Centro de Microscopía del IFIR
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nanopartículas de SiO 2 Centro de Microscopía del IFIR Dra. Silvina Hereñu- Responsable . [email protected] Dra. M. Florencia Giordana- Responsable. [email protected] Se brindan servicios de observación de muestras para toda la comunidad de Ciencia y Tecnología y el Sector Productivo. En 2019 se dictó el primer curso sobre Técnicas Avanzadas en Microscopía Electrónica de Transmisión y Barrido (STEM), dirigido a profesionales en Ciencia de Materiales, en el Centro de Microscopia del IFIR. acero tejido nanopartículas de Ag aleación Preparación de muestras Metalizadora (Edwards) Limpiadora por ultrasonido (Cole-Parmer) Vibradora-pulidora (Vibromet 2) Incluidora (Prazis) glóbulos rojos granos de polen acero hueso Detector EDS Ultramicrótomo (Power Tome XL, RMC) Adquirido recientemente a través del Sistema Nacional de Microscopía. Permitirá brindar servicio de preparación de muestras tanto biológicas como de ciencias de los materiales que requieren de la técnica de ultramicrotomía para poder ser observadas con el microscopio electrónico. Punzones de precisión Tec. Pablo Díaz- CPA. [email protected] Dra. Laura Buttigliero- CPA. [email protected] Pulidora (LecoSpectrum System 1000) Cortadoras de disco de diamante (Isomet) Micrómetro ( Mitutoyo) Electropulidora (TenuPol-5 Struers.) Lupa estereoscópica (Aracano-Modelo ZTX 745L) Equipamiento Microscopios Integrantes Prestación de Servicios Capacitación Microscopio Electrónico de Transmisión con unidad de Barrido (STEM) • Marca y modelo: JEOL S/TEM JEM 2100 plus • Voltaje: 200 kV (variable) • Filamento: LaB 6 • Pieza polar de alta resolución (HRP) - Resolución: 0.23 nm. Angulo de inclinación en los ejes: X: ±35°, Y: ±30° Adquirido en 2017 a través de la Agencia Santafesina de Ciencia, Tecnología e Innovación. En servicio a partir marzo de 2018. Equipado con todas las técnicas analíticas para obtener información morfológica y estructural de la muestra. Cuenta con el detector anular de alto ángulo (HAADF), el cual permite obtener las imágenes de contraste por composición química o simplemente contraste Z (número atómico). Equipado con un sistema automático para realizar tomografía electrónica, que reconstruye imágenes 3D a partir de una serie de imágenes tomadas para distintas inclinaciones de la muestra. Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) • Marca y modelo: PHILIPS EM300, modelo 1968 • Voltaje: 100 kV (variable) • Filamento: W Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) • Marca y modelo: LEITZ AMR1000, modelo 1979 • Voltaje: 30 kV (variable) • Magnificación: x20 - 100.000 • Detector EDS para microanálisis, tipo SDD, marca OXFORD modelo X- MAX20, instalado en agosto 2015. • Resolución: 5 nm • Magnificación: x220 - 500.000 • Filamento: W • Resolución: 200 nm Bv 27 de Febrero 210 bis. Rosario. S2000EZP. Santa Fe. Argentina +54 (0341) 4853200 / 4853222 El Centro de Microscopía del IFIR-Instituto de Física de Rosario se encuentra adherido al Sistema Nacional de Microscopia SNM-MINCyT desde el año 2009 proteínas proteínas grano de polen 200 nm • Magnificación: x2000 - 1.500.000 500 nm 50 nm 0,5 μm 200 nm
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nanopartículas de SiO2
Centro de Microscopía del IFIR
Dra. Silvina Hereñu- Responsable . [email protected]. M. Florencia Giordana- Responsable. [email protected]
Se brindan servicios de observación de muestraspara toda la comunidad de Ciencia y Tecnología y elSector Productivo.
En 2019 se dictó el primer curso sobre TécnicasAvanzadas en Microscopía Electrónica de Transmisión yBarrido (STEM), dirigido a profesionales en Ciencia deMateriales, en el Centro de Microscopia del IFIR.
acero
tejidonanopartículas de Ag
aleación
Preparación de muestras
Metalizadora(Edwards)
Limpiadora por ultrasonido
(Cole-Parmer)
Vibradora-pulidora(Vibromet 2)
Incluidora(Prazis)
glóbulos rojos granos de polen
acero
hueso
Detector EDS
Ultramicrótomo(Power Tome XL, RMC)Adquirido recientemente a través del Sistema Nacional de Microscopía.Permitirá brindar servicio de preparación de muestras tanto biológicascomo de ciencias de los materiales que requieren de la técnica deultramicrotomía para poder ser observadas con el microscopio electrónico.
Punzones de precisión
Tec. Pablo Díaz- CPA. [email protected]. Laura Buttigliero- CPA. [email protected]
Pulidora(LecoSpectrumSystem 1000)
Cortadoras de disco de diamante (Isomet)
Micrómetro( Mitutoyo)
Electropulidora (TenuPol-5 Struers.)
Lupa estereoscópica(Aracano-Modelo ZTX 745L)
Equipamiento
Microscopios
Integrantes
Prestación de Servicios
Capacitación
Microscopio Electrónico de Transmisión con unidad de Barrido (STEM)• Marca y modelo: JEOL S/TEM JEM 2100 plus• Voltaje: 200 kV (variable)• Filamento: LaB6
• Pieza polar de alta resolución (HRP) - Resolución: 0.23 nm. Angulo deinclinación en los ejes: X: ±35°, Y: ±30°
Adquirido en 2017 a través de la Agencia Santafesina de Ciencia, Tecnología eInnovación. En servicio a partir marzo de 2018.Equipado con todas las técnicas analíticas para obtener informaciónmorfológica y estructural de la muestra. Cuenta con el detector anular de altoángulo (HAADF), el cual permite obtener las imágenes de contraste porcomposición química o simplemente contraste Z (número atómico). Equipadocon un sistema automático para realizar tomografía electrónica, quereconstruye imágenes 3D a partir de una serie de imágenes tomadas paradistintas inclinaciones de la muestra.
Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM)• Marca y modelo: PHILIPS EM300, modelo 1968• Voltaje: 100 kV (variable)• Filamento: W
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM)• Marca y modelo: LEITZ AMR1000, modelo 1979• Voltaje: 30 kV (variable)• Magnificación: x20 - 100.000• Detector EDS para microanálisis, tipo SDD, marca OXFORD modelo X-
MAX20, instalado en agosto 2015.
• Resolución: 5 nm• Magnificación: x220 - 500.000
• Filamento: W• Resolución: 200 nm
Bv 27 de Febrero 210 bis. Rosario.S2000EZP. Santa Fe. Argentina+54 (0341) 4853200 / 4853222
El Centro de Microscopía del IFIR-Instituto de Física de Rosario se encuentraadherido al Sistema Nacional de Microscopia SNM-MINCyT desde el año 2009
proteínas
proteínas
grano de polen
200 nm
• Magnificación: x2000 - 1.500.000
500 nm 50 nm
0,5 µm 200 nm
