Microscopio electronico

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El microscopio electrónico

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El microscopio electrónico

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En cualquier caso la imagen que se obtiene del objeto es mayor que este

• Un rayo de luz puede desviarse por reflexión o refracción

• Los rayos de luz que divergen desde un punto de un objeto pueden hacerse coincidir con una lente convergente

• Los electrones pueden desviarse por campos eléctricos o magnéticos

• Los electrones que divergen desde un punto de un objeto pueden hacerse converger por lentes electrostáticas o magnéticas

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Las diferencias

• Tiene una resolución hasta 200 nm

• La potencia amplificadora está limitada por la longitud de onda de la luz visible

• No se puede observar la estructura interna de las células ni átomos aislados

• No existe limitación de la longitud de la onda

• Tienen una resolución de 1.000 000 veces (TEM) y 300.000 veces (SEM)

• Se obtienen imágenes tridimensionales

El microscopio óptico

El microscopio electrónico

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• Físico e ingeniero electrónico alemán

• Por este trabajo y las mejoras posteriores de su invento, compartió el Premio Nobel de Física de 1986 con el físico alemán Gerd Karl Binnig y el físico suizo Heinrich Rohrer

• Junto con el físico alemán Max Knoll, construyó el primer prototipo en 1932.

• A pesar de que era rudimentario y carecía de uso práctico, el instrumento era capaz de ampliar los objetos 400 veces, produciendo imágenes mucho más precisas que los microscópicos ópticos.

Ruska

1906 - 1988 diseñó el primer

microscopio electrónico

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Tipos de microscopios electrónicos

• el microscopio electrónico de transmisión (Transmission Electron Microscope, TEM)

• el microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscope, SEM)

• microscopio electrónico de barrido y transmisión (Scanning Trasnmission Electron Microscope, STEM)

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La pantalla

Fuente de electrones

Lentes electromagnéticas

Muestra

TEM SEM

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El microscopio electrónico de transmisión (TEM)

• Un TEM dirige el haz de electrones hacia el objeto que se desea aumentar

• Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada del espécimen

• La muestra debe cortarse en capas finas, no mayores de un par de miles de ángstroms

• Se coloca una placa fotográfica o una pantalla fluorescente detrás del objeto para registrar la imagen aumentada

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El microscopio electrónico de barrido (SEM)

• Se crea una imagen ampliada de la superficie de un objeto

• No es necesario cortar el objeto en capas, sino que puede colocarse en el microscopio con muy pocos preparativos

• Su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de electrones, de forma parecida al barrido de un haz de electrones por la pantalla de una televisión

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El microscopio electrónico de barrido (SEM)

• Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o provocar la aparición de electrones secundarios

• Los electrones perdidos y los secundarios son recogidos y contados por un dispositivo electrónico situado a los lados del espécimen.

• Cada punto leído de la muestra corresponde a un píxel en un monitor de televisión.

• Cuanto mayor sea el número de electrones contados por el dispositivo, mayor será el brillo del píxel en la pantalla. A medida que el haz de electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor.

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El microscopio electrónico de barrido (SEM)

• Los microscopios electrónicos de barrido pueden ampliar los objetos 100.000 veces o más

• El SEM explora la superficie de la imagen punto por punto, al contrario que el TEM que examina una gran parte de la muestra cada vez

• Este tipo de microscopio es muy útil porque, al contrario que los TEM o los microscopios ópticos, produce imágenes tridimensionales realistas de la superficie del objeto

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Microscopio de barrido y transmisión (Scanning Trasnmission Electron Microscope,

STEM)

• Combina los elementos de un SEM y un TEM• Puede mostrar los átomos individuales de un objeto• Cuenta con un analizador de espectro de rayos X,

puede analizar los rayos X de alta energía que produce el objeto al ser bombardeado con electrones

• La identidad de los diferentes átomos y moléculas de un material se puede conocer utilizando sus emisiones de rayos X

• No sólo se proporciona una imagen ampliada de la muestra, sino que suministra también información sobre la composición química del material.

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Bibliografía

• www.andaluciainvestiga.com/espanol/noticias/

• www.sld.cu/sitios/histologia/

• www.educarex.es/

• www.ceramicaycristal.com.ar/Ciencia.htm

• http://www.ceramicaycristal.com.ar/index.htm

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¡GRACIAS POR LA ATENCIÓN!

Лили Самуркова

164ГПИЕ “М. де Сервантес”, София

2010 г.