulares (A B C ). E , h-, z . P , , q h ( , - ).

E 7. - z. P q -

z : 7% z , patentes de unúnico país titular con coinvención ( é ). L h % ñ 1990-199 9% 000 00, ( , é - ).

L (titularidad y coinvención, cotitularidad y coinvención y cotitularidad con un tercer país como inventor) -, hh h : q ( , - q ) 11% z. P , , , %.





G 7.. Composición de las solicitudes PCT con titularidadtransronteriza

N: R T C M P q O E P, - ñ .

Fuente: B D P OCDE.

Nota

1. U z -é -; , q é . N , é

z.

Reerencias

Bk, A. M. Bz (00), “P wh I D C:E S Mh I hh C S”, DRUID, Ch, 7-9 .

C, M. V P P, B. V, R. (006). “A h h: h ”.Scientometrics, 66(), 9-1.

G, D. B. Ph (001), “Th I ThA wh P D”, Research Policy, 0(8), 16-166.

OCDE (00), “Compendium o Patent Statistics 2005”, OCDE, P.

OCDE (007), “Compendium o Patent Statistics 2007”, OCDE, P.

Estrategia 5 Estrategia 4 Estrategia 3 Estrategia 2 Estrategia 1

1990-1992

0.29

0.07

0.13

0.47

0.23

0.07

100%

80%

60%

40%

20%

0%

0.23

0.42

2000-2002



151

Capítulo 8

Indicadores del valor de una patente



. indicadores del valor de una patente


8.1. Introducción

E é “ ” . P q “” q , . P “” , , . A h-

, , é, q q -: , , .

A, . E ñ hh q é , q . E “” , , é. U q - é - . L q q .1 N , q z , , é .

L q , , -

. T q é h q : q , h ( , ). C , , q , ñ: 100 , é . S é, h - : , ; z q , .





U - , , q q

( ). L h :

• Rz , ( ) ( , Sh y otros, 1999).

• Az (, , citas, renovaciones, , é).

• E ( , - , , . –H y otros, 00).

E , é ( q , q - ñ ). L q - ñ , . U - : , , “é” ( q ),

é.E é z-

q (, q , -, .), q é. A q ( , - q , [], .). O q h ,

.E é é -

( , z ), z I+D . P , - ( , q T) q q . E h q ( , ).

E - é. P -





é . E , h q . N

, ñ .

U , q :

• Recuentos ponderados: , , é.

• Recuentos de patentes seleccionadas (desestimando las patentes de menor valor):

, ( 10% ), ( ), - h ( , ñ), é.

8.2. Citas posteriores

E é ( ) q - (é C 6, ). E

q () h h - (Sh y otros, 1999) (T, 1990). E q z .

H q : , - , - q ( q

); , hh q - q h z . E , .

N , q q q , z q , - q z z z. P z , ( ). U





z q hq ( , ñ ).

U é h z :

CITi,T q

i ñ Pi T ñ .C

, q 1 j

i, 0 h. J(t) - ñ t. U hq q ñ , q h USPTO q 0% q ñ.

8.3. Indicadores basados en inormación procesal y en elcomportamiento del solicitante

S z - é ( , , ) é hq (- ) ( , - q h , ; é ).

8.3.1. El destino de la solicitud de la patente

U . U q q - q : , ( ) . Dh q - q é.

L , q ñ h q h - z q . P , C E

P q - h q q q h é.

∑ ∑+

= ∈

=

T P

P t t J j

i jT i

i

i

C CIT ( )

,,





L USPTO q . S -, q - , , h q

h: q z h , q h . L é , q ñ é .

M ( , , , - , , h ,.) q -

, (é G Ph, 000).6

8.3.2. Renovación de patentes

L ñ (q h q , é C ) h . L - hh q

. D q h q - . N q - h .

E , é - q .H, ,

. D h, é , - . E q -, (Gh, 1990).





T 8.1. Principales indicadores del valor de las patentescomentados en la literatura

Indicador Lógica subyacente Limitaciones principales

Concedida Protección jurídica limitada si no seconcede, comprobación por los exa-minadores.

No muy informativo (una granproporción: alrededor del 60%de las solicitudes de patentese conceden); en la USPTO, el95% de éstas se conceden.

Citasprospectivas

Importancia tecnológica de las inven-ciones; impacto sobre los desarrollostecnológicos posteriores.

