Muestreo de Aceptacion Por Atributos (Aros) 9-05-07 TP 2007
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Fecha 09 de Mayo 2007 Unidad lll Nombre Aros Muestreo de Aceptacion Antepenultimo 1 Penultimo 9 Plan simple de Muestreo por Atributos Tamaño de muestra n= 110 Criterio de decisiôn 2 Si las piezas defectivas p p(d<=c) 0.004 0.98975517 0.009 0.92152877 0.015 0.7703602 0.021 0.59338872 0.027 0.42994483 0.033 0.29747049 0.039 0.19861246 0.045 0.1289269 0.051 0.08181044 0.057 0.050951 0.063 0.03123974 0.069 0.01890198 0.075 0.0113076 0.081 0.00669813 Criterios para diseñar un plan de muestreo LTPD: Porcentaje minimo de defectivas desde donde se considera un lote "mode Criterios para diseñar un plan de muestreo Cual es un lote malo Es el lote que tiene p LTPD = Porcentaje minimo de defectivas desde donde s un lote "Tolerado" (Malo) b = p(ErrorTipo II) = probabilidad de aceptar un Protegerse de no rechazar lotes Buenos Cual es un lote Bueno Es el lote que tiene a de defectivos p1 o menos l=n*p= p()aceptar=p(d<=c)=S 0 c l d e l /d! 1. Protegerse de no aceptar lotes malos 2. No rechazar lotes buenos 3. Calidad Promedio de Salida 4. Costos Es el lote que tiene por lo menos un aproporcion de defctivas p2 o mas b=Probabilidad del error, probabilidad de aceptar un lote malo b= a Cual es el lote bueno, es el lote que tiene a lo mas una proporcion de defect Protegerse de no aceptar lotes Malos 0 0.01 0.02 0.03 0.04 0 0.2 0.4 0.6 0.8 1 Curva de potencia de Plan caracteristica de Operaci Proporcion de defectivas en p(Aceptar)=p(d<=c) Tablas MINITAB estandar 105-E Tabla quimic
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Control estadístico de procesosEcuacionesIngenieria quimica
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MApAFecha 09 de Mayo 2007Unidad lllGrupo 12 - 13NombreArosNo de
Cont4061196Muestreo de Aceptacion por
AtributosAntepenultimo1Penultimo9Ultimo6Plan simple de Muestreo por
AtributosTamao de muestra n=110Criterio de decisin c=2Si las piezas
defectivas
Labcomputo: Si las piezas defectivas en la muestra son c menos se
aceptael lote del cual proviene la
muestral=n*p=p()aceptar=p(dGeneracion de Numeros Aletorios >
Numero de variables 1 >Cantidad de numeros aleatorios 1 >
Distribucion Poisson > Lambda =n*p
nACRE0.010.030.05Lotes1 Normal5023121Se acepta el LoteSe acepta el LoteSe acepta el Lote2. Estricto5012013Se acepta el LoteSe acepta el LoteSe acepta el lote3. Reducida2013020Se acepta el LoteSe rechaza el loteSe acepta el Lote
Hoja3Muestreo de Aceptacion por AtributosInstituto Tecnologico de Chihuahuaftp://lcserver.itchihuahua.edu.mxControl Estadistico de CalidadCarreraGrupo12 13NombreArosAntepenultimo1Penultimo9Ultimo611
Disear los planes de muestreo de aceptacin por atributus con el
o los criterios que se le indiquen, al que se sometern lotes de
tamao 400cuyo proceso promedio es de1.950%Los posibles criterios de
diseo son:Criterio A Los lotes cuyo porcentaje de defectivos de
1.610%sea aceptados con una probabilidad de por lo menos95%Criterio
B Los lotes cuyo porcentaje de defectivos de4%sea aceptados a lo
mas con probabilidad de 10 %.
docente: Riesgo de Consumidor o b
Criterio C Los lotes que egresen del plan tengan una Calidad Promedio de Salida de a lo mas1.900%Tabls 10.2 pag 2231.- Idetificacion de DatosTABLA MIL STD 105Niveles Especialles Niveles GeneralesTamao del lote = N =400Taba Codigo de LetraS1S2S3S4IIIIIIProceso Promedio = PP =1.950%Rango N95%1AQL =1.610%0.91-a =95%281500H0.850112000.7120132000.63201100000.5Nota.- Si no se proporciona enl nivel de Inspeccion Seleccionar el nivel General II0.40.30.20.10AQL =1.610%LTPD =4%2.1 Normal Tabla II AAQL =1.610%Seleccionar el AQL mas proximoAQL %Codigon0.65%1.00%1.52.50%AcRe
G32H5023K125
Tomar el plan debajo de la flechaRespuesta Normal =n =50Ac =2Re =3Para Inspeccion Estricta2.1 Normal Tabla II BAQL =1.610%Seleccionar el AQL mas proximoAQL %Codigon0.65%1.00%1.52.50%AcRe
G32H5012K12556
Respuesta Estricta =n =80Ac =1Re =2
2.1.-Construir la CCO del Plan AnteriorPropocionpAc= P(d=
