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Soluciones de Integridad de SeñalSoluciones de Integridad de SeñalPara el Diseño de Hardware de Alta VelocidadPara el Diseño de Hardware de Alta Velocidad
[email protected] Tektronix Española, S.A.
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Documento – “Guía del diseñador digital para verificar la integridad de la señal”
Definición de la “Integridad de Señal” Tecnología Digital
Computación / Comunicaciones Semiconductores / Electrónica
Avanzada Integridad de Señal en Diseño/Análisis Sondas: Donde todo empieza Análisis Lógico: La visión Digital Osciloscopios: La visión analógica TLA + TDS = Digital+Analogico (iView) Análisis de Jitter y Tiempos Depuración de Integridad de la Señal Soluciones de Integridad de Señal Nº Literatura # 55S-15465-0
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La Integridad de Señal (SI) Definida
¿Qué es la SI?La integridad de la señal implica la distribución de señales digitales y analógicas de una parte de un circuito a otra de manera que la información contenida sea transportada de forma determinística y fiable.
Ingeniería/Verificación de la SI: La verificación de la SI ocurre durante la fase de diseño para asegurar que un sistema cumple o excede las especificaciones de fabricación, de fiabilidad y de las normativas de la Industria.
1
0 0 0
1 1Logic
Signal
+5 VoltSupplyGroun
d
Text-Book View of Digital Signals
Logic Signal
+5 VoltSupplyGroun
d
Real View of Digital Signals (analog)
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SI – Problemas y Soluciones
Osciloscopios, Sondas y Analizadores Lógicos Tektronix
….. los “Ojos” del Ingeniero
Integridad de Señal (el problema)
“Integridad” – definida como “completa y sin defectos”
SI en el diseño analógico/digital consiste en la transmisión de señales de calidad suficiente, inluyendo la capacidad de recuperar y reconstruir la señal
Fidelidad de Señal (La Solución de Tektronix)
“Fidelidad” es el grado de exactitud y repetibilidad en la reproduccción de las señales para su análisis y depuración
No se quiere ser parte del problema cambiando las características de las señales – Se quiere ser lo menos intrusivo posible durante la captura, visualización y análisis de señales.
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SI – Normativas de la Industria
IndustriaIndustria Telecom Computer Data Comm
Eléctrica ANSI T1.102 (DS1, DS1A, DS1C, DS2, DS3, STS-1, DS4, STS-3)
ITU-T G.703 (DS0, DS1, E1, DS2, E2, E3, DS3, E4, E5)
Serial ATA 1394b Firewire USB2.0
ANSI X3.230 (Fibre Channel)
IEEE 802.3ae (GigabitEthernet)
InfiniBand
Optica Bellcore GR-253-CORE and ANSI T1.106 (SONET OC-n signals)
ITU-T G.957 (SDH STM-n signals)
1394b Firewire ANSI X3.230 (Fibre Channel)
IEEE 802.3ae (Gigabit Ethernet)
InfiniBand
Buscar: AC Parametrics, AC Specs, AC Timing, Clock Specs
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Lo que nos Dicen los Clientes - Tecnologías
Velocidades más elevadas 2.5 Gb/s PCI Express (3GIO)
3.125 Gb/s XAUI 333 MHz DDR 1+ GHz RDRAM 3.125Gb/s SFI-5 2.5 Gb/s InfiniBand 1.6 GHz HyperTransport
CPU
3GIO
Switch
MobileDocking
3GIO
Memory Local I/O
Graphics HDDSerial ATA
PCI
Memory Bridge
MobileDocking
MobileDocking
USB 2.0
I/O Bridge
3GIO
3GIO
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La Innovación Crea Problemas de SI
Las velocidades en uso actualmente crean más problemas de integridad:
Arquitectura de buses síncronos más rápidos Relojes y Datos más rápidos Transiciones más cortas Tiempos de “setup & hold” más críticos