Oportunidad (problema dedisponibilidad en el tiempo),interpretación.

Tamaño de lafamilia(número de jurisdicciones)

Es costoso disponer de protecciónen distintas jurisdicciones; signo delpotencialde mercado de una invención.

Cuestiones de representativi-dad, una gran proporción delas solicitudes de patentes soninternacionales.

Número deinventores Representan el coste de una inven-ción(coste de investigación).

Una medida genérica que daigualdad de trato a todos losinventores; necesidad de infor-mación complementaria sobrelos inventores (por ejemplo,carrera, patentes, etcétera).

Renovaciones Coste de mantenimiento de la patente;las tasas de renovación permitenestimarla distribución del valor.

Oportunidad, inuencia delos ciclos de vida tecnológica,tasas de renovación diferentessegún la tecnología (distintovalor).

Oposición Valor de mercado de una patente.

Costes y riesgos vinculados a litigios.

Oportunidad, una proporción

muy pequeña (alrededor del5% en la OEP); cómo detectarlos arreglos entre empresasfuera del tribunal.

Litigios Costes y riesgos vinculados a pleitos. Oportunidad, proporción muypequeña, son frecuentes losarreglos amistosos, disponibili-dad de datos.

Valor de merca-do de la empre-sa, escisiones,etc.

El valor de la patente está incorporadocomo activo inmaterial.

Ciertos tipos de sociedades(mercado de valores, etc.)

Valor econó-mico segúnencuestas.

Valor de la patente conocido porlos inventores o gerentes. Subjetividad, cuestiones deselección,muestras limitadas.

Fuente: M V Zk (007).

L q é .L ( q qz) : , ( )

. D q - , -





(“” , Lw Shk, 1997) . G . C -

, q .7 E

J E U q - qñ (PME) ( ).

L z q - , . S Pk Shk (1986), - % .8 E F N, Pk S (1989) q é- , - q, q, .

E é -. L h- (q q - z , “open-ended” ). E ,

hh , , hq. E , h

T 8.. Proporción de los países en el total de solicitudesde patentes según distintos indicadores (echa de prioridad 2000)

PCT Triádica OEP PCT máscitada

Canadá 0.02 0.01 0.01 0.01Francia 0.05 0.05 0.06 0.06

Alemania 0.13 0.13 0.19 0.17Japón 0.10 0.31 0.19 0.17Países Bajos 0.03 0.02 0.03 0.03Reino Unido 0.06 0.03 0.05 0.05Estados Unidos 0.40 0.33 0.27 0.31Mundo 1.00 1.00 1.00 1.00

N: L h . L PCT q OEP; OEP OEP EURO-PCT , OEP, JPO USPTO (q : h

). L PCT (q OEP) q ( z ). L PATSTAT.





, z . L - é . P , Shk (1998) -

.9 P , é q ; - z q é.

8.3.3. Tamaño de la amilia de patentes

E é , , q h (é C ). E hh

q é. L h ; ( q - é ) (P, 1996).

A q ( , é C 6), q (h ñ C P). U q .

E , , cobertura demercado : q , z .10 H q ñ -

. P , Lw Shk (00) -

ñ ( ).G Ph P (000) q ñ q . S Hh y otros (00) q z . U , é q .

E , C- P E (CPE) q -





C 8.1. Reormas relativas a la designación de estados

C ñ

OEP PCT, q q , - q PCT OEP h h ( ) . C , .

Designación en el Tratado de Cooperación en Materia de Patentes(PCT)

P h - 1 de octubre de 1998: 11 . N 11 .

P h 1 de enero de 2004: E q T h .

Designación ante la OEP

A 1 de julio de 1999 q ( h h), E h . N q .

D 1 de abril de 2009: E-

. E 1 009, q h h.

. E OEP , h h-z . P - 1 1999 OEP, -

z . D hh, CPE000, q -





(é C 8.1).D 009, pea designan a la tota-lidad de los Estados contratantes como en el procedimiento PCT.11

Una vez concedida, el tamaño de la amilia de una patente eu-ropea se puede cuantifcar como el número de Estados miembros del

C 8.. Un indicador combinado (protección europea):el índice de ámbito de protección anual

S z - q - ( q - ñ). E z ñ (Ph Zk, 007):

CxT

t cG

SY

T

t

C

c

i

iCT

∑∑= == 1 1

,

),(

D SY CT,i

(SY) - c T ñ , Gi(c,t) q 1 c ñ t h , 0 . E z h , q T ñ C . D , ñ qé E. P z z ñ h , z z ñ. E h h -ñ ( CPE z 1977 007).

