1007付 裏面 入稿cs5 - Mitsukoshi...PRESENT1 10/10(月・祝)までファイブフォックスメンバーズカードの ポイントを通常の3倍プレゼント。PRESENT2
CTA 報告89 CTA大口径望遠鏡...
Transcript of CTA 報告89 CTA大口径望遠鏡...
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
CTA 報告89 CTA大口径望遠鏡
初号機用光電子増倍管の較正試験永吉勤 A 猪目祐介 B 梅津陽平 C 大岡秀行 D 荻野桃子 D 折戸玲子 E 片桐秀明 F 194797田淳子 C 窪秀利 G 郡司修一 H 小山志勇 A 澤田真理 I 高橋光成 D 辻本晋平 C 坪根善雄 I 手嶋政廣 DJ 寺田幸功 A 友野弥生C 中嶋大輔D 西嶋恭司C 花畑義隆D
林田将明D 馬場彩I 松岡俊介A 山本常夏B 他 CTA-Japan Consortium
埼玉大学理 A 甲南大理工 B 東海大理 C 東大宇宙線研 D 徳島大総科 E 茨城大理 F 京大理 G 山形大理 H 青山大理工 I Max-Plank-Instfuer PhysJ
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
CTA 大口径望遠鏡
23m
Large-Sized Telescope (LST) 重量2 ton
視野45 deg
PMT数1855
140 mm
PMT cluster
7 PMT modules
読み出し回路13CTA報告91 増田講演
480 mm
焦点面カメラ(FPI)
CTA報告86 窪講演
焦点面カメラ
イメージ
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
PreAmpCW回路HAMAMATSU R11920-100
光電子増倍管の開発
LST初号機分のPMT2000本が納品され132016年の建設開始に向けて現在は全数較正試験を実施
量子効率は平均4113後段の回路はゲイン4times104で設計13ゲイン4times104(後段回路設計)を保ちつつ13 パルス幅を細めるため余計な信号は13 PreAmp手前で減衰させる
~ 39 mm
~ 150 mm
initialadjusted
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
LST初号機用の約2000本のPMT moduleの動作チェック及び13諸特性を測定してデータベース化し13
PMT module の配置を考慮するために行う
較正試験の目的と試験項目目的
動作チェック運用HV ゲイン
試験項目 要求値
F-Factor(超過雑音指数) δQQlt1 2pe δQQ lt 01 1000pe
パルス幅 25 ~ 30 ns
Afterpulse Rate 2times10-
CTA報告90 高橋講演
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
波長405 nsの
レーザーダイオード
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
アナログメモリ式
ADC
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
8本を同時に測定
(内2本はreference)
6本1時間のペースで測定較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
CTA 大口径望遠鏡
23m
Large-Sized Telescope (LST) 重量2 ton
視野45 deg
PMT数1855
140 mm
PMT cluster
7 PMT modules
読み出し回路13CTA報告91 増田講演
480 mm
焦点面カメラ(FPI)
CTA報告86 窪講演
焦点面カメラ
イメージ
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
PreAmpCW回路HAMAMATSU R11920-100
光電子増倍管の開発
LST初号機分のPMT2000本が納品され132016年の建設開始に向けて現在は全数較正試験を実施
量子効率は平均4113後段の回路はゲイン4times104で設計13ゲイン4times104(後段回路設計)を保ちつつ13 パルス幅を細めるため余計な信号は13 PreAmp手前で減衰させる
~ 39 mm
~ 150 mm
initialadjusted
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
LST初号機用の約2000本のPMT moduleの動作チェック及び13諸特性を測定してデータベース化し13
PMT module の配置を考慮するために行う
較正試験の目的と試験項目目的
動作チェック運用HV ゲイン
試験項目 要求値
F-Factor(超過雑音指数) δQQlt1 2pe δQQ lt 01 1000pe
パルス幅 25 ~ 30 ns
Afterpulse Rate 2times10-
CTA報告90 高橋講演
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
波長405 nsの
レーザーダイオード
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
アナログメモリ式
ADC
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
8本を同時に測定
(内2本はreference)
6本1時間のペースで測定較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
PreAmpCW回路HAMAMATSU R11920-100
光電子増倍管の開発
LST初号機分のPMT2000本が納品され132016年の建設開始に向けて現在は全数較正試験を実施
量子効率は平均4113後段の回路はゲイン4times104で設計13ゲイン4times104(後段回路設計)を保ちつつ13 パルス幅を細めるため余計な信号は13 PreAmp手前で減衰させる
~ 39 mm
~ 150 mm
initialadjusted
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
LST初号機用の約2000本のPMT moduleの動作チェック及び13諸特性を測定してデータベース化し13