Problemas eléctricos y físicos Excursiones de tensión menores Señales diferenciales de alta velocidad Interconexiones de impedancia controlada Dificultad de conexión
Interfases Opticas / Eléctricas
Hoy – Los diseñadores digitales necesitan obtener Hoy – Los diseñadores digitales necesitan obtener visibilidad de las características analógicas de sus visibilidad de las características analógicas de sus
señales digitalesseñales digitales
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SI – Problemática de Diseño
Elect / Optical Signal Conformance Test
Jitter Analysis
Timing Margins
Signal Integrity
Prototype Debug
“Para conseguir diseños fiables hay que analizar cuidadosamente el comportamiento temporal, la distribución de la placa de circuito, la Integridad de Señal, las EMI, y la termodinámica del sistema”
Pete Mueller, Intel
Los diseños incorporan más comunicaciones serie Las velocidades de datos más elevadas a menudo requieren de
interconexiones ópticas
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Los Requerimientos de Medida de la SI según Nuestros Clientes
Tiempos de subida menores de 200ps
Jmedidas de jitter de 50ps pp
Medidas Opticas y Diferenciales
Tiempos S&H menores 200ps
Sin transmisión de reloj
Conformidad con máscaras estándar
Medidas específicas de la aplicación
Análisis de datos en serie
La integridad de señal es nuestro mayor problema
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Medidas de “Conformidad” en Osciloscopios
Ejemplo InfiniBand:
Consideraciones sobrer el ancho de banda eléctrico del sistema:
BW Osciloscopio = bit rate eléctrico X 1.8
(regla aproximada de las especificaciones Fiber Channel)
Para InfiniBand Eléctrico @ 2.5 Gb/s signinfica > 4.5 GHz
(para XAUI @ 3.125 Gb/s significa 6GHz)
Consideraciones sobrer el ancho de banda óptico del sistema :
BW Sistema= bit rate óptico X 0.75
BW filtrado por el Receptor Optico de Referencia (ORR)
para STM-16 –3db @1.87GHz, los límites se extienden hasta 4GHz
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SI – Ancho de Banda/Precisión Amplitud
A la frecuencia de corte a 3dB, el error de amplitud será ~ 30%. La especificación de error de amplitud es típicamente del 3% max.
REGLA: Especificar el conjunto Osciloscopio + Sonda con un BW del sistema de 3 a 5 veces mayor que el de la señal a medir.
trise
0.35 *BW =
* Esta constante se basa en un modelo de 1er orden - en osciloscopios de altísimo ancho de banda la constante puede llegar a ser tan alta como 0.45
70.7 (- 3 dB)
0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.8 0.9 1.00.710097.59592.59087.58582.58077.57572.5
} 3%
Frecuencia Normalizada
Am
plitu
d (
%)
Osciloscopios
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Ancho de Banda & Armónicos
Onda Cuadrada Digital – Suma de Componentes Impares
-1
0
1
0 50 100
Fundamental (1er Armónico)
5o Armónico
3er Armónico
Suma Fourier (1er-5o Armónico)
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Consideraciones sobre Flancos Rápidos
Non-MonotonicNon-Monotonic(Non-Linearity)(Non-Linearity)
Hay que asegurarse de que las sondas y el sistema de medida no son las causas de estos problemas.
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Flanco de Bajada No-Monotónico Causa un “Glitch” Digital
Se produce por una pista de 8 cm en el PCB
Glitches
Glitch (vista digital)
Glitch (vista analógica)
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Igual BW de la transiciónDoble que el BWTres veces el BWCinco veces el BW
Ancho de Banda Osciloscopio/Sonda:
41%12%5%2%
Error Tiempo de Subida=
Consideraciones sobre Flancos Rápidos
¡Lo que no vemos nos puede dañar!
