Diseño de un acelerómetro basado en tecnología MEMS (I)Documentación a entregar • Breve...

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Diseño de un acelerómetro basado en tecnología MEMS (I) Antonio Luque Estepa Dpto. Ingeniería Electrónica Prácticas de Microsistemas

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Diseño de un acelerómetro basado en tecnología MEMS (I)

Antonio Luque Estepa

Dpto. Ingeniería Electrónica

Prácticas de Microsistemas

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Contenido

1. Introducción

2. Modelo del acelerómetro

3. Especificaciones

4. Documentación a entregar

5. Datos disponibles

6. Más información

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Introducción

• Diseño de un acelerómetro capacitivo

• Proceso de diseño completo:– Cálculo de dimensiones y parámetros

– Simulación del comportamiento– Proceso de fabricación– Dibujo de máscaras– Presupuesto de fabricación

Page 4: Diseño de un acelerómetro basado en tecnología MEMS (I)Documentación a entregar • Breve memoria del proceso de diseño • Proceso de fabricación, con el formato especificado

Funcionamiento general

• La aceleración provoca un movimiento en el sensor

• El movimiento provoca un cambio en la capacidad de dos condensadores

• El circuito hace que cambie la tensión de salida

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Funcionamiento general

• La aceleración provoca un movimiento en el sensor

• El movimiento provoca un cambio en la capacidad de dos condensadores

• El circuito hace que cambie la tensión de salida

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Contenido

1. Introducción

2. Modelo del acelerómetro

3. Especificaciones

4. Documentación a entregar

5. Datos disponibles

6. Más información

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Modelo del acelerómetro

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Modelo matemático

Aceleración del marco de referencia (sistema no inercial) equivale a una fuerza sobre la masa en el marco fijo

donde a es la aceleración que se desea medir

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Función de transferencia

Nos interesa el funcionamiento cuasi-estático (s=0)

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Función de transferencia

Frecuencia natural

Factor de calidad

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Función de transferencia

Frecuencia natural

Factor de calidad

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Función de transferencia

Frecuencia natural

Factor de calidad

Ejemplo

Un acelerómetro de 50gy ω

0=24.7kHz

tendría un desplazamientode la masa de 20nm

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Ruido intrínsecoRuido debido a la amortiguación browniana, en una banda de 1Hz

Aceleración producida por el ruido, en valor rms

Otras fuentes de ruido:

- Amplificación electrónica- Estructuras adicionales- Fallos de calibración- Drift

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Sensores capacitivos

Vamos a medir el desplazamiento mediante un cambio en la capacidad.

Tengamos dos electrodos fijos y uno móvil:

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Medida de la capacidad

Amplificador de transimpedancia

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Medida de la capacidadRealimentación capacitiva

Capacidades conmutadas

Seguidor de tensión

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Estructura del acelerómetroCombinación de varios sensores capacitivos.Estructura en “peine”

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Deformación de una viga

Con E módulo de Young (propiedad del material), W ancho, H espesor, y L longitud total.

Viga apoyada en los extremos, con fuerza aplicada en el centro

¡OJO! En el acelerómetro hay dos vigas que sostienen a la masa (con efecto sobre la k total)

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Modelo completo

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Modelo completo

Eje X

Eje Y

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Modelo completo

Eje Z

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Modelo completo

Mecánica

Adaptación de señal

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Contenido

1. Introducción

2. Modelo del acelerómetro

3. Especificaciones

4. Documentación a entregar

5. Datos disponibles

6. Más información

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EspecificacionesSensibilidad

Fondo de escala (rango). Limitado por el margen de movimiento de los electrodos y por la rotura de las vigas

Ancho de banda

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Tamaño

Acelerómetro(max 500x500um)

Electrónica(400x600 um)

Pads (1mm)

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Criterios de diseño

• Optimización– Económica

– En espacio– De las características

• Cualquier decisión de diseño debe justificarse

• Siempre cumpliendo las especificaciones mínimas

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Contenido

1. Introducción

2. Modelo del acelerómetro

3. Especificaciones

4. Documentación a entregar

5. Datos disponibles

6. Ejemplo de proceso

7. Más información

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Documentación a entregar• Breve memoria del proceso de diseño

• Proceso de fabricación, con el formato especificado

• Dibujos de las máscaras, con marcas de alineación (marcas de referencia)

• Presupuestos para 1, 1000 y 1000000 uds.

• Hoja de características: dimensiones, sensibilidad, rango, frecuencia de resonancia y ancho de banda.

• Diagrama de Bode del acelerómetro, obtenido a partir del modelo Simulink

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Datos disponibles

• Lista de materiales que se pueden usar

• Propiedades de los materiales: densidad, módulo de Young, resistividad, tensión de rotura

• (Lista de procesos, con costes)

• (Tasas de grabado)

• No todos los datos y procesos son necesarios

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Datos disponibles

• Modelos Simulink de acelerómetros comerciales ADXL202, ADXL203, ADXL311 y ADXL320

• Disponibles en www.analog.com y en la web de la asignatura

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Contenido

1. Introducción

2. Modelo del acelerómetro

3. Especificaciones

4. Documentación a entregar

5. Datos disponibles

6. Más información

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Acelerómetros existentes

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Acelerómetros existentes

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Acelerómetros existentes

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Acelerómetros existentes

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Acelerómetros existentes

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Continuación

• Práctica 2– 13 marzo, 9:30 y 11:30, aula 009– 14 marzo 17:00 y 19:00, aula 103– 15 marzo 11:30, aula 009

• Enunciado y presentación en http://www.gte.us.es/ASIGN/SEA

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Más información

• Profesor de prácticas: Antonio Luque Estepa [email protected]

• Ubicación del despacho: L2-P1-S62

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Bibliografía

• Marc J. Madou, Fundamentals of Microfabrication, CRC Press, 1997

• N. Yazdi et al., “Micromachined inertial sensors”, Proc. IEEE, vol. 86, pp. 1640-1659, 1998

• Stephen D. Senturia, Microsystem design, Kluwer Academic, 2001