A -, , PIB. A, q SY , q CPE z q h OEP. S h - SY q ( ñ h ). Vé Ph P Zk (007) .





CPE en los que la patente se ha validado eectivamente. El tañ CPE , q , h

. S z - q ( q ñ, é C 8.).

8.4. Otros indicadores

8.4.1. El número de reivindicaciones

E - , q - . U q q .

S , “” “” .E , é -

q é.1 V h

z . S h q, q - , - , el número de reivindicaciones . N , “” z é- h q . A, q - q q q q h .

E -. E Lw Shk (00) z z - E U, q . Té q q , é , - (Lw Shk, 1997).





8.4.2. El número de clases técnicas

E é ( CIP) é h z é , , -. E é L (199) . E - é .

S , , - . Lw Shk (1997) q CIP qñ . Uz

- , Hh (00) q CIP - z.1

8.4.3. El número de inventores en una patente

D h q .E q , q é : - (G Ph, 001; G y otros, 00).

8.4.4. Oposición y litigios

D q .P q , - q q q ñ ,

, , . P , hh q ñ . A, q h - q .

P . E 006, OEP ,% ( .990 -). D q OEP, ,

. E USPTO, q - é h : i) , ii)





“” é USPTO. L OEP h q USPTO (M, 1999; Gh y otros, 00). L USPTO 1981 1998 0,% ( ), q

OEP 8,6% . S , é , E U 198 000, h (Gh y otros, 00).

A h q q . Hh y otros (00) q é , , .1 E q h

q ( ), . S- Lw Shk (1998), q . E -, q q - . L q , .

Notas

1. L é - ( , q ). L - é , , , z, .

. L é q . N , , q - .

. L q T , h .

. Lw Shk (1998) q ñ .

. N , . P , -

CPE q OEP (Hz Shh, 00).





6. A ( , Rz, 00; Bk Rz, 007) - q “ ” OEP ( - JPO USPTO) q q .

7. P h . P , Pk Shk (1986) h q 10% z . S L (001), 1998, z z , .

8. Pk (1986) h q q ñ é z -. A q , h q ñ (Pk, 1986; Lw, 1998).

9. E é, z - h q q .

10. L ñ ( ) . P , ñ ( ).

11. H é PCT . E PCT I PCT II, q z - : h 0 (PCT I) 0 (PCT II). U q é q , - (é Bk Rz, 007).

1. C ,

q q - . E - q q (Hh , 00).

1. L q q é, q L . Téñ q q CIP.

1. E q q h A- (“Einspruchsverahren” ) ( 11. )





q h . A, h q , q , h q h q h -, .6.

Reerencias

Bk, P. M. Rz (007), “M P A Q-Az hD K (I) P O’ D Mk”, ResearchPolicy, . 6, 10-10.

G, A., D. Hh B. V (00), “Th V P”, .

Gh, S.J.H., B.H. H, D. Hh D.C. Mw (00), “P-I P ‘Q- C’: A C S US P R- EP O”, D T NBER 8807, N B

E Rh, I.Gh, Z. (1990), “P S E I: A S”, Journal o

Economic Literature, 8, 1661-1707.

G, D. B. Ph (000), “A, G h V P-”, Economic Letters 69(1), 109-11.

G, D. B. Ph (001), “Th I ThA wh P D”, Rh P, 0(8), 16-166.

H, B.H., A. J M. T (00), “Mk V P C”, Rand Journal o Economics 6, .

Hh, D., F.M. Sh K. V (00), “C, F Sz, O h V P Rh, Research Policy, E, (8), 1-16.

Hz, S. U. Shh (00), “O h Bk B. A h h h ” W. Gäz, H.M U. Shh (.) (00): Handbook o Quantitative Science and Technolo-gy Research: The Use o Publication and Patent Statistics in Studies on R&D Systems,Kw A Ph, Dh/B/L, 1-.

Lw, J. M. Shk (00), “P Q Rh P: M- I wh M I”, The Economic Journal, 11, 1-6.

Lw, J.O. (1998), “P P h Shw I: SE P V”, The Review o Economic Studies, . 6, 671-710.