Forma de Onda Real cuando:BW Osciloscopio= 5X BW Flanco(~2% Error de Tiempo de Subida) 41% Error de Tiempo de Subida:
BW Osciloscopio= BW
REGLA: Especificar el conjunto Osciloscopio + Sonda con un BW del sistema de 3 a 5 veces mayor que el de la señal a medir.
tr(medición) [ tr(osciloscopio)2 + tr(sonda)2 + tr(señal)2 ]
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Tiempos Setup/Hold < 200ps (Ventana Válidez)
Tiempos s&h Rambus ~200ps DDR <250ps Firewire 1394b skew <100ps Requiere alineación del orden
del psSETUP TIME
HOLD TIME
DATA VALID
CLOCK
DATA
A B C
Utillaje de Alineación (Deskew)
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Especificaciones de Integridad de la Señal
Medidas: Overshoot, Undershoot, Ringback
Monotonicidad (Linealidad)
Diagrama de Ojo: p.e. USB
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Consideraciones Sobre la SI
Respuesta Transitoria Tiempos Subida/Bajada Overshoot / Undershoot
Fidelidad de Señal Carga
Capacidad Análisis TDR Caracterización Impedancia Conectores, backplanes, etc.
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Análisis de Datos Serie – Un Nuevo Reto
Muchas tecnologías requieren conformidad con estándares de “diagrama de ojo” o Máscaras Serie
Captura de paquetes de datos relevantes medioante disparo de patrón serie (ST)
Recuperación de Reloj (CR)
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Búsqueda de Eventos en Datos Serie
Disparo de Patron Serie
Depuración más simple
Permite el aislamiento de fallos dependientes de los datos en un único disparo durante pruebas de funcionamiento y conformidad
Es preciso en la actualidad
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Diagramas Ojo – Calidad Transmisión (SI)
Revela las característicascombinadas del emisor
Tiempos de Subida y Bajada Overshoot, Undershoot y Ringing (Ringback) Ciclo de Trabajo (Duty Cycle) Jitter y Ruido
Una apertura mayor indica una mayor tolerancia a ruido y jitter Una apertura mayor indica mejor sensibilidad del receptor Una gran anchura de la traza y las transiciones indica un
degradación de la sensibilidad del receptor La apertura del ojo se correlaciona con el Jitter y el BER (JIT3)
Jitter
Ruido
Apertura Ojo
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Respuesta del Receptor de Referencia Optico H()
Optical Reference Receiver (ORR)
EOOI
H()
O/Econverter Filter
Gráfico que muestra la respuesta real de un filtro de Bessel-Thomson de 4º orden y la tolerancia admitida por los estándares SDH/SONET para STM-16/OC-48 @ 2.488Gb/s.
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CSA7000: 2.5 Gbit/sec Optico
Pantalla
SistemaDisparo
Amp/Atenuador
SistemaAdquisición
HW PLL
Reloj Recuperado Out
DelCanal
Seleccionado
Reloj Recuperado
Datos Recuperados Out
DatosRecuperados
Ch1 - 4GHz (20GS/s)
TXOptico
O/E
Conexión del O/E al CH1
Optical Reference Receiver (ORR)
EOOI
H()
Convert.O/E Filtro
Unico del CSA7000
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Diagramas Ojo / Máscaras en los TDS R-T
100 kb/s100 kb/s
10 Gb/s10 Gb/s
10 Mb/s10 Mb/s
1 Mb/s1 Mb/s
1 Gb/s1 Gb/s
Estándares Com.(rangos medio y bajo)
100 Mb/s100 Mb/s
DS1
DS2
OC-1 (STS-1)STM-0 (STM-0E)
OC-3 (STS-3)STM-1 (STM-1E)
OC-12 / STM-4
E2
DS3
E3
E1
OC-48 / STM-16
E4DS4
Estándares Datos(alta velocidad)
FC1063
FC531
FC266
FC133
GigabitEthernet
InfiniBand
FC2125
IEEE1394b (S1600B)
IEEE1394b (S800B)
IEEE1394b (S400B)
USB1.1
USB2.0
Ethernet
Serial ATA
(hasta 3.2 Gb/s hoy y mayores en el futuro)
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Retos de la Conexión (Probing)
Señales de alta velocidad Datos y reloj diferenciales Conectores Componentes de alta densidad Efectos inductivos Conexiónes a tierra Carga de las sondas Espacio disponible Densidad
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Carga de una Sonda, Modelo Simplificado
Frecuencia de la Señal (Hz)
ImpedanciaEntrada ()
100M
10M
1M
100k
10k
1k
100
10
1
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M 1G 10G
Z00.15 pF/500
Activa1.0 pF/1 M
1X Pasiva100 pF/1 M
10X Pasiva10 pF/10 M
10X pasiva: la carga llega a
159@100MHz
>1GHz
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Modelo PrecisoSonda Activa más Rápida Existente
L1
1n H
1 2
L2
1.3nH
1 2
T1
Z0 = 1 10TD = 11p
R1
11 2C121 7f
C250 f
R220 k -
++-
E1
R3
10 0C321 2f
0
Ga in=1VCVS
0
0
Probe Tip
Output
-
+
Sonda Activa referida a tierra P7260 con interfaz TekConnect
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Sondas – Carga
Nueva Sonda FET P7260 6 GHz BW Total del Sistema
¡Cinput<0.5 pF!
