METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

63
Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O. LABORA TORIO DE METROLOGÍA 

Transcript of METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

Page 1: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 1/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

LABORATORIO DE METROLOGÍA 

Page 2: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 2/63

Page 3: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 3/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Vocabulario Metrológico Internacional VIM(NTC 2194)

Sistema Internacional de Unidades SI(NTC 1000)

Calibrador pié de rey (NTC 4303)

Tornillo micrométrico (NTC 4352) Sistema de Aseguramiento Metrológico

(NTC-ISO 10012-1)

Contenido 

Page 4: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 4/63

Page 5: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 5/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Vocabulario Metrológico Internacional VIM:

Define claramente cada uno de losconceptos relacionados con la Metrología.

Se convierte en una herramientafundamental para la elaboración demanuales, procedimientos, instructivos, etc.

En Colombia su equivalente es la NTC-2194

Page 6: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 6/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Metrología 

Ciencia que estudia los Procesos

de Medición(VIM 2.2 - NTC 2194) 

Page 7: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 7/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Proceso de Medición 

Metrólogo

Objeto o pieza a Medir Equipo de Medición

Método de Medición

Condiciones Ambientales 

Page 8: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 8/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Clases de Metrología 

Metrología Industrial

Metrología Legal

Metrología Científica

Page 9: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 9/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Campos de Acción: Metrología científica:

Mejoramiento de laexactitud de las

mediciones, realizadas enla investigación científicay en la innovacióntecnológica

Búsqueda continua de

nuevos patrones que,representen omaterialicen, de mejormanera, las unidades demedición

Metrología Legal:

Verificación de pesas yequipos de pesaje

Verificación de cintasmétricas

Control de escape degases de vehículos

Taxímetros, cilindrosde gas, contadoreseléctricos, de agua yde gas

Page 10: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 10/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Clasificación por variable a medir: 

Mediciones longitudinales ygeométricas

Termometría

Masas y Balanzas Volumen y Densidad

Fuerza

Electricidad Presión

Tiempos y Frecuencias 

Page 11: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 11/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Estructura Organizacional 

SISTEMA METROLÓGICO INTERNACIONAL

Empresas(Patrones y Equipos)

REMECRed metrológica Colombiana

SICCentro de Control de Calidad

y Metrología en Colombia

PTB(Alemania)

JIS(Japón)

Organismos NacionalesMetrológicos de otros países

BIPMBuró Internacional de Pesas y Medidas

Page 12: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 12/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Medición 

Conjunto de operaciones que

tiene por objeto determinarel valor de una magnitud 

(VIM 2.1 - NTC 2194) 

Page 13: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 13/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Resultado de una medición 

Valor atribuido a una magnitud

por medir, obtenido mediantemedición (VIM 3.1 - NTC 2194) 

Page 14: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 14/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Instrumento de medición 

Dispositivo destinado paraefectuar mediciones, solo o en

conjunto con uno o variosdispositivos adicionales

(VIM 4.1 - NTC 2194) 

Page 15: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 15/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Error de medición 

Resultado de un mensurando(medición), menos un valorverdadero del mensurando(medida)

(VIM 3.10 - NTC 2194) 

Page 16: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 16/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Especificación 

Cuantificación de una o máscaracterísticas, propias de un

objeto y/o producto, queposibilita evaluar la calidad delmismo.

Está configurada por lapresencia de un valor nominal,acompañado de una tolerancia. 

Page 17: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 17/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Tolerancia de Especificación 

Determina el rango devariación máxima y

aceptación por parte delcliente, de una característicadada en un producto. 

Page 18: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 18/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Exactitud de la medición 

Cercanía del acuerdo entre elresultado de una medición yun valor verdadero de lamagnitud por medir

(VIM 3.5 - NTC 2194) 

Page 19: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 19/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Calibración 

Conjunto de operaciones que establecen,bajo condiciones específicas, la relaciónentre los valores de las magnitudes que

indique un instrumento de medición o unsistema de medición, o valores representadospor una medida materializada o por unmaterial de referencia, y los valorescorrespondientes determinados por medio delos patrones.

(VIM 6.11 - NTC 2194) 

Page 20: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 20/63

Page 21: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 21/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Patrón de medición 

Medida materializada, instrumentode medición, material de referencia

o sistema de medición destinado adefinir, realizar, conservar oreproducir una unidad o uno o másvalores de una magnitud que sirvacomo referencia

(VIM 6.1 - NTC 2194)

Page 22: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 22/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Clases de patrones 

Internacional

Nacional

Lab. Primarios

Lab. Secundarios

Lab. de Calibración de la Empresa

Equipo de Medición

Medición de Materias Primas, Proceso o Producto

Page 23: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 23/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Trazabilidad 

Propiedad del resultado de una medición odel valor de un patrón, en virtud de la cual

ese resultado se puede relacionar conreferencias estipuladas, general mentepatrones nacionales o internacionales, através de una cadena ininterrumpida de

comparaciones que tengan incertidumbresdeterminadas (VIM 6.10 - NTC 2194)

Page 24: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 24/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Todos aquellos elementos queposibilitan la evaluación de lascaracterísticas del producto,durante la recepción, el proceso yembale final.

