PATRÓN DE REFERENCIA: MICROMETRO

CERTIFIK

Carta de trazabilidad

Fecha última revisión:

2018-02-09

F-102-03

No. de páginas:

1 de 1

PatronesPrimarios

COPIA NO CONTROLADAPatrones de referencia

CERTIFIK

Patrones deReferencia

CENAM

Patrón primario nacionalde longitud. CNM-PNM-2

Instrumento: Bloques Patron TESA grado K y 00No. de Identificación: No proporcionado.No. de informe: CNM-CC-740-152/2018 Incertidumbre: No disponibleFecha de vencimiento: No disponible

Instrumentos del Cliente

Instrumento: Comparador de Bloques PatronMarca: TESAModelo: 05930015 No. de Identificación: CTK-140No. de informe: CNM-CC-740-334/2018 CENAM)Incertidumbre: ±0,0 056 µmFecha de vencimiento: 2020-07-11

Instrumento: Interferometro láser Marca: NPL-TESAModelo: AGI-1-300Serie: 014Incertidumbre: No especificado

Instrumento: LaserNo. de informe: CNM-CC-740-179/2017Incertidumbre: No especificado

Instrumento: LáserNo. de Identificación: No especificadoNo. de informe: 2017100320-ll03Incertidumbre: No especificado

Unidad de longitud de Inglaterra NPL

Instrumento: Juego de bloques patrónNo. de identificación: CTK-043Marca: MITUTOYOModelo: 516-107Serie: 990901Grado: 1No. de informe: DI-060694-4

Incertidumbre: ±0,052 mm/ ± 2,1 μpulg

Fecha de vencimiento: 2020-04-27

Patrones de referenciaCERTIFIK

Instrumento: Juego de bloques patron No. de Identificación: CTK-398No. de informe: CNM-CC-740-141/2018Marca: MitutoyoModelo: BM1-122-K/YJIncertidumbre: ± 49 nmFecha de vencimiento: 2020-04-06

Instrumento: MicrometroNo. de identificación: CTK-441Marca: BAKERModelo: DMM25Serie: 160200291No. de informe: DI-061111-4

Incertidumbre: ±1,5 mm/ ± 59 μpulg

Fecha de vencimiento: 2020-05-27

Instrumentos de CERTIFIK