FUNDAMENTO ICP-OES
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FUNDAMENTO ICP-OES muestra pasa a través del plasma plasma proporciona energía a la muestra llevándola a estados ergéticos superiores muestra tiende a recuperar su estado fundamental al sar la energía muestra emite radiación con una longitud de onda que es racterística del elemento que la compone
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FUNDAMENTO ICP-OES. La muestra pasa a través del plasma El plasma proporciona energía a la muestra llevándola a estados energéticos superiores La muestra tiende a recuperar su estado fundamental al cesar la energía La muestra emite radiación con una longitud de onda que es - PowerPoint PPT Presentation
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FUNDAMENTO ICP-OES
La muestra pasa a través del plasma
El plasma proporciona energía a la muestra llevándola a estados energéticos superiores
La muestra tiende a recuperar su estado fundamental al cesar la energía
La muestra emite radiación con una longitud de onda que es característica del elemento que la compone
1. SISTEMAS DE INTRODUCCIÓN DE MUESTRAS
INSTRUMENTACIÓN ICP-OES
3. ESPECTROMETRO
2. FUENTE DE IONES. PLASMA
4. DETECTORCOMÚN ICP-MS
ESPECTRÓMETRO
VISIÓN RADIAL
Durante mucho tiempo los sistemas ópticos han estado utilizando la visión radial
La emisión atraviesa una rendija lateral
La altura de observación es importante
ESPECTRÓMETRO
VISIÓN AXIAL
El camino óptico de la emisión es mayor que en el plasma observado radialmente
Se mejora la sensibilidad y los LOD
La visión axial no extiende el rango dinámico lineal sino que lo desplaza a concentraciones menores
ESPECTRÓMETRO
VISIÓN AXIAL
Problemas de reabsorción: la emisión del analito es absorbida por los átomos en estado fundamental en la zona fría del plasma (pluma)
SOLUCIÓN: Uso del Shear gas para desplazar la plumaEquipos con visión dual (radial y axial)
EQUIPOS ACTUALES CONFIGURACIÓN DUAL
DISPERSIÓN DE LA EMISIÓN. ICP-OES
DETECTORES
Una vez las líneas de emisión han sido aisladas el detector mide su intensidad
TUBO FOTMULTIPLICADOR
Amplifican la señal de la radiación recibida del orden de 106
La corriente eléctrica medida en el ánodo es utilizada para medir la intensidad de la radiación
DETECTORES
DETECTORES DE ESTADO SÓLIDO
En los equipo actuales detectores SCD
Chips con superficie de silicio sobre la cual hay una serie de detectores segmentados localizados estratégicamente para medir las líneas de emisión
![Aplicaciones [Modo de compatibilidad] · ICP-OES. 3. DETERMINACIÓN DE ... La concentración en estas partes de la planta refleja la ... También el Al, Ca, Zn y Sn Formación de](https://static.fdocuments.ec/doc/165x107/5bc7170509d3f201518cf44d/aplicaciones-modo-de-compatibilidad-icp-oes-3-determinacion-de-la-concentracion.jpg)