Normalmente estos equipos seubican en laboratorios o áreas bajocondiciones ambientales controladas. 

Equipo de inspección 

Page 25: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 25/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Equipo de ensayo 

Todos aquellos elementos que

posibilitan la simulación de lascondiciones de desempeño delproducto.

Normalmente estos equipos seubican en laboratorios o áreas bajocondiciones ambientales controladas 

Page 26: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 26/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Repetibilidad 

Proximidad de concordancia entre

los resultados de medicionessucesivas del mismo mensurandorealizadas bajo las mismascondiciones de medición 

(VIM 3.6 - NTC 2194)

Page 27: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 27/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Reproducibilidad 

Proximidad de concordancia entre

los resultados de mediciones delmismo mensurando realizadasbajo condiciones variables demedición 

(VIM 3.7 - NTC 2194)

Page 28: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 28/63

Page 29: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 29/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Sistema Internacional de Unidades (SI) 

Conjunto sistemático, organizado y coherente deunidades, adoptado por convención

Consultar Norma Técnica Colombiana NTC-1 000 

PARA MÁS INFORMACIÓN... 

Adoptado en la XI conferencia General dePesas y Medidas (1 960)

Maneja una serie de unidades básicas yderivadas

Page 30: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 30/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Sistema Internacional de Unidades (SI) 

1853 Adopción del sistema decimal francés para efectosoficiales

1905 Uso obligatorio del sistema decimal francés para

asuntos oficiales y comerciales1931 a 1967 Regulaciones para aspectos complementarioscomo tolerancia para patrones y equivalencias

1971 Implantación del Sistema Internacional de Unidades

1974 Adopción de la norma NTC 1000

1993 Decreto 2269 Sistema Nacional de Normalización,Certificación y Metrología

1995 Ley 005 uso obligatorio del SI en el territoriocolombiano 

Page 31: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 31/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Estructura del SI 

Sistema Internacional de Unidades

Unidades Fundamentales Unidades Derivadas Unidades Suplementarias

Longitud, masa,tiempo, corriente

eléctrica, temperatura,intensidad luminosa,cantidad de substancia. 

Superficie, volumen,densidad de masa,

velocidad lineal,velocidad angular,aceleración,aceleración angular. 

 Ángulo plano,ángulo sólido. 

Page 32: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 32/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Reglas generales para el uso del SI en Colombia:

Después de los símbolos del “SI”  no se colocará ningún signo depuntuación.

Cuando se haga referencia a una unidad, es preferible escribir elnombre completo de la misma.

Los símbolos de unidad, no tienen plural, independiente del valornumérico que los acompañe.

No se acepta la utilización de abreviaturas.

No se deben combinar nombres y símbolos al expresar las unidadesderivadas.

Cada unidad y cada prefijo tiene un solo símbolo, y este no debeser alterado.

Todo valor numérico debe expresarse con su unidad.

La coma es reconocida por la “ISO” como el único signo ortográficoen la escritura de números. 

Page 33: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 33/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Aproximación y Redondeo 

Determina la correcta eliminación de cifras

Posibilita el manejo de cantidades, con unerror asociado mínimo

Ej.: Incorrecto Correcto

35,558 349mm   35,55mm 35,56mm

NOTA: Muy aplicado a la hora de crear evidencia objetiva (registros) 

Page 34: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 34/63

Page 35: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 35/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Los errores que se suscitan en la

medición se deben principalmente a

tres factores:Error debido al entorno o medioambiente

Error debido al ejecutor o metrólogoError debido al equipo de medición

Error en la Medición 

Page 36: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 36/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Variación de temperatura en elsitio

Influencia del calor debido a lailuminación artificial Radiaciones solares, de hornos yestufas

Temperatura del cuerpo queefectúa la medida

Error debido al entorno

Page 37: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 37/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

L = Lo t  

 L = Incremento de longitudLo = Longitud inicial

 

t = Incremento de temperatura  = Coeficiente de dilatación

Error por dilatación térmica

Page 38: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 38/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Por presión de contacto (deformacióno aplastamiento)

Imperfecciones por la fabricación delequipo (holguras, rozamientos,desgastes, deformaciones)

Imperfecciones por el uso del equipo(envejecimiento de ejes, palancas,engranajes, bujes)

Error debido al equipo

Page 39: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 39/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Capacitación

Agudeza visual

Tacto y sensibilidad

Cansancio

Posición incorrecta de la piezaMal uso del equipo

Error debido al metrólogo 

Page 40: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 40/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Error debido al método 

