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ELT 3752 DISEO Y PROYECTOS DE SISTEMAS DE CONTROL LABORATORIO No. 6

IDENTIFICACIN DEL MODELO MATEMTICO DE PROCESOS DE TEMPERATURA YGENERADOR MOTOR DE C.C.

6.1. OBJETIVOS.

Identifcar el modelo matemtico del kit de control de temperatura ELWE mediante latarjeta de adquisicin de datos NI USB-6!" de National Instruments # el so$t%are

L&B'IEW(

Identifcar el modelo matemtico del kit de control de )elocidad de un *enerador -motorde corriente continua ELWE mediante la tarjeta de adquisicin de datos NIUSB-6!" deNational Instruments # el so$t%are L&B'IEW(

Identifcar los parmetros +a, a! a . an # /, /! / . /m0 de la $uncin detrans$erencia del 1orno de temperatura # del *enerador - motor de corriente continuamediante el so$t%are L&B'IEW(

6.2. FUNDAMENTO TERICO.

La adq!"!#!$% d& da'(" o adquisicin de se2ales consiste en la toma de muestras del mundoreal +sistema anal*ico0 para *enerar datos que puedan ser manipulados por un ordenador uotras electrnicas +sistema di*ital0( 3onsiste en tomar un conjunto de se2ales $4sicascon)ertirlas en tensiones el5ctricas # di*italiarlas de manera que se puedan procesar en unacomputadora( Se requiere una etapa de acondicionamiento que adecua la se2al a ni)elescompati/les con el elemento que 1ace la trans$ormacin a se2al di*ital( El elemento que 1acedic1a trans$ormacin es el mdulo de di*italiacin o tarjeta de adquisicin de datos +DA)0(

En este la/oratorio se estudiara la aplicacin de la tarjeta de adquisicin de datos NI USB-6!"de National Instruments # el so$t%are L&B'IEW para la identifcacin del modelo matemtico dekit de temperatura # el kit *enerador - motor de corriente continua ELWE(

7e la misma $orma en este la/oratorio se estudiara la aplicacin de la tarjeta de adquisicin dedatos 7&8 NI USB-6!" la tarjeta posee 9 entradas de !6 /its # una )elocidad de muestreo de:,kS;s( El so$t%are L&B'IEW para la o/ser)acin del comportamiento de la respuesta de lossistemas indicados(Las caracter4sticas de la tarjeta de adquisicin de datos 7&8 NI USB-6!"

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Fig. 1 Tarjeta de adquisicin de datos

6.* DESARROLLO.

& continuacin se muestra los pasos realiados en $oto*ra$4as paraencontrarla $uncin de

trans$erencia con La/)ie%(

SISTEMA DE TRABAJO +IT DE TEMPERATURAagnw egwensis

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PASOS DE LABVIEW

D!a,-aa &% LABVIE/

M&d!#!$% a !'ad d&0 -(#&"( d& '(a d& da'("

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a00a%d( 0a 3%#!$% d& '-a%"3&-&%#!a

SISTEMA DE TRABAJO +IT DE VELOCIDAD

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A MEDIO FUNCIONAR

a00a%d( 0a 3%#!$% d& '-a%"3&-&%#!a

6.4. CUESTIONARIO

1.5 I%&"'!,& 0(" da'(" 7" -&0&a%'&" d&0 "(3'8a-& LABVIE/.

La/'IEW Si*nalE

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Tabla 1.Compare los tres niveles de software para registro de datos de NI.

National Instruments proporciona tres ni)eles de so$t%are para re*istro de datos cada uno

personaliado para cumplir con necesidades espec4fcas( La/'IEW Si*nalE

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&islamiento 3&> I de 6, ' +!,,, 'rms : s continuo0 para se*uridad # precisinmejoradas

NI si*nal streamin* para trans$erencia de datos /idireccional a alta )elocidad en USBAla )ersin EC est disponi/le

3ompati/le con La/'IEW La/Windo%sD;3'I # Ceasurement Studio para 'isuaStudio (NE>

So$t%are controlador NI-7&8m< # so$t%are interacti)o NI La/'IEW Si*nalE@L C7E@N& cuarta edicin( =rentice alispanoamericana ,,9(FG Benjam4n 3( Huo &U>C&>I3 3N>@L SJS>ECS septima edicin =rentice all !KK6(F9G %%%(ni(comFG %%%(ad)antec1(com