¡Rango Dinámico 6 Vp-p!
Rinput 20 K
Tiempo de Subida (TDS6604) 75ps (10-90% Tr) 55ps (20-80% Tr) Requerido para circuitos con
Tr de 200ps
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Low Voltage Differential Signaling (LVDS)
Estándares LVDS (ANSI/TIA/EIA-644 e IEEE 1596.3) Alta velocidad >1 Gb/s, bajos consumo y ruido InfiniBand: 2.5Gb, nivel diferencial > 175mV, transporte de reloj
Sonda Dif. P7330 3.5 GHz 0.5 pF C
LVDS
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Modelo PrecisoSonda Activa Diferencial más Rápida Existente
R650k
0
R5
100CPL
0
C4
397fF
+
0
Output
0
-
0
-
C120fF
0
R1
105
zo=120
Tips
ze=250
ProbeR3
110 +
pl=10mm
0
ko=1
T1
TD = 20pZ0 = 140
0
R4
110R750k
R2
105
T2
TD = 20pZ0 = 140 C3
190fF
C2190fF
-
0
ke=2
+
Sonda Activa Diferencial P7330 con interfaz TekConnect
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Jitter – es un gran problem de SI a alta velocidad ¿Qué es el jitter?
“la desviación de un flanco respecto a donde debería estar”
Causas del Jitter: Ruido Térmico Relojes de referencia
Ruido Inyectado (EMI/RFI) Inestabilidades
Jitter: “Variaciones a corto plazo de los instantes significativos de una señal digital respecto a su posición temporal ideal” (ITU).
FORMA DE ONDA DIGITAL
Otras
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Separación Rj / Dj – requerido por los últimos estándares
Jitter Aleatorio (Rj) RMS
ilimitado, Gausiano
Jitter Determinístico (Dj) Pk-Pk
Jitter Periódico (Pj) Distorsión Ciclo de Trabajo (DCD) Interferencia Intersimbólica (ISI) o
Jitter Dependiente de Datos (DDj)
Jitter Total (Tj)
Tj = DjPk-Pk + RjRMS x N(N = 14 para 7 sigma, BER de 10-12)
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Los Componentes de Jitter Degradan la SI
Medida del Jitter Determinístico (Dj) como las variaciones pico a pico de las posiciones temporales ideales Fuentes posibles
Insuficiente ancho de banda de la conexión al transmisor óptico (acoplado en AC)
Sobreexcitación del laser (corte o saturación) induciento tiempos de recuperación largos
Ruido interno (relojes, diafonía)
Mediad del Jitter Aleatorio (Rj) como la desviación estándar (RMS) Fuentes posibles
PLL en la fuente de los datos Ruido en la polarización del Laser o en la regeneración
temporal de la fuente de los datos Ruido inducido externamente (ambiental)
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“Delta Time Accuracy” (DTA)
Ejemplo: Para un TDS6604 de 20GS/s con un cristal de 2.5ppm, midiendo un reloj de 400MHz (periodo de 2.5ns)
DTA = (0.06 / SR) + (estabilidad cristal X medida)
= (0.06 / 20GS/s) + (2.5ppm X 2.5ns)
o (0.06 X 50ps) + (2.5ppm X 2.5ns) = 3ps + 0.00625ps Obsérvese la pequeña contribución de la
inestabilidad del cristal en el error total
TDS6604 DTA ~ Especificación 3 ps (1.5 ps típica) – ésta es la precisión (no la resolución)
Es el método para especificar la precisión temporal según la IEEE1057
Inluye los efectos de la precisión del intervalo de muestreo y la base de timepos, los error de cuantización e interpolación, el ruido del amplificador y el jitter del reloj de muestreo
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Método en Tiempo Real del TDSJIT3
Método para Separación Rj / Dj y Estimación BER Basadao en datos
capturados en tiempo real Incluye medidas TIE
mediante “Golden PLL” Descomposición de Jitter
con Análisis Espectral Ancho margen de ruido –
trabaja con un nivel de ruido alto