Error de paralaje Error por posición incorrecta del

equipo Error con los contactos de medida Error por elección del equipo de

medición Error por métodos no validados

Page 41: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 41/63

Page 42: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 42/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Nomenclatura del Pié de Rey 

Superficies de medición paraexteriores (Mandíbula fija ymóvil) (3)

Superficies de medición parainteriores (4)

Escala principal (1)

Nonio (5)

Tornillo de fijación (7)

Barra de profundidad (6)

Cursor (2) 

Page 43: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 43/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Versatilidad del Pié de Rey 

1

2

31. Medición de exteriores 2. Medición de interiores

3. Medición de profundidades

Page 44: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 44/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Pié de Rey especiales 

1. Con ajuste fino

2. Derechos e

izquierdos

3. Para medir piezasblandas

1

3

2

Page 45: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 45/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Pié de Rey resolución 0,1mm 

3 0  40  50  60  70  80  90 

35,6 mm 

0 1 2 3 4 5 6 7 8  9 10 0,1mm 

Page 46: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 46/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Ejercicio de aplicación 

I J 

K  

A B C D E F 

Page 47: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 47/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Pié de Rey resolución 0,05mm 

30  40  50  60  70  80  90 

0 1 2 3 4 5 6 7 8  9 10 

0,05mm 

42,95 mm 

Page 48: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 48/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Ejercicio de aplicación 

I J 

K  

A B C D E F 

Page 49: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 49/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Pié de Rey resolución 0,02mm 

30  40  50  60  70  80  90 

0 1 2 3 4 5 6 7 8  9 10 0,02mm 

42,32 mm 

Page 50: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 50/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Ejercicio de aplicación 

I J 

K  

A B C D E F 

Page 51: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 51/63

Page 52: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 52/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Nomenclatura del Micrómetro 

 Arco (1) 

Husillo de medición (2) 

Yunque de medición (3) Tambor (4) 

Trinquete (5)

Seguro del husillo (6)

Tambor graduado (7)

Escala principal (8)

Línea de referencia (9)

Page 53: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 53/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Tipos de micrómetros 

Page 54: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 54/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Micrómetro resolución 0,01mm 

0

 0

5

45

1 mm

0,01 mm

Page 55: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 55/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Ejercicio de aplicación 

I J 

K  

A B C D E F 

Page 56: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 56/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Micrómetro resolución 0,001mm 

0

 0

5

45

1 mm

0,01 mm

0,5 mm

 

Page 57: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 57/63

 

Page 58: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 58/63

Page 59: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 59/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Cómo se asegura metrológicamente? 

Generando un ambiente de confianza, respecto delas mediciones realizadas y sus resultados. 

Para ello es necesario: Revisar las especificaciones o normas relativas a los

diferentes procesos Determinar la exactitud de los equipos de medición

requeridos en los procesos  Elaborar un inventario de los equipos de medición

existentes 

Capacitar el personal profesional y técnico enmetrología Evaluar los costos de adquisición de patrones Destinar un lugar para el laboratorio de metrología 

Page 60: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 60/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Confirmación Metrológica

Conjunto de operaciones que serequieren para asegurar que unítem del equipo de medición seencuentra en estado decumplimiento de los requisitos

relacionados con su utilizaciónpropuesta.(NTC-ISO 10 012-1, numeral 3.1) 

Page 61: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 61/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Control de Equipos

Controlar significa:

Distinguir los equipos controlados y no controlados

Localización del equipo, retiro de uso, mantenimiento,etc

Prioridades de entrenamiento Condición actual de lo equipo:

Estado de calibración (certificado y sello decalibración, registros, etc.)

Trabajos realizados con el equipo (mediciones, etc)Uso del equipo (patrón de calibración, trabajo, etc.)

Selección del equipo de medida, herramientas,etc. 

Page 62: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 62/63

Propiedad Intelectual de Edgar M. Pretel O.

Plan de Calibración 

Está determinado por:

El tipo de equipo

Las recomendaciones del fabricante

Los datos de tendencias, obtenidos a partir de calibracionesanterioresLa historia registrada de mantenimiento y servicio asociado

El grado y la severidad de la utilización

La tendencia al desgaste y la desviación

La frecuencia de comprobación Vs otro equipo de medición,especialmente patrones

Las condiciones ambientales

La exactitud de medición buscada

Page 63: METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

8/13/2019 METROLOGÍA BÁSICA - eDGAR

http://slidepdf.com/reader/full/metrologia-basica-edgar 63/63

Auditorias Internas 

Se deben desarrollar de manera periódica ysistemática

Deben garantizar la eficacia y el cumplimiento

de los requisitos establecidos en el Sistema deConfirmación Metrológica

Deben proporcionar información queretroalimente el Sistema

Los planes y procedimientos se debendocumentar de tal manera que sirvan comoevidencia de la revisión del Sistema