Microscopio electronico
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El microscopio electrónico
En cualquier caso la imagen que se obtiene del objeto es mayor que este
• Un rayo de luz puede desviarse por reflexión o refracción
• Los rayos de luz que divergen desde un punto de un objeto pueden hacerse coincidir con una lente convergente
• Los electrones pueden desviarse por campos eléctricos o magnéticos
• Los electrones que divergen desde un punto de un objeto pueden hacerse converger por lentes electrostáticas o magnéticas
Las diferencias
• Tiene una resolución hasta 200 nm
• La potencia amplificadora está limitada por la longitud de onda de la luz visible
• No se puede observar la estructura interna de las células ni átomos aislados
• No existe limitación de la longitud de la onda
• Tienen una resolución de 1.000 000 veces (TEM) y 300.000 veces (SEM)
• Se obtienen imágenes tridimensionales
El microscopio óptico
El microscopio electrónico
• Físico e ingeniero electrónico alemán
• Por este trabajo y las mejoras posteriores de su invento, compartió el Premio Nobel de Física de 1986 con el físico alemán Gerd Karl Binnig y el físico suizo Heinrich Rohrer
• Junto con el físico alemán Max Knoll, construyó el primer prototipo en 1932.
• A pesar de que era rudimentario y carecía de uso práctico, el instrumento era capaz de ampliar los objetos 400 veces, produciendo imágenes mucho más precisas que los microscópicos ópticos.
Ruska
1906 - 1988 diseñó el primer
microscopio electrónico
Tipos de microscopios electrónicos
• el microscopio electrónico de transmisión (Transmission Electron Microscope, TEM)
• el microscopio electrónico de barrido (Scanning Electron Microscope, SEM)
• microscopio electrónico de barrido y transmisión (Scanning Trasnmission Electron Microscope, STEM)
La pantalla
Fuente de electrones
Lentes electromagnéticas
Muestra
TEM SEM
El microscopio electrónico de transmisión (TEM)
• Un TEM dirige el haz de electrones hacia el objeto que se desea aumentar
• Una parte de los electrones rebotan o son absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una imagen aumentada del espécimen
• La muestra debe cortarse en capas finas, no mayores de un par de miles de ángstroms
• Se coloca una placa fotográfica o una pantalla fluorescente detrás del objeto para registrar la imagen aumentada
El microscopio electrónico de barrido (SEM)
• Se crea una imagen ampliada de la superficie de un objeto
• No es necesario cortar el objeto en capas, sino que puede colocarse en el microscopio con muy pocos preparativos
• Su funcionamiento se basa en recorrer la muestra con un haz muy concentrado de electrones, de forma parecida al barrido de un haz de electrones por la pantalla de una televisión
El microscopio electrónico de barrido (SEM)
• Los electrones del haz pueden dispersarse de la muestra o provocar la aparición de electrones secundarios
• Los electrones perdidos y los secundarios son recogidos y contados por un dispositivo electrónico situado a los lados del espécimen.
• Cada punto leído de la muestra corresponde a un píxel en un monitor de televisión.
• Cuanto mayor sea el número de electrones contados por el dispositivo, mayor será el brillo del píxel en la pantalla. A medida que el haz de electrones barre la muestra, se presenta toda la imagen de la misma en el monitor.
El microscopio electrónico de barrido (SEM)
• Los microscopios electrónicos de barrido pueden ampliar los objetos 100.000 veces o más
• El SEM explora la superficie de la imagen punto por punto, al contrario que el TEM que examina una gran parte de la muestra cada vez
• Este tipo de microscopio es muy útil porque, al contrario que los TEM o los microscopios ópticos, produce imágenes tridimensionales realistas de la superficie del objeto
Microscopio de barrido y transmisión (Scanning Trasnmission Electron Microscope,
STEM)
• Combina los elementos de un SEM y un TEM• Puede mostrar los átomos individuales de un objeto• Cuenta con un analizador de espectro de rayos X,
puede analizar los rayos X de alta energía que produce el objeto al ser bombardeado con electrones
• La identidad de los diferentes átomos y moléculas de un material se puede conocer utilizando sus emisiones de rayos X
• No sólo se proporciona una imagen ampliada de la muestra, sino que suministra también información sobre la composición química del material.
Bibliografía
• www.andaluciainvestiga.com/espanol/noticias/
• www.sld.cu/sitios/histologia/
• www.educarex.es/
• www.ceramicaycristal.com.ar/Ciencia.htm
• http://www.ceramicaycristal.com.ar/index.htm
¡GRACIAS POR LA ATENCIÓN!
Лили Самуркова
164ГПИЕ “М. де Сервантес”, София
2010 г.