Funciona con secuencias de datos cortas o largas- no se precisan detalles sólo velocidad de datos y longitud de la secuencia
Disparo en un punto aleatorio de la secuencia
Resultados: Rj, Dj, Pj, DCD, ISI, BER
TDS-JIT3: para TDS5000, CSA/TDS7000, TDS6604
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Estimación del BER (Bit Error Rate)
Empieza con TIE PLL TIE
Realiza la FFT Determina frecuencia
y velocidad del patrón
Suma componentes relacionados con el patrón
Suma componente no correlacionados
Mide RMS de los componentes restantes
Estimación BER
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Windows / Conectividad y Análisis
Conectividad y Análisis
PRESTACIONES INTEGRIDAD ACELERACION
Vnetajas del Entorno PC
Impresoras y almacenamiento en red
Recursos de Internet (p.e. email)
Soporte de múltiples pantallas
Infrastructura Software
TekVISA
Controles ActiveX
Excel toolbar
Integración PCs Externos y Ordenadores no-Windows
LabVIEW y Lab Windows (PNP)
Aplicaciones UNIX y otros recursos LAN (VXI-11)
API para Windows y UNIX
C, C++, Visual Basic, MATLAB y otros
Medidas y análisis definidos por el usuario
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Resuelve la problemática planteada por los diseños de alta velocidad actuales con Osciloscopios y Osciloscopios y Analizadores LógicosAnalizadores Lógicos
Soluciones de Integridad de la SeñalSoluciones de Integridad de la Señal
Una Solución Integrada al Diseño y Depuración hardware
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Fases de Depuración
Comprobación HW Inicial
Depuración “Kernel” y P
Integración HW & SW
Optimización
Análisis Paramétrico
DMM
Herramientasde Depuración
Osciloscopio Real-Time / DPOAnalizador Lógico
Depurador/Emulador SoftwareEditor/Compilador/Linker/Loader
Depuración de Hardware – Herramientas y Fases de la Depuración Digital
Pruebas de Conformidad de Señales Elect / Opticas
Análisis Jitter
Márgenes Temporales
Integridad Señal
Depuración Prototipos
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Máxima fidelidad de la señal para la resolución de los problemas de Integridad de Señal
Adquisición y correlación analógica y digital para una depuración sensible al “contexto”
Medidas en la capa física
Medidas de jitter de la mayor precisión
Test de conformidad de acuerdo con máscaras de comunicación
Visibilidad del hardware y del software
Soluciones de Diseño Digital para SI
CONEXIÓN
ADQUISICIÓN
VISIBILIDAD
ANALISIS
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Señales Fieles + Mínima Intrusión = SI
Medida simultáneas Analogico + Digital – mediante una sonda única Elimina uso multiples sondas y
carga adicional sobre el circuito Multiplexor programable de 4
canales Fidelidad de la Señal
Sonas activas Capacidad total: 0.7 pF Medidas referidas a tierra Medidas Diferenciales Sin extensiones de las sondas
que degraden las señales
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Un Diseñador Dice: “Las sondas son la clave….. Si no puedes conectarte….no puedes ni ver ni analizar
PasivasDe tensión 1X, 10X, 1X/10x, 50 Ohm
Activas FETHasta 6 GHz BW
Diferenciales hasta 3.5GHz (4 GHz típico) con 1000:1
CMRR
Analizador Lógico – Pasivas, SE Activas, Diferential Activas
0.7 pf (Δ)alta densidad, propósito general
OpticasConvertidores OE (250MHz a 2.5GHz)
Sondas Alta Tensióny Corriente
De DC hasta 2 GHz
Sondas para DSO’s/DPO’s y módulos DSO de Analizador Lógico...