Lw, J.O., A. Pk J. P (1998), “Hw C P V I- P: U P Rw A D”, The Journal o Industrial Economics, . XLVI, . , 0-.

Lw, J.O. M. Shk (1997), “S F P L: V,S Owh”, NBER, NBER, C-, MA.

Lw, J.O. M. Shk (1998), “P S: D Th D Rh I-?”, C E P Rh, L, CEPR, . 0.





L, M.A. (001), “R I h P O”, Northwestern Universi-ty Law Review, . 9:, 197-1.

L, J., (199), “Th I P S: A E A”, RAND Journal o Economics (), 19-.

M, R. P. (1999), “A M S I P B Bk: PRh B C P S R”, Berkeley High Technolo-gy Law Journal 1, 77-61.

Pk, A. (1986), “P O: S E h V H E- P Sk”, Econometrics (), 7-78

Pk, A. M. Shk (1986), “E h V P Rh E- C D h P-190 P”, Economic Journal, , 10-1076.

Pk, A. M. S (1989), “P Rw D”, NBER R 16, N

B E Rh, I.

P, J. (1996), “Th V I P Rh”, , U- Y.

Rz, M. (00), “I P V M P: V- Nw I Az A R”, Research Policy, .(6-7), 99-97.

Shk, M. (1998), “Hw V I P P? E Th- F”, RAND Journal o Economics, . 9(1), 77-107, Th RAND C.

T, M. (1990), “A P Y Q: P C h V I”, RAND Journal o Economics, 1(1), 17-187.

Ph, B. N. Zk (007), “A B H S T:Th C-Y I P V I B F R-w”, D D CEPR 61.

Zk, N. (007), “Th Pzz P V I”, D T CEB 07-0.RS, Ué L B, S B Sh,

C E Bh (CEB).



169

Glosario

Actividad inventiva: T OEP JPO, q . Dh ( ) q . Vé é “ ” (USPTO).

Administración Encargada de la Búsqueda Internacional ( InternationalSearch Authority, ISA): U q PCT. P (A, A, C, C, Ch, Eñ, EU, F R, F, J, S) z (OEP) (A 16 PCT, A 1 CPE).

Apelación: U q q .

• USPTO: E h - - Cé A I (Board o Patent Appeals and Intererences, BPAI) q . E Cé USPTO q - .L Cé T A C F (Court o Appeals or the Federal Circuit, CAFC) .

• OEP: L q OEP Cé A - (q ) . L é OEP. A Cé A, O E P Cé A A. E - Cé A h h .

•

JPO: E q hz . E D A- JPO. L z



glosario


T S P I, T S Tk.

Búsqueda euro-PCT (o PCT Capítulo I): Bq q z OEP -

A q - -PCT (A 16 PCT).

Búsqueda internacional PCT: E q q z - ( q , ISA) PCT.

Caducidad: L h q q (). C , é -z .

Cesionario ( assignee ): E E U, , -, q (q “” ) h .

Citas: R é - . L h -. C q é q h . L , é, , .

USPTO: L USPTO é q, , -; OEP: E ; JPO: E q - é 1 00 1 006.

Clasicación Internacional de Patentes (CIP): L CIP q OMPI. E q . L CIP

q, q h -, z , . S - é. L CIP 1 006.

Concesión: U h . L - .

Continuación (continuaciones) (USPTO): S q

q q h h . L q h



glosario


h . E , q , , q q .

E : , (division, continuation y continuation-in-part).

Convenio sobre la Patente Europea (CPE): E C C P E Mh 197 1977. E q Oz E P é . E , z, O E- P. P , , E. C h 008 h CPE.A, q h .L CPE A, A R Y M-, A, Bé, B, C, Ch, D, E, E-ñ, E, F, F, G, H, I, I, I, L-, Lh, L, L, M, M, N, PB, P, P, R U, R Ch, R E,R, S, Sz Tq. L CPE A, R B-Hz S.

Convenio de París: E C P P PI 188 C- P. E h z 1 ( ) q h . A h 17 E ( 009).

Derecho de prioridad: Vé “C P”.

Derechos de propiedad industrial e intelectual (DPI): L h - , .E :, , ñ h .

División: S q , é , q . L é .

Estado de la técnica: T z

q h . E , q



glosario


q ( , h - h ) z é. E , q . E -

é q h . E q - , , q é .