PMT module の配置を考慮するために行う
較正試験の目的と試験項目目的
動作チェック運用HV ゲイン
試験項目 要求値
F-Factor(超過雑音指数) δQQlt1 2pe δQQ lt 01 1000pe
パルス幅 25 ~ 30 ns
Afterpulse Rate 2times10-
CTA報告90 高橋講演
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
波長405 nsの
レーザーダイオード
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
アナログメモリ式
ADC
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
8本を同時に測定
(内2本はreference)
6本1時間のペースで測定較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
LST初号機用の約2000本のPMT moduleの動作チェック及び13諸特性を測定してデータベース化し13
PMT module の配置を考慮するために行う
較正試験の目的と試験項目目的
動作チェック運用HV ゲイン
試験項目 要求値
F-Factor(超過雑音指数) δQQlt1 2pe δQQ lt 01 1000pe
パルス幅 25 ~ 30 ns
Afterpulse Rate 2times10-
CTA報告90 高橋講演
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
波長405 nsの
レーザーダイオード
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
アナログメモリ式
ADC
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
8本を同時に測定
(内2本はreference)
6本1時間のペースで測定較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
波長405 nsの
レーザーダイオード
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
アナログメモリ式
ADC
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
8本を同時に測定
(内2本はreference)
6本1時間のペースで測定較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
試験効率のための自動化
光量調整
HV調整
DAQ
解析
データベースへ登録
(mySQL)
較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
8本を同時に測定
(内2本はreference)
6本1時間のペースで測定較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験系
2014年天文学会秋期永吉講演132014年秋期物理学会高橋講演
8本を同時に測定
(内2本はreference)
6本1時間のペースで測定較正試験用高速パルサーレーザー 猪目報告
波長405 nsの
レーザーダイオード
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
運用HVの測定
G = P0 + P1( )P2V-350
8
微量な光量を照射して131peの分布からゲインを取得
微量な光量で測定
数十pe相当の
光量を照射
ゲイン4times104
pedestal
1pe
2pe
CTA報告90 高橋講演
rarr統計が稼げない
試験効率化のために13光量を較正してゲインを取得
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
アフタパルスの測定
Cs+CH4+H+
He+
primary pulseafterpulse
1 us1 us 1 us 1 usADC による制限
3 us 程度までは伸びている
4us を測定すると1本のPMTにつき
4回の測定が必要となる
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
~ 952
前半の測定として90本 pick up して 4usで測定
発生するアフタパルスは
ほとんどが2usの範囲に収まっている
rarr後半の測定では2usまでを測定し値を補正
アフタパルスの測定
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験状況
932本1855本のPMTの試験が終了
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-運用HV-
VoltHpkage [ V ] 850 900 950 1000 1050 1100 1150
Pmts
0
10
20
30
40
50 initial adjusted平均 1037V
RMS 2743 V
平均 928V
RMS 3153 V
PMTs
Voltage
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-パルス幅-
requ
irem
ent
平均 283 ns
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
試験結果-アフタパルス発生率-
requ
irem
ent
平均 92times10-5 pe
PMTs
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
まとめ
FPIに使用される1855本のPMT moduleの13約半数932本のPMTの試験が終了13
試験したPMTの平均パルス幅は13要求の3ns 以下を満たしている13
アフタパルス発生率は13要求値満たしている13
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT
JPS早稲田大学 Mar 21 2015
今後
残りの約半数のPMTについての試験を行う13性能の良いPMTを中心に固める場合と13
散らす場合でのFPIの性能を比較し PMT配置を最適化する
or
アフタパルス発生率が13高いPMTは散らす
焦点面カメライメージ
Fine
Good 量子効率が高く
パルス幅が細いPMT