SiGe ProbingSiGe ProbingBREAKTHROUGHBREAKTHROUGH
P6880 SiGeΔ probe
P6810 SiGeGP Probe
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Nuevas Sondas de Alta Velocidad para los TLA
Sondas de alta densidad “Sin Conector”
No son necesarios conectores en el PCB, conexiones seguras y fiables
Sin extensiones que degraden la integridad de señal
Contactos de compresión en eje ZIslas de contacto en el PCB
GRAN AVANCEGRAN AVANCEenen
INTEGRIDAD DE SEÑALINTEGRIDAD DE SEÑAL
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Nueva Arquitectura de Adquisición TLA
Tiempos a 8 GHz simultáneo con hasta 800 MHz en Estados con 2 GHz BW
¡Siempre … en cualquier canal … si reconectar ni recapturar!
iViewiView
TECNOLOGIATECNOLOGIAINNOVADORAINNOVADORA
8 GHzSampler
8 GHz MagniVu Timing16 Kb
800 MHz Stateor
2 GHz DeepTransitional Timing
128 Kb – 256 Mb
Real-TimeClocking
StateMachine
TriggerState
Machine
+-
2 GHzBW
AnalogMux
34 ch
34 ch
34 ch
34 ch
Internal DSO orTDS Scope (iView)
4 ch
8 GHz TLA sampling = 125ps resolution (time stamp)
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Nuevo Multiplexor Analógico (2 GHz BW)
Conexión analógica/digital simultánea Ancho de banda analógico de 2 GHz en
todos los canales Cualquiera de los 136 canales se pueden
multiplexar a los 4 BNC de salida Las salidas están siempre activas
TriggerState
Machine
4 ch
CH 1
CH 2
CH 3
CH 4
DSODSOLALA
Analog In
CH 1
CH 2
CH 3
CH 4
Analog Out2 GHzAnalog
Mux34 ch
34 ch
34 ch
34 ch
49
Glitches causados por pistas del PCB
Errores introducidos por una pista de 10 cm
Glitches
Integración de las señales analógicas y correlación con las digitales
Vistas Digitales
Vista Analógica
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Glitches por Violación Tiempos Setup/Hold
La entrada del FF-D cambió 1.26 ns antes del flanco de reloj
Glitch
Vista Analógica + Vista Digital
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Ejemplo: Contención de buses/señales
Algunas Anomalias SI – en su “Contexto”Pueden estar causadas por problemas funcionales
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Osciloscopio TDS externo añadido en la Ventana de Sistema del TLA
Los datos del osciloscopio son “integrados y correlacionados” en la interfaz de usuario del Analizador Lógico
Visualización Integrada con TLA-iView
55
Análisis SI – con iView(Nótese la Resolución Vertical y Horizontal)
Glitch de 500ps detectado y resaltado
1-bit: traza MagniVu 125ps (8GHz)
Multiplexor 2GHz BW … !Analógico y Digital con una sonda!8-bits: Hasta 20GS/s (50ps + interpolación) traza analógica de TDS
Nota: Comportamiento de la pista de tierra capturado en otro canal
56
iView con un TLA7Axx y un TDS6604
Communication Bus
TDSTLA
Trigger Bus
Mux Out
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SI – Problemas en la Depuración a Nivel de Sistema
Visibilidad de la SI requerida para la integración HW/SW
Correlación señales internas/externas, buses Paralelo/Serie
PHYSystem Serial Bus Internal Bus
PHYSystem Serial Bus Internal Bus
DataLink
Internal Bus
IBus
QB
us
Memory FPGA
Processor / NP
DSP ASIC
JTAG
TRA
CE
Internal Bus Backplane
Internal Buses could be Serial or Parallel
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Soluciones para Datos Paralelo / Serie Datos TDS “Integrados y Correlacionados” en la pantalla del TLA
Captura de trazas analógicas con hasta 20 GS/s en un CSA/ TDS7404 o TDS6604 – transferidas a la pantalla del TLA.