Equivalente: U q q .

Familia: ( ) -

. S . E ( , , , q , .). S q h, -, , q, .

Familias de patentes triádicas: L OCDE O E P (OEP) O J P (JPO) O E P M (USPTO) q

. L - ( , - OEP, JPO USPTO).

Familias de patentes trilaterales: U é q . A, - , q é q CPE q OEP ( JPO USPTO). L -z é , .

Fecha de concesión: L h q - .

Fecha de la solicitud: L h q - . A , - .

Fecha de prioridad: L h h - q (

, ) . E h , q



glosario


. E , h . E E U, h .

Inorme de búsqueda: E q q é q . E q,q , q - é .

Inracción: L , , q z z q é

h h z - .

Licencia: E q q, h , .A, , . A , é , , h. L , q , .

Modelo de utilidad: E , é “

”, . P -q q , z .

No obviedad (USPTO): A é q - h , z , h q h . Vé é “ ” (OEP, JPO).

Novedad: U h -z .

Ocina Estadounidense de Patentes y Marcas (USPTO): L USPTO - h E U. E D C .

Ocina Europea de Patentes (OEP): L O E P ( ) CPE - , z.M q (é, é ), h

CPE . L OEP U E.



glosario


Organización Mundial de la Propiedad Intelectual (OMPI): E q . E , OMPI

C P, T C M P (PCT) C I P (CIP).

Ocina de Patentes Japonesa (JPO): L JPO - h J. E M E, C I (MECI).

Oposición: S q h q , .

• OEP: L - B E P.

• JPO: L - h q - 00.A , - q .

Países designados: E , q q - z é - . L - PCT q é h - ( 00). S OEP 009: z E . E q h h.

País inventor: E .

País de prioridad: N q z , . Vé “C P”.

Patente: U h z q h , , , , ., q ,h 0 ñ h . L - , ,

q : , - . L E U.



glosario


Patente europea: U - CPE OEP (é, é ). L q OEP h -

q (q ). E q q - . E , - ( z , ).

Plazo de tramitación: D - ( , q, , -).

Publicación: E , 18 h .

• OEP: T , h .

• JPO: T 18 é h . S

é,

é R P J (Patent Abstracts o Japan, PAJ).

• USPTO: H q L P- I A 1999, USPTO h q .L USPTO 9 000 18 h . N -, h . P, ( z ) q q, q q

. A, , .

Primero que solicita ( First to fle ): U q - q - q h . E z q h A OMC A Dh PI R C (ADPIC). E OEP JPO q ,

q USPTO .



glosario


Primero que inventa (First to invent) (USPTO): U q z , h q q .

Reivindicación (reivindicaciones): D é q .

Retirada: C C P E, q , é - : , z q - .

Revocación: , h -, ( ).

Solicitante: E h . L q , -q .

Solicitud de examen: L OEP JPO . E q q OEP ñ

JPO. L USPTO - , .

Solicitud internacional de patente: Vé “Tratado de Cooperación en Ma-teria de Patentes (PCT, en sus siglas en inglés)”. U T C M P q h “ ”. N , “ ” ( , q h ). L - PCT ( , OEP).

Solicitud nacional: U q , .

Solicitud pendiente: S q h , q h .

Tasas de renovación: U z q , h q

é . E USPTO “ ”. E , . L (



glosario


) USPTO ,q ñ , ñ ñ h é.

Tratado de Cooperación en Materia de Patentes (PCT, en sus siglas en inglés): E z 009 h 11 , q 1970 1978, q , , E . E PCT h - ( PCT) ( -). L PCT “”. L h - . E PCT : i) “ ”, ii) “ ” PCT. L PCT OzM P I (OMPI).

Vía directa europea (solicitud): U q A 7 CPE (é “ ”). M , CPE .

Vía euro-PCT (solicitud): U , - OEP PCT (A 11 PCT). L ( ) PCT,

q OEP CPE.

• Solicitud euro-PCT-ase internacional (o solicitud euro-PCT o PCT internacional):U PCT q OEP [A 10() CPE]. E -PCT, ( -) PCT.

• Solicitud euro-PCT-ase regional (o PCT regional): L PCT q ( ) z q h A 9 PCT, A 18 R

107 CPE. E OEP CPE.

Estadisticas de Innovación en Español

Documents

Transcript of Estadisticas de Innovación en Español