Primer disparo en serie por hardware (ST) (secuencias de hasta 32-bit, velocidad hasta 1.25 Gb/s).
Trigger Serie en palabra de32 bit FDF3 D70D(hex) Integrado y correlacionado en el TLA
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Aplicaciones/Soluciones Integradas
Divisor Optico
Analizador TLA con cable iView al DSO
Sistema bajo prueba
SingulusG1
Osciloscopio R-T CSA/TDS7000 o TDS6604Test Máscaras (SM)
Disparo Serie (ST) 32-bit
Recuperación de Reloj
LAPL Tools Partner
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Fuentes de Señal e Integridad de Señal
Simulación de un evento o secuencia de
eventos.
Simulación de un evento o secuencia de
eventos.
Emulación de una señal, como la de un sensor.
Emulación de una señal, como la de un sensor.
Reproducir un evento real
capturado con un DSO.
Reproducir un evento real
capturado con un DSO.
Substitución de la señal producida por un
bloque funcional no disponible aún.
Substitución de la señal producida por un
bloque funcional no disponible aún.
Verificación y Prueba de
Márgenes con señales ideales o
con un nivel controlado de distorsión (o
errores).
Verificación y Prueba de
Márgenes con señales ideales o
con un nivel controlado de distorsión (o
errores).
Generadores Arbitrarios (AWG): generadores de señal empleados en la creación e implementación de cualquier tipo de señal requerida para la prueba.
Generadores Arbitrarios (AWG): generadores de señal empleados en la creación e implementación de cualquier tipo de señal requerida para la prueba.
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Fuentes de Señal en SI: Aplicaciones
Disk DriveDisk Drive NetworkNetwork
Jitter Composer
Jitter Composer
w/ & w/o Impairments
w/ & w/o Impairments
62
Creación y Edición de Señales(Perfect Compliment to a TDS / TLA)
DUTDUT Digital Oscilloscope
Digital OscilloscopeTest PointTest Point
Standard or Reference / Add Impairments
Standard or Reference / Add Impairments
AWGAWGWaveform CaptureWaveform Capture
GPIB / LANGPIB / LAN
OutputOutput
Stimulus - Acquisition Model
Stimulus - Acquisition Model
Data Rate Level Delay Rise Time
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Depuración de Hardware:Estímulos de Prueba con TLA-DPGs
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Oscilloscopios (con Sondas y SW de Análisis Jitter) Optico hasta 40Gbit/s Receptor Optico de Referencai (ORR) integrado Recuperación de Reloj incorporada Disparo con Patrón Serie Test de Máscaras de Comunicación, medidas especiales Jitter Aleatorio y Determinístico Reflectometría en el Dominio del Tiempo (TDR)
Analizadores Lógicos (con Sondas sin Conectores) Capacidad de captura síncrona de alta velocidad Análisis de tiempos de muy alta resolución Traza en tiempo real de la ejecución de software Trazado de múltiples buses a la vez Correlación precisa del comportamiento digital y la calidad
analógica de las señales
Generadores de Señales Digitales (con Sondas) Generadores arbitrarios (adición de defectos/errores) Generadores de Datos/Patrones (estímulo)
Herramientas de Tektronix para la Integridad de Señal
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Soluciones de Integridad de Señal – Sumario
Las tecnologías de ordenadores y comunicaciones marcan los requerimientos críticos relacionados con la SI
Los estándares industriales especifican medidas y máscaras SI Las velocidades de datos crecen a gran velocidad, >1Gb/s Severa problemática de SI en el diseño de alta velocidad Muchas consideraciones y soluciones de medida “Integración y Correlación” de señales Analogicas + Digitales “Jitter y BER” empiezan a ser conceptos importantes N ningún fabricante T&M está mejor posicionado que Tektronix
en Soluciones para Integridad de Señal en el Entorno de Diseño
Digital de Alta Velocidad
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